一种绝缘体上应变薄膜结构及调节应变薄膜应力的方法

    公开(公告)号:CN104934294A

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201410100517.8

    申请日:2014-03-18

    CPC classification number: H01L21/7624 H01L29/06

    Abstract: 本发明提供一种绝缘体上应变薄膜结构,包括半导体衬底、形成于所述半导体衬底上的埋氧层及形成于所述埋氧层上的顶层应变半导体层;所述顶层应变半导体层中形成有预设图形微结构;所述微结构包括一主体及分布于所述主体边缘的至少两条桥线;所述微结构下方的埋氧层被挖空,所述微结构处于悬空状态;所述桥线处于拉伸状态。本发明通过图形化在绝缘体上应变半导体层中形成预设图形微结构,并通过腐蚀去除微结构下方的埋氧层,使得微结构悬空,得到了悬浮条件下顶层应变半导体层的应力分布,从而改变顶层半导体层中微结构本身的固有应力,实现应力的调控。通过切断微结构的部分桥线,可以进一步增加应力,制备得到高质量、大应力的纳米应变薄膜。

    一种制备柔性衬底上半导体亚微米带的方法及柔性光波导

    公开(公告)号:CN103058129B

    公开(公告)日:2015-07-01

    申请号:CN201310003760.3

    申请日:2013-01-06

    Abstract: 本发明提供一种基于边缘转移法制备柔性衬底上半导体亚微米带的方法及柔性光波导,将绝缘体上半导体衬底的顶层半导体刻蚀成间隔排列的半导体条结构;采用HF溶液将埋氧层腐蚀成多个支撑结构,使各该半导体条结构的两侧形成悬空的半导体带结构;将一PDMS衬底与各该半导体条结构进行保角性接触;将所述PDMS衬底朝预设方向掀起,使各该半导体带结构与各该半导体条结构脱离而转移至所述PDMS衬底;可通过所制备的半导体亚微米带制作柔性衬底上硅光波导。本发明首次提出通过控制绝缘体上半导体材料边缘腐蚀的方法实现半导体亚微米带向柔性衬底的转移;半导体亚微米带的宽度、排列可控性非常高,可应用于较高精度的器件的制作;方法简易有效且成本较低。

    一种低剂量注入制备绝缘体上半导体材料的方法

    公开(公告)号:CN104425341A

    公开(公告)日:2015-03-18

    申请号:CN201310382838.7

    申请日:2013-08-28

    CPC classification number: H01L21/76254

    Abstract: 本发明提供一种低剂量注入制备绝缘体上半导体材料的方法,包括步骤:1)于第一衬底表面外延一掺杂的单晶薄膜;2)外延一顶层半导体材料;3)沉积绝缘层;4)从所述绝缘层表面将剥离离子注入至所述单晶薄膜下方的第一衬底预设深度的位置;5)提供第二衬底,并键合所述第二衬底及所述绝缘层;6)进行退火处理,使所述单晶薄膜吸附所述剥离离子,最终使所述第一衬底与所述顶层半导体材料从该单晶薄膜处分离。本发明通过控制超薄单晶薄膜的离子掺杂控制其对注入离子的吸附作用,可以采用非常低的剂量注入便可实现智能剥离,而且剥离裂纹发生在超薄层处,裂纹很小,可获得高质量的绝缘体上半导体材料。

    张应变锗MSM光电探测器及其制作方法

    公开(公告)号:CN103985788A

    公开(公告)日:2014-08-13

    申请号:CN201410217764.6

    申请日:2014-05-21

    CPC classification number: Y02P70/521 H01L31/1808 H01L31/0352 H01L31/1085

    Abstract: 本发明提供一种张应变锗光电探测器及其制作方法,该方法至少包括以下步骤:S1:提供一衬底并在其上依次形成牺牲层及锗层;S2:在所述锗层上形成一金属层,所述金属层对所述锗层提供应力;S3:将所述金属层图形化,形成一对金属主基座及一对金属次基座;S4:将所述锗层图形化以在所述金属主基座及金属次基座下分别形成锗主基座及锗次基座,并在每一对锗次基座之间形成至少一条锗桥线;S5:腐蚀掉所述锗桥线下方及所述锗次基座下方的牺牲层,以使所述锗桥线及所述锗次基座悬空,该悬空的锗次基座在所述金属层的应力作用下卷曲使所述锗桥线拉伸,得到张应变锗MSM光电探测器。本发明可提高MSM光电探测器的光电探测性能。

    应变结构及其制作方法
    130.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103560157A

    公开(公告)日:2014-02-05

    申请号:CN201310583275.8

    申请日:2013-11-19

    CPC classification number: Y02P70/521 B81B3/0072 B81C1/00666

    Abstract: 本发明提供一种应变结构及其制作方法,该方法至少包括以下步骤:S1:提供一衬底,在所述衬底表面自下而上依次形成一牺牲层及一第一应力层;S2:将所述第一应力层图形化,形成桥状结构;所述桥状结构包括形成于所述牺牲层表面的一对基座及连接该一对基座的至少一根桥梁;S3:在一对所述基座表面形成第二应力层;S4:采用湿法腐蚀去除所述桥梁下方及所述基座相向两端下方的牺牲层,以使所述桥梁及一对所述基座相向两端悬空,该悬空的两端卷曲使所述桥梁拉伸,得到应变结构。本发明可以给一定范围内的任意材料施加高张应力,方法简单有效、与半导体工艺兼容,具有成本低,且制作速度快的优点。

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