基于图神经网络的路径时序预测方法

    公开(公告)号:CN117709258A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311711252.0

    申请日:2023-12-12

    Abstract: 本发明公开基于图神经网络的路径时序预测方法,属于计算,推算或计数的技术领域。该方法包括:提出一种将电路门级网表转化为电路时序路径图的方法,将时序路径上的门单元的特征用特征向量表示,通过邻接矩阵表示时序路径中门单元的连接关系;使用图神经网络和自注意力机制,通过输入时序路径的门单元特征向量和邻接矩阵,预测路径的延迟数据。将图神经网络和自注意力机制结合到静态时序分析中,进行延迟计算,保留了时序路径中门单元的连接拓扑关系,同时保留了时序路径中整条路径的全局信息,从而提高了神经网络的预测精度,进而提高时序分析精度和运行效率。

    基于现场测距信息的一键实时标定系统及标定方法

    公开(公告)号:CN109459724B

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN201811463201.X

    申请日:2018-12-03

    Abstract: 本发明公开了一种基于现场测距信息的一键实时标定系统及标定方法,标定系统包括定位系统后台和定位基站,定位基站包括定位测距模块、RF无线通讯模块、电源管理模块和第一网络通讯模块,定位系统后台由测距信息处理单元、第二网络通讯模块、基站ID信息编/解码单元、控制指令解析/执行单元和后端标定处理单元组成。本发明能够大大减轻现场部署标定的工作量,提升部署效率,同时最大限度减少人工测量的主观误差和出错风险;另外,系统能够借助定位系统的远程网络通讯功能实现远程标定,提升效率的同时降低了标定成本。

    基于深度学习的考虑MIS效应的单元统计延时模型构建方法

    公开(公告)号:CN116663465A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310739359.X

    申请日:2023-06-21

    Abstract: 本发明涉及集成电路技术,公开基于深度学习的考虑MIS效应的单元统计延时模型构建方法,属于计算、推算或计数的技术领域。该方法:在考虑SIS和MIS的情况下,对门单元进行SPICE MC仿真,获取不同条件下的MIS延迟和SIS延迟的均值和标准差;使用深度学习方法构建预测MIS延时均值与SIS延时均值的差值以及和MIS延时标准差与SIS延时标准差的差值的ANN模型,并揭示MIS延时和SIS延时的均值和标准差的差异的表示;将基于深度学习的模型集成到现有的时序库中。本发明通过利用深度学习预测MIS延时均值和SIS延时均值差异以及MIS延时标准差和SIS延时标准差的差异,实现考虑MIS效应的统计时序建模。

    一种基于忆阻器设计的通用型逻辑电路

    公开(公告)号:CN116488636A

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN202310456995.1

    申请日:2023-04-25

    Abstract: 本发明公开一种基于忆阻器设计的通用型逻辑电路,属于涉及脉冲技术的基本电子电路技术领域。该通用性逻辑电路包括:第一忆阻器、第二忆阻器、第三忆阻器、第四忆阻器、第一电阻、第二电阻、第一NMOS管、第二NMOS管。在输入逻辑电平信号后,本发明的逻辑电路可以工作于四种多逻辑输出模式,每一种逻辑输出模式下都可以同时输出四种不同逻辑运算结果,在实现多输出逻辑计算的同时,减少了晶体管的数量,降低了功耗和延迟,提高了逻辑电路的集成度,为应用忆阻器在实现数字逻辑运算方面提供了一种新的思路。

    基于决策协商算法的多实例化分块布图下的顶层布线方法

    公开(公告)号:CN116467997A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202310520554.3

    申请日:2023-05-10

    Abstract: 本发明公开基于决策协商算法的多实例化分块布图下的顶层布线方法,有效解决多实例化分块布线难以布通、用时过长、路径过长等问题,属于计算、推算或计数的技术领域。本发明提出一种非均匀划分网格形式拟定备选点集,确定端点间布线的可选通道;通过决策提取和决策评价算法处理多实例化产生的路径冗余和短路问题,在候选决策集上通过改进BFS算法确定可行解,在可行解中循环进行决策评价,淘汰低分决策,确定曼哈顿路径最短的最优解。通过实验分析证明本发明所提方法在合理时间范围内可以解决多实例化模块的顶层布线问题,在路径长度方面得到了较优解。

    一种稳压器的控制电路、PCB板以及稳压器

    公开(公告)号:CN116449906A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202310721687.7

    申请日:2023-06-19

    Abstract: 本发明公开了一种稳压器的控制电路,包括电荷泵、箝位单元、电流源、电流镜单元和输出单元,所述箝位单元的一端连接外部输入电源和所述电荷泵,所述电流源与所述电流镜单元的一端连接,所述箝位单元的另一端、所述电流镜单元的另一端以及所述电荷泵分别与所述输出单元连接。本发明的稳压器的控制电路,通过电荷泵产生一个高于外部输入电源的输入电压的电压,使输出单元的工作电压Vth与箝位单元的工作电压VBR相近似,由于输出电压等于VBR‑Vth,即电荷泵的存在使输出单元的输出电压保持在较低值,且在一定电压范围内,输出单元的输出电压不受输入电压变化的影响,提高了输入电压的范围。

    一种复合电流源模型的单元延时计算方法

    公开(公告)号:CN115964973B

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202211720027.9

    申请日:2022-12-30

    Abstract: 本发明公开一种复合电流源模型的单元延时计算方法,属于计算、推算或计数的技术领域。该方法:读入时序路径的RC网表与标准单元库文件,获取时序单元库中相关单元管脚信息;设置分段电压阈值;将驱动器模型输入转换时间与输出负载带入,根据时序单元库信息在分段电压阈值处插值,拟合驱动器模型输出电压波形;计算输出电压波形延时及过渡时间,在过渡时间收敛时结束延时计算,在过渡时间未收敛时计算每段电压区间的有效电容后更新输出负载,迭代计算直到延时计算结果收敛。本发明能够快速且准确地计算单元延时,计算量小且运行时间短,优化了查表插值过程,使得单元延时计算简单高效。

    用于数字低压差线性稳压器的模拟相位补偿系统

    公开(公告)号:CN115268541A

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202210506995.3

    申请日:2022-05-11

    Abstract: 本发明公开了一种用于数字低压差线性稳压器的相位补偿系统,包括动态比较器、双向移位寄存器、PMOS功率晶体管阵列、负载电容器及负载电流源、模拟前馈路径和PMOS辅助前馈;模拟前馈路径包括电容器和电阻器,电容器第二端连接电阻器第一端,电阻器第二端接参考电压VREF;动态比较器为四输入动态比较器。本发明解决数字低压差线性稳压器中极限环振荡大导致输出电压纹波大的问题。

    一种2.5D Chiplet绑定后测试电路

    公开(公告)号:CN115020266A

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202210931419.3

    申请日:2022-08-04

    Abstract: 本发明公开一种2.5D Chiplet绑定后测试电路,属于半导体器件在制造或处理过程中的测试或测量的技术领域。该绑定后测试电路包括中介层专用TAP控制器、中介层测试接口电路和芯粒测试输出控制电路。中介层专用TAP控制器新增芯粒测试配置寄存器及其对应指令。中介层测试接口电路利用芯粒测试配置寄存器输出控制信号选择中介层和芯粒之间测试信号通道的开启或关闭。芯粒测试输出控制电路利用芯粒测试配置寄存器输出控制信号控制中介层上芯粒的测试数据输出。本发明满足2.5D芯粒的绑定后测试要求,可以自定义地选择单个或多个芯粒进行绑定后测试,不需修改芯粒原始的测试结构,通过中介层上的一组通用JTAG端口即可实现。

    一种集成电路扫描测试向量生成方法

    公开(公告)号:CN112666451B

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN202110273673.4

    申请日:2021-03-15

    Abstract: 本发明公开了一种集成电路扫描测试向量生成方法,包括,读入网表文件,生成故障列表,随机测试向量生成模块启动,随机生成测试向量并删除所覆盖到的故障,生成新故障列表;启动基于伪分布式系统的MapReduce框架,分别在映射阶段和化简阶段对所述新故障列表执行自动测试向量生成和故障仿真操作;进行所述故障仿真时,消除冗余测试向量和精准控制覆盖率模块启动,将所述冗余测试向量舍去;若使能所述精准控制覆盖率模块,则判断所述测试向量的生成过程是否满足设定阈值,若满足,则自动停止。达到大幅减少测试成本的目的,通过实验分析,证明了本发明方法在时间及测试向量数量上得到大幅度的减少。

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