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公开(公告)号：CN100523783C
公开(公告)日：2009-08-05
申请号：CN200510108468.3
申请日：2005-09-30
Applicant: 株式会社拓普康
CPC classification number: A61B5/14546 , A61B5/0066 , A61B5/14551 , G01B9/02002 , G01B9/02007 , G01B9/02012 , G01B9/02069 , G01B9/02081 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01N21/21 , G01N21/3151 , G01N21/3563 , G01N21/359 , G01N21/4795 , G01N2021/1772 , G01N2021/1787 , G01N2201/0691
Abstract: 本发明提供一种可有效地形成用于显示生物组织的机能信息的图像的光图像计测装置。包括：使波长不同的光束(B1，B2)周期性地进行强度调制且交互输出的光束射出部(2)、将光束(B)转换为直线偏光的偏光板(3)、将光束(B)分割为信号光(S)和参照光(R)的半透镜(6)、将参照光(R)的偏光特性进行转换的波长板(7)、使参照光(R)的频率进行位移的频率位移器(8)、使信号光(S)和参照光(R)进行重叠并生成干涉光(L)的半透镜(6)、抽出干涉光(L)的复数个偏光成分的偏光分光器(11)、对所抽出的干涉光(L)的各偏光成分进行检测的CCD(21，22)、根据关于光束(B1，B2)利用CCD(21，22)分别进行检测的干涉光(L)的各偏光成分而形成被测定物体(O)的图像的信号处理部(20)。
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公开(公告)号：CN100493454C
公开(公告)日：2009-06-03
申请号：CN200510129539.8
申请日：2005-12-06
Applicant: 富士能株式会社
Inventor： 藤田宽
CPC classification number: A61B5/6852 , A61B5/0062 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , A61B5/7257 , G01B9/02007 , G01B9/02028 , G01B9/02044 , G01B9/0205 , G01B9/02091 , G01N21/45 , G01N21/4795
Abstract: 本发明公开一种光断层影像装置，其光源部使用波长频带互相不同并可同时射出的两个低可干涉光源(10、11)，该射出光，被2分为通过2×2耦合器(22)经由探针(30)而照射向被检体(71)的光束，和照射向为每个波长频带所设置的参照反射镜(23、24)的光束。照射向参照反射镜(23、24)的光束通过分色反射镜(26)而被分光，并作为参照光再次返回到2×2耦合器(22)，与来自被检体(71)的被检光合波。其后通过分光光学系统，而照射向光检测器(41)，并通过在信号处理部(65)中作信号处理，得到有关被检体(71)的不同部位的光断层影像。从而能够以极少的照射时间取得有关被检体的更多的断层影像信息。
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公开(公告)号：CN101273261A
公开(公告)日：2008-09-24
申请号：CN200680035612.8
申请日：2006-07-27
Applicant: 拜奥普蒂根公司
IPC: G01N21/47
CPC classification number: G01B9/02044 , A61B3/102 , A61B3/1225 , A61B5/0066 , G01B9/02004 , G01B9/02007 , G01B9/02008 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01N21/4795
Abstract: 频域光相干成像系统具有光源、光检测器以及光源与光检测器之间的光传输通路。光源与光检测器之间的光传输通路减小成像系统的有效线宽。光源可以是宽带源，以及光传输通路可包括周期性滤光器。
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公开(公告)号：CN1971202A
公开(公告)日：2007-05-30
申请号：CN200610090202.5
申请日：2006-07-05
Applicant: 安捷伦科技有限公司
Inventor： 艾伦·B·雷
IPC: G01B9/02
CPC classification number: G01B9/02067 , G01B9/02007 , G01B9/02051 , G01B2290/70
Abstract: 本发明提供了干涉仪和相应的系统，具有几个方面。在第一个方面，提供了一种适于将分离的第一光束和第二光束接收于其中的干涉仪，该干涉仪包括对于第一光束和第二光束基本等效的分离的第一光路和第二光路。在第二个方面，提供了一种适于将第一光束和第二光束作为分离的输入而接收于其中的干涉仪，其中这些光束直到刚刚由干涉仪输出之前都未混合或合并。在第三个方面，提供了一种干涉仪，它具有一个或多个光束阻挡器用于拦截外来的或不期望的光，并防止这些光混入各光束或与之干涉。
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公开(公告)号：CN1517672A
公开(公告)日：2004-08-04
申请号：CN200410002479.9
申请日：2004-01-20
Applicant: 富士写真光机株式会社
Inventor： 植木伸明
CPC classification number: G01B9/02057 , G01B9/02004 , G01B9/02007 , G01B9/02039 , G01B9/02063 , G01B9/02072 , G01B9/0209
Abstract: 斐索型干涉仪设备用于低相干性测量和高相干性测量。在利用低相干光通量辐照参考面和样本时，光程匹配通道把低相干光通量分成第一光程和第二光程，而传输通过这两个光程的各自光通量之间光程长差等于参考面与样本之间光程的两倍。在利用高相干光通量辐照参考面和样本时，在与低相干光通量同轴的位置上，使高相干光通量入射到光程匹配通道的样本侧。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1503059A
公开(公告)日：2004-06-09
申请号：CN200310119662.2
申请日：2003-11-27
Applicant: ASML荷兰有限公司
Inventor： W·O·普里尔 , E·A·F·范德帕斯奇 , R·F·狄龙 , P·D·肯肖
IPC: G03F7/20 , H01L21/027
CPC classification number: G03F7/70958 , G01B9/02007 , G01B9/02014 , G01B9/02027 , G01B9/0207 , G01B9/02074 , G01B2290/45 , G01B2290/60 , G01B2290/70 , G03F7/70775 , G03F7/70883
Abstract: 由于大气条件的变化，诸如压力、温度和扰动，使用来自二次谐波干涉仪的测量来校正干涉测量系统的测量结果。在使用SHI数据以前，去除代表SHI数据与光路长度关系的匀变。该SHI可以使用无源Q开关激光器作为光源，可以在接收模块使用布儒斯特棱镜。可以使用光纤来将光引导到探测器。反射测量束的镜子具有这样的涂层，即其厚度选择为使SHI数据对涂层厚度的变化的敏感性最小化。
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公开(公告)号：CN105942967B
公开(公告)日：2018-12-14
申请号：CN201610320352.4
申请日：2011-02-15
Applicant: 视乐有限公司
Inventor： 克劳斯·沃格勒 , 克里斯蒂安·维尔纳 , 克劳迪娅·格舍博特 , 克里斯托夫·德尼茨基
CPC classification number: G01B11/2441 , A61B3/1005 , A61B3/18 , A61B5/0035 , A61B5/0066 , G01B9/02007 , G01B9/02027 , G01B9/02044 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01N21/4795
Abstract: 本公开提供了一种借光学相干断层成像术测量对象的内部尺寸的系统和方法。所述系统包括：至少一个第一光学相干断层成像术OCT设备(OCT1)，被适配为测量所述对象(10)的第一部分体积(17)中的内部尺寸，以及至少一个第二OCT设备(OCT2)，被配置为测量同一所述对象(10)的第二部分体积(19)中的内部尺寸，其中，所述第二部分体积(19)至少部分不同于所述第一部分体积(17)，其中所述第一OCT设备(OCT1)被适配为发出发出第一辐射的第一光束(B1)，所述第一辐射具有在由第一工作波长(λ1)和第一带宽(Δλ1)限定的第一波长范围内的波长；其中所述第二OCT设备(OCT2)被适配为发出第二辐射的第二光束(B2)，所述第二辐射具有在由第二工作波长(λ2)和第二带宽(Δλ2)限定的第二波长范围内的波长。
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公开(公告)号：CN105942967A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610320352.4
申请日：2011-02-15
Applicant: 视乐有限公司
Inventor： 克劳斯·沃格勒 , 克里斯蒂安·维尔纳 , 克劳迪娅·格舍博特 , 克里斯托夫·德尼茨基
CPC classification number: G01B11/2441 , A61B3/1005 , A61B3/18 , A61B5/0035 , A61B5/0066 , G01B9/02007 , G01B9/02027 , G01B9/02044 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01N21/4795 , A61B3/102
Abstract: 本公开提供了一种借光学相干断层成像术测量对象的内部尺寸的系统和方法。所述系统包括：至少一个第一光学相干断层成像术OCT设备(OCT1)，被适配为测量所述对象(10)的第一部分体积(17)中的内部尺寸，以及至少一个第二OCT设备(OCT2)，被配置为测量同一所述对象(10)的第二部分体积(19)中的内部尺寸，其中，所述第二部分体积(19)至少部分不同于所述第一部分体积(17)，其中所述第一OCT设备(OCT1)被适配为发出发出第一辐射的第一光束(B1)，所述第一辐射具有在由第一工作波长(λ1)和第一带宽(Δλ1)限定的第一波长范围内的波长；其中所述第二OCT设备(OCT2)被适配为发出第二辐射的第二光束(B2)，所述第二辐射具有在由第二工作波长(λ2)和第二带宽(Δλ2)限定的第二波长范围内的波长。
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公开(公告)号：CN105737733A
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201610078210.1
申请日：2016-02-04
Applicant: 浙江理工大学
IPC: G01B9/02
CPC classification number: G01B9/02007 , G01B9/02005 , G01B9/02008 , G01B9/02062 , G01B9/02075 , G01B2290/60
Abstract: 本发明公开了一种大范围绝对距离测量中空气折射率的修正方法。采用基于激光单波长与合成波长的双色法实现绝对距离测量中空气折射率的自我修正。两个激光器分别输出波长固定和波长可调的激光光束，经激光干涉系统构建从大到小的合成波长链（每级合成波长之间满足级间过渡条件，且最小合成波长能过渡至单波长），分别对待测的绝对距离进行测量，得到精度逐渐提高的光学距离估计值；最小合成波长和单波长对应的光学距离同时得到，根据双色法空气折射率修正原理得到修正后的绝对距离。本发明适用的测距范围大、距离修正精度高，属于沿着实际测量光路的空气折射率全路径修正，且对温度、压强等环境参数的测量精度要求低，易于实现。
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公开(公告)号：CN105492860A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201580001345.1
申请日：2015-01-22
Applicant: 北京交通大学
CPC classification number: G01B11/272 , G01B9/02003 , G01B9/02007 , G01B9/02021 , G01B11/002 , G01B21/042 , G01B2290/70 , G01B11/00 , G01B11/26 , G01B11/27 , G01C1/00
Abstract: 一种可检测21项几何误差的激光测量系统，其特征在于，夹持工件部件和夹持刀具部件两者之一安装激光六自由度误差同时测量单元与激光光线转向单元，另一个安装几何误差敏感单元，所述的激光光线转向单元在安装状态下具有多个可切换的工作姿态或多部件组合，通过旋转或平移操作，将来自所述的激光六自由度误差同时测量单元的激光光束依次分光或转向到平行于X、Y、Z轴的方向上，并将来自所述的几何误差敏感单元的激光光束分光或转向到所述的激光六自由度误差同时测量单元。本发明结构简单、操作方便，一次安装、分步测量，可得到三个相互垂直的直线运动导轨的21项几何误差。(图3为摘要图)。
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