GaN器件的可靠性测试方法、装置和系统

    公开(公告)号:CN109596961B

    公开(公告)日:2021-10-15

    申请号:CN201811234489.3

    申请日:2018-10-23

    Abstract: 本申请涉及一种GaN器件的可靠性测试方法、装置和系统。可靠性测试方法通过获取GaN器件的瞬时电流曲线;其中,瞬时电流曲线为GaN器件经施加脉冲信号得到;脉冲信号为脉冲宽度小于或等于1微秒的信号。基于瞬时电流曲线进行分析,得到GaN器件的可靠性分析结果。脉冲宽度小的脉冲信号可向GaN器件施加短脉冲电应力,GaN器件的栅极区域可以施加较大的瞬态累加电压应力;同时,实时监测、分析每个短脉冲电应力后GaN器件的电流波形,可获取器件退化、失效的动态全过程行为。本申请实施例的测试方法简单、易操作,在短脉冲的条件下,可施加比传统测试方法更高的电压强度,能够分析器件的可靠性,比对不同器件结构参数之间的优劣性。

    磁场检测模块及磁场探头
    22.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109884561B

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN201910250531.9

    申请日:2019-03-29

    Abstract: 本发明涉及一种磁场检测模块及磁场探头,磁场检测模块包括设有带状线、第一共面波导传输线、第二共面波导传输线以及探测孔缝的PCB板。带状线的导体带包括感应部、第一连接部和第二连接部。第一共面波导传输线包括第一中心导带和第一接地导带;第二共面波导传输线包括第二中心导带和第二接地导带。感应部在PCB板上的正投影半包围探测孔缝在PCB板上的正投影;感应部的第一端连接第一连接部的第一端,感应部的第二端连接第二连接部的第一端。第一中心导带的第一端连接第一连接部的第二端,第一中心导带的第二端用于连接外部信号分析设备。第二中心导带的第一端连接第二连接部的第二端,第二中心导带的第二端用于连接外部信号分析设备。

    电磁场复合探头和探测系统

    公开(公告)号:CN112526221A

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN202011154645.2

    申请日:2020-10-26

    Abstract: 本发明涉及电磁检测技术领域,公开了一种电磁场复合探头和探测系统。所述电磁场复合探头,包括设有若干屏蔽接地通孔的PCB板,所述PCB板包括信号探测部和信号传输部;所述信号探测部包括硅基探头,所述硅基探头上设置有一探测线圈,所述探测线圈与所述信号传输部相连接构成一探测环路,所述探测环路用于探测待测件的电磁场得到得到射频信号;所述信号传输部,与所述信号探测部相连接,用于将得到的所述射频信号以预设特性阻抗的形式传输出去。由于所述硅基探头上能够设计尺寸很小的探测环路,因而能够较好地提高所述电磁场复合探头的探测灵敏度,同时还能提高所述电磁场复合探头的空间分辨率。

    GaN器件的可靠性测试方法、装置和系统

    公开(公告)号:CN109596961A

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201811234489.3

    申请日:2018-10-23

    CPC classification number: G01R31/2603

    Abstract: 本申请涉及一种GaN器件的可靠性测试方法、装置和系统。可靠性测试方法通过获取GaN器件的瞬时电流曲线;其中,瞬时电流曲线为GaN器件经施加脉冲信号得到;脉冲信号为脉冲宽度小于或等于1微秒的信号。基于瞬时电流曲线进行分析,得到GaN器件的可靠性分析结果。脉冲宽度小的脉冲信号可向GaN器件施加短脉冲电应力,GaN器件的栅极区域可以施加较大的瞬态累加电压应力;同时,实时监测、分析每个短脉冲电应力后GaN器件的电流波形,可获取器件退化、失效的动态全过程行为。本申请实施例的测试方法简单、易操作,在短脉冲的条件下,可施加比传统测试方法更高的电压强度,能够分析器件的可靠性,比对不同器件结构参数之间的优劣性。

    电磁场复合无源探头
    27.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109596897A

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201811359615.8

    申请日:2018-11-15

    Abstract: 本申请涉及一种电磁场复合无源探头,包括:设有若干屏蔽接地通孔的PCB板;PCB板包括磁场探测部、电场探测部以及信号传输部;信号传输部通过磁场探测部连接电场探测部;磁场探测部包括在相应布线层布线的磁场线圈;电场探测部包括在相应布线层布线的电场探针;信号传输部包括转换通孔,以及在相应布线层布线的带状线和CB-CPW传输线;带状线的第一端通过磁场线圈连接电场探针,第二端依次通过转换通孔和CB-CPW传输线连接外部信号分析接口。基于上述结构,探头具有较高的带宽,较高的隔离度,能够在较大动态范围内将被测物的近电场和近磁场分离出来,从而实现电场和磁场的探测。

    器件失效定位分析方法
    29.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112285611B

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202010983672.4

    申请日:2020-09-18

    Abstract: 本申请涉及失效分析技术领域,具体公开一种器件失效分析定位方法,包括:对扫描探头进行校准,获取校准数据;控制扫描探头对待测器件进行扫描,并获得第一参数信息,第一参数信息用于表征待测器件扫描高度平面的电磁场信息;根据第一参数信息和校准数据,确定待测器件目标高度平面的电磁场信息;根据待测器件目标高度平面的电磁场信息,确定待测器件表面的电学分布;根据待测器件表面的电学分布,确定待测器件的失效位置。基于电磁注入和探测的原理,结合待测器件表面的电磁场信息实现对待测器件的失效位置的分析,相对于传统的失效分析方法而言,成本较低,且无需对待测器件进行破坏,整体失效定位方法可靠性较高。

    电磁干扰注入装置、系统以及方法

    公开(公告)号:CN116298639B

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202310375693.1

    申请日:2023-04-10

    Abstract: 本申请涉及一种电磁干扰注入装置、系统以及方法。该电磁干扰注入装置包括:电磁干扰注入探头,包括滤波组件、第一连接器、第二连接器和第三连接器,滤波组件的第一端与第一连接器连接,滤波组件的第二端分别与第二连接器、第三连接器连接,第一连接器用于与脉冲信号发生器连接,第二连接器用于与示波器连接,第三连接器用于与待测器件连接;处理组件,用于获取脉冲信号发生器的第一阻抗、脉冲信号发生器输出的初始脉冲信号的第一参数信息以及示波器接收的目标脉冲信号的第二参数信息,根据第一阻抗、第一参数信息和第二参数信息确定滤波组件的目标参数信息。因此,采用上述电磁干扰注入装置可以确定滤波组件的应采用参数信息。

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