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公开(公告)号：CN111336963B
公开(公告)日：2021-05-18
申请号：CN202010231090.0
申请日：2020-03-27
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种基于双轴对称标准器的误差补偿方法包括以下步骤：将测量空间划分为若干测量区域；同一测量区域内的误差等级相同，随着测量范围扩大，测量误差以相同的线性变化系数增大；设τ误差等级对应的τ测量区域的线性变化系数为kτ，那么τ测量区域的相关系数为δτ＝1/kτ；根据标准器上节点所处的测量区域与相关系数匹配准则，为节点匹配相应的相关系数；节点的修正相关系数等于节点权重等级与匹配相关系数的乘积；根据修正相关系数来补偿各节点对应的误差测量值。以本发明的基于双轴对称标准器的误差补偿方法为基础，本发明还公开了局域性测量误差评价方法与整体性测量误差评价方法。本发明能够提高误差检测的准确性，提高测量误差评价的代表性和说服力。
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公开(公告)号：CN111272068A
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN202010113505.4
申请日：2020-02-24
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明公开了协作多臂测量系统的联合误差评价、检测方法与系统，评价方法根据参考臂与其余控制臂的空间夹角进行数据转化，得到其余控制臂在参考臂位姿下的翻转数据；利用翻转数据与参考臂在有效视场范围内对同一标准的采样数据进行联合误差评价；检测系统包括翻转机构与角度跟踪系统，检测方法包括调节翻转机构使标准器转动到第i个控制臂的有效视场范围内，利用角度跟踪系统获取标准器相对于参考位置的参考翻转角度αi；根据参考翻转角度αi对各个控制臂采集的数据进行转换。本发明解决了协作多臂多传感器测量系统非同构空间的传感器高质量采样和联合测量误差的评测问题。
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公开(公告)号：CN111238372A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN202010113496.9
申请日：2020-02-24
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种双复合式坐标测量系统的联合位置误差的同步检测方法，能够将两个联合位置误差溯源到同一激光干涉系统上，采用激光干涉系统建立参考坐标系，获取参考坐标系分别关于第一子坐标系、第二子坐标系的旋转关系；根据旋转关系将检测点在子坐标系中的位置坐标转换到参考坐标系中，得到旋转位置坐标；根据旋转位置坐标进行数据拟合，得到被测标准单元的拟合中心坐标；确定出被测标准单元中心点在参考坐标系中的参考位置坐标，作为被测标准单元中心点的实际位置坐标；以被测标准单元中心点的实际位置坐标为中心，作一个包含被测单元所有拟合中心坐标的最小外接球，所述最小外接球的直径作为联合位置误差。
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公开(公告)号：CN109682285A
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201811583350.X
申请日：2018-12-24
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
IPC: G01B5/16
CPC classification number: G01B5/166
Abstract: 本发明涉及一种多球自由组装式齿距样板，包括设有定心圆柱/圆球/圆锥的基座，围绕定心圆柱/圆球/圆锥均匀间隔分布有用于安放检测球的定位孔；定位孔的中心均位于在基平面内以定心圆柱/圆球/圆锥的中心点的水平投影为中心，以虚拟齿轮的分度圆的半径为半径的圆形曲线上；定位孔的孔数与虚拟齿轮的齿数一致；检测球采用含铁材料制成，基座内设有用于将检测球吸合固定在基座上的磁定位装置。本发明还提供一种多球自由组装式齿距样板的调校方法，用于调校定心圆柱/圆球/圆锥与各检测球所受到的磁力，使定心圆柱/圆球/圆锥与各检测球在仪器探头的探触下能在基平面上保持平衡。本发明能够根据测量需要组装成不同形式的齿距样板。
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公开(公告)号：CN119573588A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411650291.9
申请日：2024-11-19
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 一种基于透射古斯汉欣位移的一维光子晶体参数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：利用透射古斯汉欣位移测量装置测量一维光子晶体的透射TM偏振波的光点位置信息；步骤S2：根据光点位置信息，得到一维光子晶体的入射波长‑透射古斯汉欣位移关系曲线，并计算得到TM偏振波下的透射古斯汉欣位移；步骤S3：建立一维光子晶体结构参数的评价函数，将透射古斯汉欣位移、基底参数以及膜层折射率信息代入评价函数中，进行反演计算，以一维光子晶体的周期数及周期内各层厚度作为决策参量，根据评价函数的大小判断解的精确度，得到评价函数最小时一维光子晶体的结构参数向量a。效果：能够实现任何基底表面的一维光子晶体的快速、无损检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119354893A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411465217.X
申请日：2024-10-21
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 一种基于透射古斯汉欣位移和光谱联用的单层薄膜光学特性检测方法，其特征在于：包括S1：测量单层薄膜透射TM偏振波的光点位置信息；S2：数据处理得到入射波长‑透射古斯汉欣位移关系曲线；S3：测量单层薄膜的光谱信息；S4：判断单层薄膜的类型：薄膜类型为反射膜时进入S5，薄膜类型为透射膜时进入S6，薄膜类型为分束膜时进入S7；S5：判断单层薄膜为反射膜时，建立反射膜目标函数，计算得到全波段的反射膜参数向量；S6：判断单层薄膜为透射膜时，建立透射膜目标函数，计算得到全波段的透射膜参数向量；S7：判断单层薄膜为分束膜时，建立分束膜目标函数，计算得到全波段的分束膜参数向量。效果：提高了单层薄膜光学特性的测量效率和准确性。
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公开(公告)号：CN116576817A
公开(公告)日：2023-08-11
申请号：CN202310488957.4
申请日：2023-05-04
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
IPC: G01B21/20 , G01M13/021
Abstract: 本发明属于螺旋齿轮标准器技术领域，具体涉及一种螺旋线模拟方法、螺旋齿轮标准器模拟装置与校准方法，生成虚拟螺旋曲线，可移动受触点沿所述虚拟螺旋曲线运动。螺旋齿轮标准器模拟装置包括激光跟踪干涉仪、受触微元与坐标移动器；激光跟踪干涉仪生成虚拟螺旋曲线上的坐标点，能够提供并跟踪出高精度的坐标，从而保证所模拟出的螺旋齿轮标准器的精度。本发明摆脱了对实体齿轮的依赖，通过虚实结合的方式模拟出能够被触碰感知的螺旋线，大大降低了成本。本发明适用范围广，能够模拟出各种尺寸螺旋齿轮的螺旋线，且无需增加成本。
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公开(公告)号：CN109556548B
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN201811427274.3
申请日：2018-11-27
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
IPC: G01B21/04
Abstract: 本发明涉及一种用于检测联合误差的标准器，包括下表面为平面的底座，在所述底座上表面围绕同一中心点O环形分布有至少3个竖直的测量孔，并且测量孔的中心均在以中心点O为圆心、R为半径的圆形曲线上；所述测量孔由同轴线的锥孔和圆孔构成，锥孔的小端与圆孔一端连接，锥孔的小端直径等于圆孔直径；所述圆孔直径d为10mm≤d≤51mm，圆孔的高度c≤0.3mm，圆孔的圆度小于1μm；所述锥孔的锥角θ为30°≤θ≤60°。本发明还涉及一种联合误差检测方法，用于检测多传感器测量系统的联合误差，采用本发明的标准器进行联合误差检测。本发明解决了现有技术中的标准器不能定量检测联合误差量值的技术问题，能够用于定量检测联合误差量值，能够提高检测效率。
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公开(公告)号：CN112414353B
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202011249324.0
申请日：2020-11-10
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明公开了一种凸轮轴偏心误差修正方法，将工件装夹在仪器转台上，通过仪器顶尖竖向固定工件上的凸轮轴；在上、下工件基准的定位区域内分别选取标记点a0、b0；从初始位置0°开始，分别旋转工件至90°、180°和270°位置，仪器测头对标记点进行四次采样；分析仪器测头在四个采样位置时是否处于自身的可控范围内，若否，重新装夹工件；若是，则根据预先标定的仪器测头的最大探测误差确定凸轮轴的轴心线相对于仪器坐标系的Z轴的偏心修差量Δz；根据采样点分别计算凸轮轴的轴心线相对于仪器坐标系的X轴与Y轴的偏心修差量；根据偏心修差量将凸轮轴坐标系转换到仪器坐标。本发明解决了如何修正凸轮轴偏心误差的技术问题，为凸轮轮廓的准确采样打下基础，自动高效。
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公开(公告)号：CN111238372B
公开(公告)日：2021-05-25
申请号：CN202010113496.9
申请日：2020-02-24
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种双复合式坐标测量系统的联合位置误差的同步检测方法，能够将两个联合位置误差溯源到同一激光干涉系统上，采用激光干涉系统建立参考坐标系，获取参考坐标系分别关于第一子坐标系、第二子坐标系的旋转关系；根据旋转关系将检测点在子坐标系中的位置坐标转换到参考坐标系中，得到旋转位置坐标；根据旋转位置坐标进行数据拟合，得到被测标准单元的拟合中心坐标；确定出被测标准单元中心点在参考坐标系中的参考位置坐标，作为被测标准单元中心点的实际位置坐标；以被测标准单元中心点的实际位置坐标为中心，作一个包含被测单元所有拟合中心坐标的最小外接球，所述最小外接球的直径作为联合位置误差。
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