非易失性半导体存储装置
    22.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1614783A

    公开(公告)日:2005-05-11

    申请号:CN200410089757.9

    申请日:2004-11-05

    CPC classification number: G11C17/16 H01L27/112 H01L27/11226

    Abstract: 一种可由用户方写入数字数据的ROM。在各存储晶体管上交替多个层积绝缘层、多个金属层(包含作为最上层的金属层的位线BL)的ROM的存储单元阵列MA中,在设置于第一层间绝缘层18的第一接触孔FC2内的W(钨)插塞上形成绝缘层INS。并且,本发明根据是否由从位线BL施加的规定的写入电压(高电压)对绝缘层INS进行绝缘破坏来向各存储晶体管写入数字数据“1”或“0”。

    光半导体集成电路装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN1435891A

    公开(公告)日:2003-08-13

    申请号:CN03101924.2

    申请日:2003-01-23

    CPC classification number: H01L29/66272 H01L27/0664 H01L27/1443 H01L31/105

    Abstract: 在具有纵向PNP晶体管和光电二极管的现有的光半导体集成电路装置中,因为同一衬底上形成特性不同的两个元件,所以很难同时提高两者的特性。在本发明的具有纵向PNP晶体管(21)和光电二极管(22)的光半导体集成电路装置中,通过非掺杂层叠了第一和第二外延层(24)、(25)。因此,在光电二极管中,能大幅度增加耗尽层形成区域,能实现高速响应。而在纵向PNP(21)晶体管中,用N+型的扩散区域(38)包围了晶体管(21)的形成区域。因此,能大幅度提高纵向PNP晶体管(21)的耐压性。

    电荷泵装置
    25.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1428860A

    公开(公告)日:2003-07-09

    申请号:CN02159814.2

    申请日:2002-12-27

    CPC classification number: H01L27/0218 H01L27/0623 H02M3/073

    Abstract: 一种电荷泵装置,可防止闭锁超载现象的发生,同时实现用于该装置的MOS晶体管的高耐压化。其将N型外延半导体层层积于在P型单晶硅基板50上成长的N型外延硅层51A上,在外延硅层51B中间隔设置P型阱区域52A、52B。在P型阱区域52A、52B间设置P型分离层58、59。而且,设置在P型阱区域52A、52B底部相接的P+型埋入层55,在P+型埋入层之下设置N+型埋入层56,将电荷转送用晶体管分别设置在P型阱区域52A、52B中。

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