公开(公告)号：CN115598483A

公开(公告)日：2023-01-13

申请号：CN202211113580.6

申请日：2022-09-14

Applicant: 上海精密计量测试研究所(CN)

Inventor： 陈凡 ,  孔泽斌 ,  楼建设 ,  王昆黍 ,  陈龙

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明提供了一种Pt传感器实时监测加电状态下功率二极管结温的方法，其特征在于，包括：S1：在PCB覆铜板上制备Pt薄膜电阻温度传感器；S2：确定该Pt薄膜电阻温度传感器电阻和温度的换算M系数；S3：制备芯片底部有Pt薄膜电阻温度传感器的功率二极管；S6：将功率二极管接入老化电路，实时监测Pt薄膜电阻温度传感器电阻，通过Pt薄膜电阻温度传感器监测加电状态下的二极管结温。本发明相比于只能测试器件表面温度的热电偶法，测温的可重复性和均一性更好；相比于红外法，不需要考虑表面封装材料发射率的影响，测试的芯片结温更准确；相比于热阻测试法，在二极管加电测试过程中无需进行热阻测试，就可解决传统测试无法实时监测二极管结温的不足。

公开(公告)号：CN115219870A

公开(公告)日：2022-10-21

申请号：CN202210746556.X

申请日：2022-06-28

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 陈凡 ,  毛志勇 ,  刘寅傲 ,  罗杰 ,  陈龙 ,  王昆黍

IPC: G01R31/26 ,  G01K7/02 ,  G01J5/00

Abstract: 本发明实施例提供了一种利用荧光胶温度计算高温老化LED芯片结温的方法，包括步骤：通过热电偶测试的LED荧光胶温度校准红外法测试的LED荧光胶温度，确定校准P系数；确定LED芯片的温度敏感参数K系数；采用热电偶P系数校准后的红外法重新测定荧光胶温度，采用瞬态热阻法测试芯片结温；单独改变恒温炉温度，确定其对校准红外法荧光胶温度‑瞬态热阻法芯片结温曲线的影响；单独改变加热电流，确定其对校准红外法荧光胶温度‑瞬态热阻法芯片结温曲线的影响；将LED接入老化电路，采用校准红外法测试荧光胶温度，结合荧光胶温度‑芯片结温曲线，计算LED芯片结温。本发明无需测试荧光胶发射率，解决了传统方法不能快速精确测定高温老化LED芯片结温的不足。

公开(公告)号：CN114429884A

公开(公告)日：2022-05-03

申请号：CN202111531871.2

申请日：2021-12-14

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 罗宇华 ,  陈龙 ,  张超 ,  曹书亮 ,  刘相全

IPC: H01H49/00

Abstract: 本发明实施例提供了一种矩形密封电磁继电器的开封方法，包括步骤：将继电器牢固的固定在精密铣床夹具上后，启动铣床后旋转手柄缓慢推进切割片，当切割片触碰到外壳后记录手柄位置，以每次不超过0.1mm的切削量推进切割片。罩壳四边切削完成后，用锉刀将罩壳四边激光熔焊凸起部分修挫平整。用锉刀修搓棱边距离底板约2mm处，修锉深度至罩壳与底板间露出一条密实的焊缝。将继电器移至洁净室进行最后的洁净检查，采用胶带清除切削面周围散落的所有多余物。放大30倍检查确认槽口及熔焊部位没有散落的多余物。用斜口钳在修锉的棱角处沿着露出的焊缝将罩壳撕开一个小口。用尖嘴钳夹紧撕开部分，沿着底板四周卷动罩壳激光熔焊处和槽口处的金属，将罩壳启封。

公开(公告)号：CN113820152A

公开(公告)日：2021-12-21

申请号：CN202110972644.7

申请日：2021-08-24

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 刘港港 ,  杜林 ,  楼建设 ,  江芸 ,  陈龙 ,  王昆黍 ,  朱美光

IPC: G01M99/00

Abstract: 本发明的微波器件电热应力自动化测试评价系统包括应力施加、检测控制、电源和数据处理等子系统；应力施加子系统搁置在鱼骨式支撑架上的隔热板上，由隔热板与风扇板构成可变风道；检测控制子系统和电源子系统位于隔热板下方，且与隔热板有间隔；电源与应力施加子系统用电源线互连，电源线上串有电流传感器；检测控制子系统中夹具与热台上设有温度传感器；检测控制子系统采集温度和电流的数据和并发送给数据处理子系统；数据处理子系统分析测量数据并发送反馈指令，由检测控制子系统控制电源、风扇和热台。本发明解决现有微波器件电热应力测试效率低、准确度低和可靠性低等问题。

公开(公告)号：CN207866969U

公开(公告)日：2018-09-14

申请号：CN201820238552.X

申请日：2018-02-10

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  杭州三海电子有限公司

Inventor： 徐广文 ,  洪森亮 ,  陈龙 ,  罗宇华 ,  黄立达 ,  朱敏蔚 ,  李春

IPC: G01R31/26

Abstract: 本实用新型涉及电子产品老练设备，具体涉及一种晶振高温老练设备。本实用新型中的一种晶振高温老炼设备，包括依次相连的匹配电路、运算放大器、电子开关、上位机和二级电源，晶振一侧与二级电源相连、另一侧与匹配电路相连；晶振工作电源、使能信号由二级电源提供；匹配电路包括放大器U2、第一电容C1、第三电阻R3、第五电阻R5、第九电阻R9、第十三电阻R13和第七电容C7。本实用新型的有益效果：可以同时测量不同类型、不同规格的晶振，在高温条件下的频率变化率和稳定度，不同晶振之间相互独立，避免干扰，数量最多可达1024枚，测量的精确度在2个PPM以内。