一种高稳定大光程差共光路干涉分光装置及其应用系统

    公开(公告)号:CN106918392A

    公开(公告)日:2017-07-04

    申请号:CN201710144240.2

    申请日:2017-03-10

    CPC classification number: G01J3/45 G01J2003/451

    Abstract: 本发明提出一种高稳定大光程差共光路干涉分光装置及其应用系统。该高稳定大光程差共光路干涉分光装置采用的共光路Sagnac干涉仪为非对称结构,即共光路Sagnac干涉仪中的反射面的空间位置设置使得最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束不再与入射光束重合,而是在空间上平行分离;记分束面首次分光得到一级光束,二次分光得到二级光束;则在二次分光前的光路上对应于空间上平行分离的光束还设置有光程调节结构,使得两路一级光束最终产生光程差,以干涉光束出射。在此基础上,本发明还提出了高通量的、高稳定度的相干色散光谱成像系统。

    一种基于虚像相位阵列的扫频式光谱测量方法

    公开(公告)号:CN106017685A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610314482.7

    申请日:2016-05-13

    CPC classification number: G01J3/45 G01J2003/451

    Abstract: 基于虚像相位阵列的扫频式光谱测量方法,由光学接收系统、基于虚像相位阵列光学滤波器、匹配光学透镜、多通道光电探测系统、数据采集和处理系统构成。基于虚像相位阵列光学滤波器由虚像相位阵列和衍射光栅构成,其输出为二维空间排列的光谱干涉条纹。通过调节虚像相位阵列和衍射光栅的参数,以及匹配光学透镜焦距,可以调整基于虚像相位阵列光学滤波器输出干涉条纹的光谱特性。基于虚像相位阵列的扫频式光谱测量方法可以应用于各种与原子光谱和分子光谱相关的测量,如米散射(Mie)光谱、瑞利(Rayleigh)散射光谱、布里渊(Brillouin)散射光谱、拉曼(Raman)光谱、荧光光谱、等离子光谱。

    基于矩形光栅色散剪切的干涉成像光谱装置及其探测方法

    公开(公告)号:CN107748009A

    公开(公告)日:2018-03-02

    申请号:CN201711012750.0

    申请日:2017-10-26

    Applicant: 邱卓然

    Inventor: 邱卓然 邱守义

    CPC classification number: G01J3/2823 G01J3/2803 G01J3/45 G01J2003/451

    Abstract: 本发明公开了一种基于矩形光栅色散剪切的干涉成像光谱装置及其探测方法,包括沿光路依次放置的前端光学系统、滤光片、双矩形光栅剪切器、后端成像物镜、面阵探测器和信号处理系统。探测目标各点的光束进入前端光学系统,形成准直光束;准直光束经过滤光片,探测波段内光束随后进入双矩形光栅剪切器,准直光束被横向色散剪切;随后剪切光束经过后端成像物镜成像在面阵探测器的靶面上,获取携带有干涉条纹的目标场景的二维图像;通过旋转双矩形光栅剪切器或者整个系统获取目标场景中各点的干涉条纹,信号处理系统通过傅里叶变换等数学运算处理得到特定谱段内高分辨率的光谱信号。本发明结构简单、紧凑、体积小。

    一种超高分辨率光谱测量方法及系统

    公开(公告)号:CN107219002A

    公开(公告)日:2017-09-29

    申请号:CN201710255847.8

    申请日:2017-04-19

    CPC classification number: G01J3/45 G01J2003/451 G01J2003/452 G01N21/255

    Abstract: 本发明公开了一种基于全光傅里叶变换及双光学频率梳时域干涉的超高分辨率光谱测量方法及系统,方法为两个光学频率梳光源产生两路具有微小重复频率差的超短脉冲序列;一路超短脉冲通过色散作用得到扫频泵浦脉冲序列,并基于四波混频原理构成时域透镜;利用时域透镜的傅里叶变换功能对待测光信号进行波长到时间的转换;所得携带了待测光谱信息的光信号通过波长统一后与另一路超短脉冲进行干涉叠加;所得干涉信号转换为电信号并经过后续处理即可得到待测光信号的光谱。本发明能实现超高的光谱分辨率,适用于测量任意形式的光信号,且有效地降低了系统成本。

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