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公开(公告)号：CN1271242C
公开(公告)日：2006-08-23
申请号：CN03142233.0
申请日：2003-08-13
Applicant: 复旦大学
Inventor： 严学俭
IPC: C23C16/27 , C23C16/513
Abstract: 本发明为一种类金刚石薄膜的制备方法及其相应的制备装置。它以碳氢化合物气体甲烷作为碳源，采用等离子体分解结合高能离子轰击技术，在经过清洗的待镀基体上沉积得到类金刚石薄膜。本发明制备设备简单，无需专门的安全防卫设施，成膜条件宽泛，制造成本降低，获得的碳膜具有类似金刚石的红外波段透明，电绝缘性能良好等特性，作为超硬材料，其显微硬度优于传统的TiN和TiC等硬质膜，在机械加工、医疗器械、电子工业和装饰行业等领域有广泛的实际应用。
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公开(公告)号：CN1476948A
公开(公告)日：2004-02-25
申请号：CN03141617.9
申请日：2003-07-15
Applicant: 复旦大学 , 上海恒久工具实业有限公司
Abstract: 本发明为一种多元复合镀层切削刀具。它以切削刀具为基体，其上先镀覆一过渡层Ti膜，然后依次镀覆n层TiN膜和TiCN膜复合硬质镀层。其中，Ti膜厚度为50－100nm，每层TiN膜厚度为100－300nm，每层TiCN膜厚度为1000－1600nm，n取1－4。上述结构的多元复合镀层可采用多弧源离子镀膜法制备。本发明制备切削刀具，其复合硬质镀层为紫铜色，有金属光泽，显微硬度达2600－3300kgf/mm2，其抗磨损性能有明显增强，使用寿命明显提高。
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公开(公告)号：CN101256070A
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200810036160.6
申请日：2008-04-17
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于测量技术领域，具体为一种无损伤的测定原子力显微镜探针形态参数的方法。通过用待测探针分别扫描分散状聚苯乙烯微球和密排状聚苯乙烯微球，获取一定参数后，用扫描时探针和微球的几何关系所确定的方程式来计算即可求得待测探针的针尖曲率半径r和锥角θ。本发明还阐述了微球样品的制备方法。本发明操作简单，花费的成本与时间少，测试精度高，结果可靠。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100389918C
公开(公告)日：2008-05-28
申请号：CN03141617.9
申请日：2003-07-15
Applicant: 复旦大学 , 上海恒久工具实业有限公司
Abstract: 本发明为一种多元复合镀层切削刀具。它以切削刀具为基体，其上先镀覆一过渡层Ti膜，然后依次镀覆n层TiN膜和TiCN膜复合硬质镀层。其中，Ti膜厚度为50—100nm，每层TiN膜厚度为100—300nm，每层TiCN膜厚度为1000—1600nm，n取1—4。上述结构的多元复合镀层可采用多弧源离子镀膜法制备。本发明制备切削刀具，其复合硬质镀层为紫铜色，有金属光泽，显微硬度达2600—3300kgf/mm2，其抗磨损性能有明显增强，使用寿命明显提高。
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公开(公告)号：CN1487118A
公开(公告)日：2004-04-07
申请号：CN03142233.0
申请日：2003-08-13
Applicant: 复旦大学
Inventor： 严学俭
IPC: C23C16/27 , C23C16/513
Abstract: 本发明为一种类金刚石薄膜的制备方法及其相应的制备装置。它以碳氢化合物气体甲烷作为碳源，采用等离子体分解结合高能离子轰击技术，在经过清洗的待镀基体上沉积得到类金刚石薄膜。本发明制备设备简单，无需专门的安全防卫设施，成膜条件宽泛，制造成本降低，获得的碳膜具有类似金刚石的红外波段透明，电绝缘性能良好等特性，作为超硬材料，其显微硬度优于传统的TiN和TiC等硬质膜，在机械加工、医疗器械、电子工业和装饰行业等领域有广泛的实际应用。
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公开(公告)号：CN102680504A
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN201210145234.6
申请日：2012-05-11
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于材料微分析领域，具体涉及一种表征超硬立方氮化硼CBN切削刀具磨损形式的方法。其特征是包括以下步骤：(1)采用扫描电子显微镜SEM确定CBN刀具的主切削刃的磨损区域和未磨损区域；(2)利用能量分散谱仪EDS对磨损区域和未磨损区域分别进行能谱分析，比较不同区域内各成分的原子比，从而分析切削刀具的磨损形式。其表征切削刀具磨损形式的方法简单、准确，便于我们在准确理解切削磨损的微观机制的基础上，通过优化刀具的切削参数，改进刀具，使刀具的抗磨损性能提高，从而增加刀具的切削效率和使用寿命。
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公开(公告)号：CN101256070B
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200810036160.6
申请日：2008-04-17
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于测量技术领域，具体为一种无损伤的测定原子力显微镜探针形态参数的方法。通过用待测探针分别扫描分散状聚苯乙烯微球和密排状聚苯乙烯微球，获取一定参数后，用扫描时探针和微球的几何关系所确定的方程式来计算即可求得待测探针的针尖曲率半径r和锥角θ。本发明还阐述了微球样品的制备方法。本发明操作简单，花费的成本与时间少，测试精度高，结果可靠。
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公开(公告)号：CN101256133A
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200810036162.5
申请日：2008-04-17
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于扫描探针显微镜技术领域，具体为一种扫描探针显微镜三维校准用胶体球标样的制备方法。本发明采用改进的垂直沉积方法，将一片新鲜解离的云母基片垂直插入适当浓度的单分散胶体球溶液中，将垂直沉积系统置入恒温恒湿箱中，严格控制箱内温度和湿度，直至溶液完全挥发，即可获得类光栅状单层有序密排胶体球标样，该标样可用于扫描探针显微镜X、Y和Z方向压电扫描管的校准。
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