基于单轴对称标准器的误差补偿方法与测量误差评价方法

    公开(公告)号:CN111336964A

    公开(公告)日:2020-06-26

    申请号:CN202010231096.8

    申请日:2020-03-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于单轴对称标准器的误差补偿方法包括以下步骤:将测量空间划分为若干测量区域;同一测量区域内的误差等级相同,并且随着测量范围扩大,测量误差以相同的线性变化系数增大;设τ误差等级对应的τ测量区域的线性变化系数为kτ,那么τ测量区域的相关系数为δτ=1/kτ;根据标准器上各节点所处的测量区域,为各节点匹配相应的相关系数;各节点的修正相关系数等于节点权重等级与匹配相关系数的乘积;根据修正相关系数来补偿各节点对应的误差测量值。以本发明的基于单轴对称标准器的误差补偿方法为基础,本发明还公开了局域性测量误差评价方法与整体性测量误差评价方法。本发明能够提高误差检测的准确性,提高测量误差评价的代表性和说服力。

    用于校准微纳米坐标测量系统测量误差的标准装置

    公开(公告)号:CN111238426A

    公开(公告)日:2020-06-05

    申请号:CN202010113943.0

    申请日:2020-02-24

    Abstract: 本发明公开了用于校准微纳米坐标测量系统测量误差的标准装置,包括底座,底座上分布有标准单元,标准单元选择性的对称设置在半对称拓扑结构或全对称拓扑结构的节点上;全对称拓扑结构由半对称拓扑结构与镜像半对称拓扑结构组成。半对称拓扑结构包括位于同一中轴直线上的中心节点,相邻中心节点之间的拓扑长度均为l;每个中心节点均沿关于中轴直线呈θ夹角的斜直线依次衍生出多级衍生节点;相邻同级衍生节点之间的距离等于相邻中心节点之间的拓扑长度l;每个衍生节点均具有关于中轴直线对称的对称节点。解决现有技术中的标准器不能很好适应微纳米坐标测量系统测量范围跨度大与精度高的特点的技术问题。

    基于单轴对称标准器的误差补偿方法与测量误差评价方法

    公开(公告)号:CN111336964B

    公开(公告)日:2021-05-18

    申请号:CN202010231096.8

    申请日:2020-03-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于单轴对称标准器的误差补偿方法包括以下步骤:将测量空间划分为若干测量区域;同一测量区域内的误差等级相同,并且随着测量范围扩大,测量误差以相同的线性变化系数增大;设τ误差等级对应的τ测量区域的线性变化系数为kτ,那么τ测量区域的相关系数为δτ=1/kτ;根据标准器上各节点所处的测量区域,为各节点匹配相应的相关系数;各节点的修正相关系数等于节点权重等级与匹配相关系数的乘积;根据修正相关系数来补偿各节点对应的误差测量值。以本发明的基于单轴对称标准器的误差补偿方法为基础,本发明还公开了局域性测量误差评价方法与整体性测量误差评价方法。本发明能够提高误差检测的准确性,提高测量误差评价的代表性和说服力。

    多维度激光对中仪校准装置及校准方法

    公开(公告)号:CN116412841A

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202310473338.8

    申请日:2023-04-27

    Abstract: 本发明公开了一种多维度激光对中仪校准装置及校准方法,包括底板(1),该底板(1)上对称的设置有一对支撑架(2),两个支撑架(2)之间活动安装有校准支架(3),所述校准支架(3)上连接有角度调节机构(4);所述校准支架(3)内壁两侧对称安装有两个滑动驱动机构(5);每个所述滑动驱动机构(5)对应连接有一个激光对中仪安装架(6),所述激光对中仪安装架(6)上还设置有安装架旋转驱动机构(7),将激光对中仪测量单元安装于校准装置,通过角度调节机构(4)、滑动驱动机构(5)、安装架旋转驱动机构(7)实现至少三维运动控制,提高校准检测准确性。

    一种对刀仪示值误差校准装置及其校准方法

    公开(公告)号:CN116255890B

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202310018003.7

    申请日:2023-01-06

    Abstract: 本发明公开了一种对刀仪示值误差校准装置,涉及对刀仪校准领域,所述对刀仪上设置刀柄槽,所述校准装置包括径规和轴规,所述径规底部同轴设置标准锥度规,所述标准锥度规与刀柄槽结构匹配,所述径规由10个从上到下同轴设置的不同直径的标准圆柱组成,所述轴规包括芯轴和同轴设置的标准锥度规,所述芯轴轴向每隔一段距离开设环形槽,所述环形槽中竖向对称设置有标准陶瓷圆柱。能够准确的反应对刀仪的径向和轴向示值误差,结构简单,携带和安装方便,使用成本低。

    用于校准微纳米坐标测量系统测量误差的标准装置

    公开(公告)号:CN111238426B

    公开(公告)日:2021-06-15

    申请号:CN202010113943.0

    申请日:2020-02-24

    Abstract: 本发明公开了用于校准微纳米坐标测量系统测量误差的标准装置,包括底座,底座上分布有标准单元,标准单元选择性的对称设置在半对称拓扑结构或全对称拓扑结构的节点上;全对称拓扑结构由半对称拓扑结构与镜像半对称拓扑结构组成。半对称拓扑结构包括位于同一中轴直线上的中心节点,相邻中心节点之间的拓扑长度均为l;每个中心节点均沿关于中轴直线呈θ夹角的斜直线依次衍生出多级衍生节点;相邻同级衍生节点之间的距离等于相邻中心节点之间的拓扑长度l;每个衍生节点均具有关于中轴直线对称的对称节点。解决现有技术中的标准器不能很好适应微纳米坐标测量系统测量范围跨度大与精度高的特点的技术问题。

    一种对刀仪示值误差校准装置及其校准方法

    公开(公告)号:CN116255890A

    公开(公告)日:2023-06-13

    申请号:CN202310018003.7

    申请日:2023-01-06

    Abstract: 本发明公开了一种对刀仪示值误差校准装置,涉及对刀仪校准领域,所述对刀仪上设置刀柄槽,所述校准装置包括径规和轴规,所述径规底部同轴设置标准锥度规,所述标准锥度规与刀柄槽结构匹配,所述径规由10个从上到下同轴设置的不同直径的标准圆柱组成,所述轴规包括芯轴和同轴设置的标准锥度规,所述芯轴轴向每隔一段距离开设环形槽,所述环形槽中竖向对称设置有标准陶瓷圆柱。能够准确的反应对刀仪的径向和轴向示值误差,结构简单,携带和安装方便,使用成本低。

    便捷式液位计标定装置
    9.
    实用新型

    公开(公告)号:CN217276429U

    公开(公告)日:2022-08-23

    申请号:CN202221247680.3

    申请日:2022-05-20

    Abstract: 本实用新型公开了一种便捷式液位计标定装置,其特征在于,包括底座,所述底座上端安装有金属管组,所述金属管组上具有向外延伸的第一横管、第二横管、第三横管和第四横管,所述第一横管、第二横管、第三横管和第四横管在竖直平面内呈矩形分布且均与所述金属管组连通,所述第一横管与第二横管的端部之间固定安装有标准液位计,所述第三横管和第四横管的端部设置有快换结构,用于将待测液位计快速安装在第三横管和第四横管上。本实用新型的有益效果是:装置结构简单,能够实现方便快速地标定磁翻板液位计。

    一种角度编码器检测装置
    10.
    实用新型

    公开(公告)号:CN208140148U

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201820685761.9

    申请日:2018-05-09

    Abstract: 本实用新型公开了一种角度编码器检测装置,包括支承台、旋转平台、角度编码器转轴用夹具和角度编码器壳体用夹具;其特征在于:还包括齿轮、蜗杆、电机、丝杠、螺母、导轨、滑块、固定基座和激光干涉仪;齿轮安装在旋转平台上;蜗杆与齿轮啮合相连;该电机的转轴与蜗杆的一端同轴固定相连;丝杆的一端与蜗杆的另一端同轴固定相连;导轨为顺丝杆的长度方向设置的长条形结构,导轨上设置的滑块与丝杆上套装的螺母固定相连;激光干涉仪包括激光器、分束镜和反射镜;反射镜固定安装在滑块上,分束镜通过固定基座固定在支承台上。本实用新型的角度编码器检测装置具有结构较为简单,成本较低,能够具有高的静态测量精度及大范围角度连续测量的优点。

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