-
公开(公告)号：CN115391742B
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN202211136292.2
申请日：2022-09-19
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明属于齿距标准器技术领域，为解决传统齿距样板难以加工制造的技术问题，提供了一种齿距量值标定方法、齿距模拟标准器及其设计与制备方法，能够通过标准球模拟出具有齿距量值的标准器，假设采用的标准球的部分圆弧代替目标齿距样板中单齿的渐开线轮廓，根据标准球的水平投影圆与目标齿距样板的分度圆之间的几何关系，计算出水平投影圆的半径以及水平投影圆到坐标原点的距离分别作为标准球的设计半径与标准球的球心到高精度旋转台的中心轴线的设计距离；通过高精度旋转台的旋转角度对设计齿距角进行模拟，得到模拟齿距角；目标齿距样板的分度圆半径作为齿距模拟标准器的分度圆半径；模拟齿距角在分度圆上所对应的弧长即为齿距。
-
公开(公告)号：CN117848188A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202311704407.8
申请日：2023-12-13
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院 , 重庆理工大学
Abstract: 本发明公开了齿轮的跨棒距或棒间距的测量仪，包括仪器本体，仪器本体包括一对量棒，其特征在于：量棒的上段为圆锥形柱，圆锥形柱的顶端面的直径小于底端面的直径；量棒的下段为与上段同轴的圆柱；仪器本体还包括底部安装板、量棒横向间距调整结构和量棒升降高度调整机构；量棒横向间距调整结构固定安装在底部安装板上，并用于使得一对量棒之间能够沿同一水平直线方向相对靠近或远离；量棒升降高度调整机构用于固定安装在量棒横向间距调整结构上，并用于使得一对量棒保持竖直并能够在竖向上升降或固定。本发明还公开了测量仪的标定方法和使用方法。本发明的优点是：能够更好满足更多种不同型号齿轮(尤其是非标齿轮)的跨棒距或棒间距的测量需求。
-
公开(公告)号：CN111336964A
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN202010231096.8
申请日：2020-03-27
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种基于单轴对称标准器的误差补偿方法包括以下步骤：将测量空间划分为若干测量区域；同一测量区域内的误差等级相同，并且随着测量范围扩大，测量误差以相同的线性变化系数增大；设τ误差等级对应的τ测量区域的线性变化系数为kτ，那么τ测量区域的相关系数为δτ＝1/kτ；根据标准器上各节点所处的测量区域，为各节点匹配相应的相关系数；各节点的修正相关系数等于节点权重等级与匹配相关系数的乘积；根据修正相关系数来补偿各节点对应的误差测量值。以本发明的基于单轴对称标准器的误差补偿方法为基础，本发明还公开了局域性测量误差评价方法与整体性测量误差评价方法。本发明能够提高误差检测的准确性，提高测量误差评价的代表性和说服力。
-
公开(公告)号：CN119534404A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411565674.6
申请日：2024-11-05
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 一种基于透射古斯汉欣位移和光谱联用的多层薄膜光学特性检测方法，其特征在于：包括S1：测量多层薄膜透射TM偏振波的光点位置信息；S2：数据处理得到入射波长‑透射古斯汉欣位移关系曲线；S3：测量多层薄膜的光谱信息；S4：判断多层薄膜的类型：为增反膜时进入S5，为增透膜时进入S6，为分束膜时进入S7；S5：建立增反膜目标函数，计算得到增反膜目标函数最小时的增反膜参数向量；S6：建立增透膜目标函数，计算得到增透膜目标函数最小时的增透膜参数向量；S7：建立分束膜目标函数，计算得到分束膜目标函数最小时的分束膜参数向量。效果：提高了多层薄膜光学特性的测量效率和准确性。
-
公开(公告)号：CN117889796A
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN202311754149.4
申请日：2023-12-19
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明属于齿轮标准样板技术领域，具体涉及一种具有周期特征的直齿轮标准样板与仪器校准方法，包括本体，所述本体表面加工有直齿槽，所述直齿槽具有两个侧壁面，至少其中一个侧壁面的表面为根据齿轮参数设计的周期性起伏曲面。对所述具有周期特征的直齿轮标准样板上的直齿槽侧壁面进行采样，根据采样数据得到呈周期性起伏的拟合曲线，比较所述拟合曲线与理论曲线，根据拟合曲线与理论曲线的振幅偏差确定测量误差。本发明通过设置周期性起伏曲面使得采样路径在往一个方向偏离后，能够反向偏离回来，周期性重复消除采样路径的偏离，能够提高量值传递精度。本发明通过振幅偏差来表达误差，克服了因采样路径偏离带来的误差，能够更加准确的表达误差。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116754403A
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202310659629.6
申请日：2023-06-06
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明公开了一种不规则物件焊接面焊接强度测试装置，包括检测台，其上一侧固设有L形的固定架；模拟测试组件，安装于所述固定架上端；定位组件，转动设置在所述检测台上，且位于所述模拟测试组件下方，所述定位组件上装夹有待测试的五星脚；以及保护罩，其为透明材质设置有两组，所述保护罩滑动设置在所述检测台上端，且位于所述定位组件的两侧，各所述保护罩相对侧面上端开设有避让口。
-
公开(公告)号：CN112414352A
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN202011247233.3
申请日：2020-11-10
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明公开了凸轮轴上被测对象的采样位姿修正与轮廓形貌测量方法，第一次修正：将凸轮轴坐标系o0x0y0z0转换到仪器坐标OXYZ内；第二次修正：将凸轮轴中心轴线平移到被测对象中心点处，以保证仪器测头能够对被测对象进行正常采样，使得仪器测头能够在仪器坐标系内相对于平移后的凸轮轴中心轴线进一步修正采样位姿；第三次修正：计算被测对象相对于凸轮轴坐标系中的参考基准面的夹角偏差，根据所述夹角偏差将被测对象坐标系转换到仪器坐标系，使得仪器测头能够在仪器坐标系内相对于被测对象的轮廓修正采样位姿。修正采样位姿后获取采样数据并拟合出相应的轮廓形貌。本发明解决了在仪器坐标下下采样路径与被测对象真实轮廓曲线不匹配的问题。
-
公开(公告)号：CN116026279A
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202310213840.5
申请日：2023-03-08
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明公开了一种钣金件多角度焊点分析检测装置，包括工作台、检测组件以及固定夹具，所述固定夹具固设在所述工作台的上端，所述工作台的上端位于所述固定夹具的旁侧固设有驱动装置，所述驱动装置包括驱动箱，所述驱动箱上方滑动设置有滑架，所述检测组件设置有两组分别滑动设置在所述滑架的上下两端，各所述检测组件配设有驱动源能够沿所述滑槽进行移动，所述检测组件的旁侧转动设置有CCD相机，能够对钣金件上的焊点进行外观检测。
-
公开(公告)号：CN115391742A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202211136292.2
申请日：2022-09-19
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明属于齿距标准器技术领域，为解决传统齿距样板难以加工制造的技术问题，提供了一种齿距量值标定方法、齿距模拟标准器及其设计与制备方法，能够通过标准球模拟出具有齿距量值的标准器，假设采用的标准球的部分圆弧代替目标齿距样板中单齿的渐开线轮廓，根据标准球的水平投影圆与目标齿距样板的分度圆之间的几何关系，计算出水平投影圆的半径以及水平投影圆到坐标原点的距离分别作为标准球的设计半径与标准球的球心到高精度旋转台的中心轴线的设计距离；通过高精度旋转台的旋转角度对设计齿距角进行模拟，得到模拟齿距角；目标齿距样板的分度圆半径作为齿距模拟标准器的分度圆半径；模拟齿距角在分度圆上所对应的弧长即为齿距。
-
公开(公告)号：CN112414352B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202011247233.3
申请日：2020-11-10
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明公开了凸轮轴上被测对象的采样位姿修正与轮廓形貌测量方法，第一次修正：将凸轮轴坐标系o0x0y0z0转换到仪器坐标OXYZ内；第二次修正：将凸轮轴中心轴线平移到被测对象中心点处，以保证仪器测头能够对被测对象进行正常采样，使得仪器测头能够在仪器坐标系内相对于平移后的凸轮轴中心轴线进一步修正采样位姿；第三次修正：计算被测对象相对于凸轮轴坐标系中的参考基准面的夹角偏差，根据所述夹角偏差将被测对象坐标系转换到仪器坐标系，使得仪器测头能够在仪器坐标系内相对于被测对象的轮廓修正采样位姿。修正采样位姿后获取采样数据并拟合出相应的轮廓形貌。本发明解决了在仪器坐标下下采样路径与被测对象真实轮廓曲线不匹配的问题。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
23
records
(took 0.057 seconds)
