半导体装置
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108695377B

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN201711321445.X

    申请日:2017-12-12

    Abstract: 公开了一种半导体装置。所述半导体装置包括:鳍型有源区,从基底突出并且在第一方向上延伸;至少一个纳米片,与鳍型有源区的上表面分隔开并且面对鳍型有源区的上表面,所述至少一个纳米片具有沟道区;栅极,在鳍型有源区上沿与第一方向交叉的第二方向延伸并且围绕所述至少一个纳米片的至少一部分;源/漏区,在所述至少一个纳米片的两侧上位于鳍型有源区上;源极/漏极保护层,位于所述至少一个纳米片的侧壁上并且位于源/漏区与所述至少一个纳米片之间。

    集成电路装置
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109427783B

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN201810253757.X

    申请日:2018-03-26

    Abstract: 一种集成电路装置包括:第一鳍有源区,在与衬底的顶表面平行的第一方向上延伸;第二鳍有源区,在所述第一方向上延伸且在与所述第一方向不同的第二方向上与所述第一鳍有源区间隔开;栅极线,与所述第一鳍有源区及所述第二鳍有源区交叉;第一源极/漏极区,在所述第一鳍有源区中位于所述栅极线的一侧;以及第二源极/漏极区,在所述第二鳍有源区中位于所述栅极线的一侧且面对所述第一源极/漏极区,其中所述第一源极/漏极区的与所述第一方向垂直的横截面相对于所述第一源极/漏极区在所述第二方向上的中心线具有不对称形状,所述中心线在与所述衬底的所述顶表面垂直的第三方向上延伸。

    半导体器件
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108231765B

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN201711394204.8

    申请日:2017-12-21

    Abstract: 本发明构思涉及一种半导体器件。有源图案从衬底突出。有源图案包括第一有源图案、与第一有源图案间隔开第一距离的第二有源图案、以及与第二有源图案间隔开大于第一距离的第二距离的第三有源图案。栅极间隔物设置在跨越有源图案的栅电极的侧壁上。源极/漏极区域包括设置在有源图案中的一个的区域上的第一源极/漏极区域至第三源极/漏极区域。有源图案中的一个的所述区域邻近于栅电极的一侧设置。第一保护绝缘图案和第二保护绝缘图案分别设置在第一源极/漏极区域和第二源极/漏极区域下面的第一有源图案与第二有源图案之间以及在第二源极/漏极区域和第三源极/漏极区域下面的第二有源图案与第三有源图案之间的衬底上。

    半导体器件
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108231765A

    公开(公告)日:2018-06-29

    申请号:CN201711394204.8

    申请日:2017-12-21

    Abstract: 本发明构思涉及一种半导体器件。有源图案从衬底突出。有源图案包括第一有源图案、与第一有源图案间隔开第一距离的第二有源图案、以及与第二有源图案间隔开大于第一距离的第二距离的第三有源图案。栅极间隔物设置在跨越有源图案的栅电极的侧壁上。源极/漏极区域包括设置在有源图案中的一个的区域上的第一源极/漏极区域至第三源极/漏极区域。有源图案中的一个的所述区域邻近于栅电极的一侧设置。第一保护绝缘图案和第二保护绝缘图案分别设置在第一源极/漏极区域和第二源极/漏极区域下面的第一有源图案与第二有源图案之间以及在第二源极/漏极区域和第三源极/漏极区域下面的第二有源图案与第三有源图案之间的衬底上。

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