GaNHEMT射频器件及其栅极自对准制备方法

    公开(公告)号:CN105428236A

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201511025094.9

    申请日:2015-12-30

    CPC classification number: H01L29/7786 H01L29/66462

    Abstract: 本发明公开了一种GaN HEMT射频器件及其栅极自对准制备方法,涉及半导体器件的制作方法技术领域。包括以下步骤:材料结构从下到上包括半绝缘SiC衬底、AlGaN背势垒层、GaN沟道层、AlN插入层、InAlN势垒层;有源区台面隔离;临时栅脚制作;栅脚边墙制作;二次外延区域刻蚀;n+GaN二次外延;源漏极欧姆接触制作;表面平坦化;临时栅脚保形移除;T形栅制作。本发明采用栅极自对准工艺,可实现很小的栅源、栅漏间距,极大提高器件频率性能。还可以通过利用样品上已有图形对后续工艺进行尺度控制,仅通过一次电子束光刻即可得到多个纳米尺度的图形,极大节约了工艺成本。此外,此工艺精确度远远高于普通套刻工艺。

    基于双透射峰的金属矩形狭缝阵列结构等离子光纤传感器

    公开(公告)号:CN107478597A

    公开(公告)日:2017-12-15

    申请号:CN201710719825.2

    申请日:2017-08-21

    CPC classification number: G01N21/359

    Abstract: 本发明公开了一种基于双透射峰的金属矩形狭缝阵列结构等离子光纤传感器,包括金属薄膜以及开设在金属薄膜上的周期矩形狭缝阵列结构,单个周期矩形狭缝阵列结构为在金属薄膜中心处开设一个纵向矩形狭缝,在矩形狭缝一侧的上下端面处分别开设一个横向矩形狭缝,横向与纵向矩形狭缝的上下界面相互平齐,矩形狭缝宽度相等相互连通并贯穿金属膜上下表面形成统一的整体狭缝结构。本发明的传感器结构在近红外频段内具有高品质因数高透射率的双透射峰特性,并且通过修改相关结构参数可以达到调整双透射峰频谱位置与双透射峰间频谱间距的目的,从而可以实现利用率高、适用范围广、检测精度高、易于加工的等离子光纤传感器。

    一种光寻址电位传感器测量池

    公开(公告)号:CN102230912A

    公开(公告)日:2011-11-02

    申请号:CN201110067272.X

    申请日:2011-03-21

    Abstract: 本发明公开了一种光寻址电位传感器测量池,由正方形阵列(6)、圆孔(7)、正方形阵列(8)组成,正方形阵列(6)等间距排列在测量池(1)的顶盖上,正方形阵列(8)等间距排列在测量池底部,并与顶盖的正方形阵列上下对齐,一一对应;在硅片上涂覆不同的敏感膜就可以对溶液可以进行多参数、多点测量,还可以适用于同一溶液成分在不同测量域的浓度分布的测量。整体结构是标准的长方体,比依靠控制步进电机步进步数的方法结构简单,寻址精确,易于集成,而且容易操作。本发明解决了现有的光寻址传感器测量池存在外围控制和制造工艺复杂、操作麻烦、不能精确寻址的缺点。

    基于微腔耦合结构的等离子体弯曲波导滤波器

    公开(公告)号:CN106299564B

    公开(公告)日:2018-10-19

    申请号:CN201610963317.4

    申请日:2016-10-27

    Abstract: 本发明公开一种基于微腔耦合结构的等离子体弯曲波导滤波器,包括金属薄膜、以及开设在金属薄膜上的弯曲波导和谐振腔。弯曲波导由入射波导、中间波导和出射波导组成。谐振腔位于中间波导的其中一侧和/或两侧。本发明将直波导变成两个直角组成的弯曲波导,这样中间的中间波导可以形成一个F‑P腔;并且在中间的中间波导的两侧增加两个矩形谐振腔,利用表面等离激元SPP与谐振腔的共振耦合作用,通过调节谐振腔的长度,实现等离激元滤波功能;此外,还可以通过调节谐振腔与波导的间距、谐振腔的长度以及谐振腔的个数,来实现滤波和电磁感应透明效应,并能体现一种特殊的耦合效果。

    线性间距分布固定电荷岛SOI耐压结构及功率器件

    公开(公告)号:CN104269403B

    公开(公告)日:2017-08-22

    申请号:CN201410564342.6

    申请日:2014-10-22

    Abstract: 本发明公开一种线性间距分布固定电荷岛SOI耐压结构及功率器件,包括自下而上依次叠放的衬底层、介质埋层、有源层、以及多个浓度大于等于1×1013cm‑2的高浓度固定电荷区;这些高浓度固定电荷区由介质材料形成,且电荷极性为正;这些高浓度固定电荷区均位于介质埋层上部,且相互之间呈间断设置;在横向耐压方向上,每2个高浓度固定电荷区之间的间距呈线性递减或递增。本发明不仅可以大大提高介质埋层电场,从而有效提高耐压;而且工艺实现简单,与常规CMOS工艺完全兼容。

    基于微腔耦合结构的等离子体弯曲波导滤波器

    公开(公告)号:CN106299564A

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201610963317.4

    申请日:2016-10-27

    CPC classification number: H01P1/208

    Abstract: 本发明公开一种基于微腔耦合结构的等离子体弯曲波导滤波器,包括金属薄膜、以及开设在金属薄膜上的弯曲波导和谐振腔。弯曲波导由入射波导、中间波导和出射波导组成。谐振腔位于中间波导的其中一侧和/或两侧。本发明将直波导变成两个直角组成的弯曲波导,这样中间的中间波导可以形成一个F-P腔;并且在中间的中间波导的两侧增加两个矩形谐振腔,利用表面等离激元SPP与谐振腔的共振耦合作用,通过调节谐振腔的长度,实现等离激元滤波功能;此外,还可以通过调节谐振腔与波导的间距、谐振腔的长度以及谐振腔的个数,来实现滤波和电磁感应透明效应,并能体现一种特殊的耦合效果。

    线性间距分布固定电荷岛SOI耐压结构及功率器件

    公开(公告)号:CN104269403A

    公开(公告)日:2015-01-07

    申请号:CN201410564342.6

    申请日:2014-10-22

    Abstract: 本发明公开一种线性间距分布固定电荷岛SOI耐压结构及功率器件,包括自下而上依次叠放的衬底层、介质埋层、有源层、以及多个浓度大于等于1×1013cm-2的高浓度固定电荷区;这些高浓度固定电荷区由介质材料形成,且电荷极性为正;这些高浓度固定电荷区均位于介质埋层上部,且相互之间呈间断设置;在横向耐压方向上,每2个高浓度固定电荷区之间的间距呈线性递减或递增。本发明不仅可以大大提高介质埋层电场,从而有效提高耐压;而且工艺实现简单,与常规CMOS工艺完全兼容。

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