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    基于阶梯相位反射镜与光开关阵列的红外干涉光谱仪
    111.
    发明公开
    基于阶梯相位反射镜与光开关阵列的红外干涉光谱仪 无效

    公开(公告)号：CN108120505A

    公开(公告)日：2018-06-05

    申请号：CN201711380878.2

    申请日：2017-12-20

    申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

    发明人： 梁中翥 ,  吕金光 ,  梁静秋 ,  孟德佳 ,  陶金 ,  王维彪 ,  秦余欣

    IPC分类号： G01J3/453 ,  G01J3/447 ,  G01J3/02

    摘要： 基于阶梯相位反射镜与光开关阵列的红外干涉光谱仪，涉及红外光谱探测与红外光谱分析技术领域，解决传统时间调制傅里叶变换红外光谱仪由于采用高精度的动镜驱动系统带来的体积大、重量沉等问题，并存在空间调制傅里叶变换红外光谱仪由于采用制冷型红外面阵探测器带来的成本高等问题，由光源、准直镜、分束器、横向阶梯相位反射镜、纵向阶梯相位反射镜、光开关阵列、聚焦镜和点探测器组成。本发明利用两个阶梯相位反射镜分别对被分束器分开的两个正交的相干光场进行分布式相位调制，并利用光开关阵列与点探测器对干涉光场进行振幅调制实现分步式选通和探测的光谱仪。本发明降低了成本，具有微小型化、轻量化、低成本、便携性好等优点。

    样品气体分析装置与样品气体分析装置用方法
    112.
    发明授权
    样品气体分析装置与样品气体分析装置用方法 失效

    公开(公告)号：CN103175786B

    公开(公告)日：2017-10-20

    申请号：CN201210551626.2

    申请日：2012-12-18

    申请人： 株式会社堀场制作所

    发明人： 板谷隆宏 ,  中谷茂

    IPC分类号： G01N21/3504 ,  G01J3/453 ,  G01J3/02

    CPC分类号： G16C20/10 ,  G01J3/027 ,  G01J3/4535 ,  G01N21/3504 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2201/129

    摘要： 本发明提供在对一个或多个测量对象成分进行的定量分析中能同时降低干扰影响与测量误差的样品气体分析装置与样品气体分析装置用方法。样品气体分析装置（100）使用向样品照射光而得到的光谱对所述样品中的一个或多个测量对象成分进行定量分析，并根据从开始产生样品气体到经过规定时间为止的第一产生条件以及经过所述规定时间后的第二产生条件对在多变量分析中使用的库数据进行切换，当处于第一产生条件时，使用对测量对象外成分的干扰影响进行了修正的第一库数据对多个测量对象成分进行定量分析，当处于第二产生条件时，使用没有对测量对象外成分的干扰影响进行修正的第二库数据对多个测量对象成分进行定量分析。

    双输入干涉仪分束器倾斜控制系统及挠曲安装
    115.
    发明授权
    双输入干涉仪分束器倾斜控制系统及挠曲安装 有权

    公开(公告)号：CN103221794B

    公开(公告)日：2016-08-10

    申请号：CN201180054263.5

    申请日：2011-11-07

    申请人： 热电科学仪器有限责任公司

    发明人： J.M.科芬

    IPC分类号： G01J3/453 ,  G01B9/02

    CPC分类号： G01J3/453 ,  G01B9/02068 ,  G02B27/10 ,  G02B27/1013

    摘要： 在此介绍了一种作为一个干涉仪的部分以保护分束器基板免受外部应力并且因此保持光学平坦度的新型柔软分束器安装系统。由于比该分束器基板更柔韧、因此外力使支座而不是该分束器变形，该柔软安装系统能够实现这样的保护。尽管在此所披露的柔软分束器安装配置保护该分束器，但是该干涉仪本身是较不稳定的，因为本发明的支座允许该分束器与固持在该干涉仪中的其他部件相比更容易倾斜。通过使用这种便宜的柔软安装系统作为一个挠曲件，以便允许一个改进的主动控制系统来维持与常规干涉仪相比更坚固的一个系统中的倾斜对准，本发明的改进的倾斜控制实施例将这个看似有害的作用变成一个降低成本的益处。

    光谱仪
    116.
    发明授权
    光谱仪 有权

    公开(公告)号：CN102906535B

    公开(公告)日：2016-01-20

    申请号：CN201280001217.3

    申请日：2012-04-26

    申请人： 福斯分析股份公司

    发明人： 雅各布·弗肯伯格 ,  汉斯·拉森

    IPC分类号： G01B9/02 ,  G01J3/453

    CPC分类号： G01J3/45 ,  G01J3/4535

    摘要： 一种光谱仪（38），包括：一个扫描干涉仪（40，42，44），该扫描干涉仪具有一个光束分离器（40），该光束分离器用于将入射光辐射分成一个跟随反射光束路径的反射光束和一个跟随透射光束路径的透射光束；一个单色光辐射源（52），该单色光辐射源用于将一个基准光束沿着首先入射到该光束分离器（40）的一个第一表面（40’）上的一个第一传播路径（62）发射进入该干涉仪（40，42，44）；一个观察光辐射源（46），该观察光辐射源用于将一个观察光束（64）沿着首先入射到该光束分离器（40）的该第一表面（40’）上的一个第二传播路径（66）发射进入该干涉仪（4，6，8；），并且在该第一表面（40’）处与该基准光束重叠；其中当首先并且同时入射到该第一表面（40’）处时，该辐射源（52；46）合作以在该第一表面（40’）处对应的第一（62）与第二（66）传播路径之间生成一个第一夹角（θ），该第一夹角大于该观察光束（64）的发散半角（α）。

    分光特性测量装置
    117.
    发明公开
    分光特性测量装置 有权

    公开(公告)号：CN104704333A

    公开(公告)日：2015-06-10

    申请号：CN201380052250.3

    申请日：2013-10-02

    申请人： 国立大学法人香川大学

    发明人： 石丸伊知郎

    IPC分类号： G01J3/45 ,  G01J3/453 ,  G01N21/27

    CPC分类号： G01J3/45 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/4531 ,  G01J3/4532 ,  G01N2021/3595

    摘要： 本发明的分光特性测量装置具备：分割光学系统，其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束；成像光学系统，其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉；光程差赋予单元，其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布；检测部，其检测干涉光的光强度分布；处理部，其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图，通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱；共轭面成像光学系统，其配置在被测量物与分割光学系统之间，具有与该分割光学系统共用的共轭面；以及周期性赋予单元，其配置于共轭面，对从多个测量点发出的测量光束之间附加周期性。

    平面光波导傅里叶变换光谱仪
    119.
    发明授权
    平面光波导傅里叶变换光谱仪 失效

    公开(公告)号：CN102395866B

    公开(公告)日：2014-08-06

    申请号：CN201080014145.7

    申请日：2010-02-23

    申请人： 艾迪株式会社

    发明人： 冈本克奇

    IPC分类号： G01J3/45 ,  G01B9/02 ,  G01N21/25 ,  G02F2/00 ,  G01J3/453

    CPC分类号： G01J3/4531 ,  G02F1/3136 ,  Y10T29/49002

    摘要： 本发明公开了一种在平面波导电路(PLC)上实现的变换光谱仪，所述变换光谱仪具有承载待分析的输入光学信号的输入光学信号波导；多个耦合器，每一个耦合器连接到所述输入光学信号波导，并且每一个耦合器包括用于承载与所述输入光学信号相关的被耦合光学信号的耦合器输出。在所述PLC上形成交错的非对称波导马赫-曾德尔干涉仪(MZI)阵列，每一个波导马赫-曾德尔干涉仪(MZI)具有至少一个输入MZI波导，每一个MZI输入波导从相应的耦合器输出接收被耦合光学信号；其中所述输入MZI波导中的至少一些在所述PLC的公共层中以某一角度交叉，所述角度允许其相应的被耦合光学信号在没有不可接受的衰减的情况下传输。所述结构改善了所述PLC的空间效率，允许实现更多的MZI，产生增加的光谱分辨率。