一种超宽带探地雷达控制系统

    公开(公告)号:CN108549301B

    公开(公告)日:2020-09-18

    申请号:CN201810592473.3

    申请日:2018-06-11

    Abstract: 本发明公开了一种超宽带探地雷达控制系统,包括同步时钟生成电路;GPS定位模块;测量轮编码器模块;用于等效采样的数控延时电路、ADC模数转换电路;以及主控制器。所述同步时钟生成电路,GPS定位模块,测量轮编码器模块,数控延时电路,模数转换电路均与主控制器相连接。所述的同步时钟生成电路还与外部超宽带雷达发射机相连。所述数控延时电路还与外部等效采样取样脉冲发生电路相连。所述ADC模数转换电路还与外部等效采样取样门相连。所述主控制器还通过以太网与外部服务器相连。本发明缩小了超宽带探地雷达控制系统的体积,简化了系统的连接线缆,提高了超宽带雷达系统可靠性。

    基于相关双采样和静电保护的微弱电流积分电路及保护方法

    公开(公告)号:CN111257606A

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN202010103194.3

    申请日:2020-02-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于相关双采样和静电保护的微弱电流积分电路及保护方法,包括静电保护电路、相关双采样电路;首先在清零阶段,电路中的电容连接复位电平信号,对所有电容进行复位;其次自归零阶段利用失调存储电容存储放大器的失调和低频噪声信息;放大阶段电流通过闭合的采样开关送入放大器,对信号进行放大。本发明采用静电保护电路保护内部电路不受静电干扰,相关双采样电路将输入电流信号转换成采样电容上的电压,通过失调存储电容存储放大器的失调和低频噪声信息,同时电路中的开关采用低漏电流开关结构,降低采样频率,从而获得更低电流分辨率,更低运放噪声。

    一种低电压SRAM时间参数的片上测量电路及测量方法

    公开(公告)号:CN111210865A

    公开(公告)日:2020-05-29

    申请号:CN202010311269.7

    申请日:2020-04-20

    Abstract: 本发明提供一种低电压SRAM时间参数的片上测量电路及测量方法,包括测量控制模块与时间测量模块,所述时间测量模块与测量控制模块连接,通过测量控制模块控制时间测量模块,所述测量控制模块基于存储器内建自测试模块,测量控制模块包含BIST控制逻辑、BIST测试向量生成逻辑以及时间测量控制模块,所述时间测量模块包含延迟单元,比较器和累加器。通过增添测量控制模块与时间测量模块,对大规模芯片内大批量SRAM测试,在进行MBIST测试的同时,也实现了对SRAM各个存储单元访问时间的测量,针对一个或者多个SRAM同时进行访问时间测量,实现“全速”自测量,测量结果准确,降低对ATE的依赖,有效降低测试成本。

    绝缘衬底上的硅和体硅横向功率二极管结构参数提取方法

    公开(公告)号:CN106021667B

    公开(公告)日:2020-03-31

    申请号:CN201610309703.1

    申请日:2016-05-11

    Abstract: 本发明提供了一种绝缘衬底上的硅和体硅横向功率二极管结构参数的提取方法。首先,在某一适当区间内测得不同衬底电压下的击穿电压,根据测试结果绘制击穿电压随衬底电压变化曲线图,提取曲线峰值对应的最优衬底电压Vsub。对于SOI横向功率二极管,根据公式和若已知顶层硅浓度、顶层硅厚度和埋氧层厚度中的任意两项,即可提取第三项。对于体硅横向功率二极管,根据公式和若已知外延层浓度、外延层厚度和衬底浓度中的任意两项,即可提取第三项。本发明为SOI和体硅横向功率二极管结构参数的提取提供了一种简单、非破坏性和高精度的方法。

    一种可用于探地雷达检测的超宽带脉冲产生电路

    公开(公告)号:CN108459304A

    公开(公告)日:2018-08-28

    申请号:CN201810565704.1

    申请日:2018-06-04

    Abstract: 本发明公开了一种可用于探地雷达检测的超宽带脉冲产生电路,包括前端输入、差动放大电路、整形网络、功率放大电路、后端输出、电源偏置电路。所述前端输入连接差动放大电路产生一个幅度较大的方波信号,信号经过整形网络产生一个纳秒级的窄脉冲信号,功率放大电路对其幅度和功率放大提高了脉冲信号的能量,最后通过输出后端产生一个超宽带脉冲信号。根据上述方案脉冲幅度可以达到10伏脉冲宽度为1纳秒周期10兆赫兹,具有较高的脉冲能量非常适合应用在无损检测中的信号发射部分。

    一种低电压跨导恒定轨到轨差分放大器

    公开(公告)号:CN107508567A

    公开(公告)日:2017-12-22

    申请号:CN201710757542.7

    申请日:2017-08-29

    Inventor: 陈超 蔡志匡

    CPC classification number: H03F3/4539 H03F3/45636 H03F2203/45062

    Abstract: 本发明公开了一种低电压跨导恒定轨到轨差分放大器,该放大器的互补输入级通过主从电路对尾电流进行实时补偿,以确保其电流恒定,主从电路在较宽电压范围内可保证输入差分对跨导恒定,共模检测电路根据输入共模电压选通互补差分对中的一组工作,从而在轨到轨输入下实现跨导恒定,基于以上结构特点,本发明的轨到轨差分放大器可工作在0.65V电压下,在整个轨到轨输入范围内实现了跨导恒定。

    一种谐振式InGaN量子阱集成微光机电加速度计装置及其制备方法

    公开(公告)号:CN119716141A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411914380.X

    申请日:2024-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种谐振式InGaN量子阱集成微光机电加速度计装置以及其制备方法,将硅基氮化物晶片作为载体,从下至上的结构依次为硅衬底层、氮化铝层、u型氮化镓层、n型氮化镓层、InGaN量子阱层、p型氮化镓层,并在p型氮化镓层的上方设置p型电极,在n型氮化镓层边缘的上方设置n型电极。在本发明中,利用光刻刻蚀工艺和ICP刻蚀工艺在硅衬底上的氮化物材料制备出两个拥有不同形状的谐振梁探测器和月牙形LED,通过具有月牙形LED的发光汇聚到高灵敏度谐振梁,在加速度负载下,谐振梁接收到的光电流周期性变化,通过周期性的共振频率可反推出对应的加速度大小,使具有高灵敏度长直谐振梁的探测装置产生震荡,使之产生周期性变化的电流,感知加速度大小。

    一种基于BIST的TSV测试诊断电路及方法

    公开(公告)号:CN119692268A

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202510206482.4

    申请日:2025-02-25

    Abstract: 本发明属于超大规模集成电路可测性设计技术领域,公开了一种基于BIST的TSV测试诊断电路及方法,提供了一种用于TSV测试和诊断的硬件电路架构,包含测试访问端口控制器、测试数据寄存器、测试向量生成器、移位寄存器、双边沿触发器、TSV测试控制器和改进的加载芯片包装寄存器、捕获芯片包装寄存器,其中测试访问端口控制器负责配置测试路径、测试模式和测试使能信号,测试使能经双边沿触发器同步后激活TSV测试控制器,控制基于无损压缩结构改进的芯片包装寄存器执行测试,实现故障高效检测与不同故障类型的诊断。本发明通过测试向量生成与响应压缩协作,有效降低了测试时间,为高效、可靠的TSV测试与诊断提供了创新性解决方案。

    一种基于人工神经网络的集成电路扫描链诊断方法及系统

    公开(公告)号:CN119224550B

    公开(公告)日:2025-03-18

    申请号:CN202411732755.0

    申请日:2024-11-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于人工神经网络的集成电路扫描链诊断方法及系统,该方法首先为集成电路扫描链中的每个扫描触发器注入随机的stuck at‑0和stuck at‑1两种故障,其中通过线性反馈移位寄存器生成为随机数得到故障的随机周期;然后执行自动测试向量生成,得到包含故障信息的pattern报告和对应的仿真日志;最后通过pattern报告和仿真日志得到整数故障向量和标签向量,将整数故障向量和标签向量输入到人工神经网络中进行训练和验证,通过训练好的人工神经网络预测得到集成电路扫描链中的故障位置。本发明生成随机周期故障,剔除异常数据,使用人工神经网络模型,有效减少人为误判和漏检的风险,实现精准预测。

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