半导体器件
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1674263A

    公开(公告)日:2005-09-28

    申请号:CN200510005634.7

    申请日:2005-01-24

    Inventor: 谷江尚史

    CPC classification number: H05K7/1417 H01L2224/16225

    Abstract: 本发明的课题是提供确保半导体封装体与安装基板的连接部的疲劳寿命且可靠性高的半导体器件。本发明的半导体器件的特征在于:具有:半导体元件;安装了上述半导体元件的安装基板;以及经连接构件支撑上述安装基板的支撑构件,对于沿安装了上述半导体元件的上述安装基板的主面的方向,上述连接构件在上述元件的第一侧具有与上述安装基板连接的第一安装基板连接部,在经上述半导体元件与上述第一侧相对的第二侧具有与上述支撑构件连接的第一支撑构件连接部。

    试验夹具和试验方法
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115867777A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202180050206.3

    申请日:2021-03-02

    Abstract: 本发明的试验夹具使用仅能在1个轴向激振的振动发生装置,同时对供试件施加多个轴向的激振力,并且能容易地改变各轴向的激振力的比率。包括:与振动发生装置连接并在z轴方向上进行激振的振动发生装置连接部(1);与所述振动发生装置连接部(1)连接,并在与所述z轴方向交叉的x轴方向上呈悬臂状地延伸的第一振动板(2);与所述第一振动板(2)的x轴方向端部附近连接,并在与所述z轴方向和所述x轴方向交叉的y轴方向上呈悬臂状地延伸的第二振动板(3);以及设置有供试件,并经由所述第一振动板(2)和所述第二振动板(3)从所述振动发生装置连接部(1)接收振动的供试件设置部(5),所述第一振动板(2)和所述第二振动板(3)中的至少一个具有长度调节机构(6)。

    半导体器件
    15.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100459108C

    公开(公告)日:2009-02-04

    申请号:CN200510005634.7

    申请日:2005-01-24

    Inventor: 谷江尚史

    CPC classification number: H05K7/1417 H01L2224/16225

    Abstract: 本发明的课题是提供确保半导体封装体与安装基板的连接部的疲劳寿命且可靠性高的半导体器件。本发明的半导体器件的特征在于:具有:半导体元件;安装了上述半导体元件的安装基板;以及经连接构件支撑上述安装基板的支撑构件,对于沿安装了上述半导体元件的上述安装基板的主面的方向,上述连接构件在上述元件的第一侧具有与上述安装基板连接的第一安装基板连接部,在经上述半导体元件与上述第一侧相对的第二侧具有与上述支撑构件连接的第一支撑构件连接部。

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