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公开(公告)号:CN109632660A
公开(公告)日:2019-04-16
申请号:CN201910044674.4
申请日:2019-01-17
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司
CPC classification number: G01N21/274 , B01L3/5027 , B01L2200/10 , B01L2300/0861 , G01N21/01 , G01N21/255
Abstract: 一种流体检测面板,该流体检测面板包括微流控基板、光学单元和传感器。微流控基板包括并列的样品检测区域和对照检测区域,样品检测区域配置为允许液体样品到达;光学单元配置为提供第一光线且允许第一光线照射至样品检测区域和对照检测区域;传感器接收通过样品检测区域和对照检测区域的第一光线。
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公开(公告)号:CN109564168A
公开(公告)日:2019-04-02
申请号:CN201780049672.3
申请日:2017-08-21
Applicant: 萨塔有限两合公司
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/255 , F21L4/027 , F21V9/02 , F21Y2105/18 , F21Y2115/10 , G01N21/29 , G01N21/57 , G01N21/8803 , G01N2201/06153
Abstract: 本申请涉及一种用于特别是在机动车的涂漆修复工作领域中检查涂漆表面的日光手电筒(1)。光谱均匀地形成,使得在波长为400-700nm的光谱范围内,在30cm±0.5cm的距离处,核心和内边缘区域的日光偏差平均值小于20%,或关于核心和内边缘区域中的光束中心的光谱稳定系数的平均值小于10%。
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公开(公告)号:CN108957739A
公开(公告)日:2018-12-07
申请号:CN201810799228.X
申请日:2018-07-19
Applicant: 广东工业大学
CPC classification number: G02B26/12 , G01N21/01 , G01N21/255 , G01N21/31 , G01N21/41 , H01S3/0057
Abstract: 本发明公开了一种适应于超短脉冲超连续白光光源的Z扫描装置,解决了现有存在着采用超连续白光作为光源,用光谱仪为探测器,一次性测得较大波长范围内连续的非线性谱线,但由于目前连续白光多采用飞秒激光泵浦液态或固态非线性介质所实现,所产生的连续白光的功率和稳定性通常较低,导致测得信号的信噪比较差,只能用来测试具有较高非线性效应的材料。而对一些非线性效应较低的材料,比如浓度较稀的液体,厚度较薄的薄膜等测量效果不理想。另外,目前所采用的连续白光Z扫描装置多采用透镜聚焦模式,考虑到透镜对飞秒激光脉宽的影响,此种模式仅适合于单波长和较为窄带的连续白光多次扫描的技术问题。
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公开(公告)号:CN108872232A
公开(公告)日:2018-11-23
申请号:CN201810448603.6
申请日:2018-05-11
Applicant: B·布莱恩·阿维图姆股份公司
CPC classification number: G01N21/255 , A61M1/14 , A61M1/16 , A61M1/1601 , A61M1/1609 , A61M1/1613 , A61M1/1615 , A61M1/3612 , A61M1/367 , A61M2205/3306 , A61M2205/70 , A61M2205/702 , A61M2230/20 , G01N21/274 , G01N21/33 , G01N2201/121 , G01N21/84
Abstract: 一种用于使透析设备中的光学传感器线性化的方法包括:将传感器引入透析液侧排出管线,确定所述光学传感器的线性范围,从所述线性范围回推数据并且校正来自非线性范围的所述数据。
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公开(公告)号:CN108693583A
公开(公告)日:2018-10-23
申请号:CN201810269794.X
申请日:2018-03-29
Applicant: 徕卡仪器(新加坡)有限公司
Inventor: 乔治·塞梅利斯
CPC classification number: G02F1/133514 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/36 , G01N21/255 , G01N21/31 , G02B27/288 , H04N5/2254 , G02B5/20 , G02F1/1313 , G03B11/00
Abstract: 本发明涉及透射通过波长的光的滤光器,包括沿透射方向布置的至少两个滤光器级,通过波长的光沿透射方向被透射穿过滤光器,其中,至少两个滤光器级的每个包括至少一个进入偏振元件和至少一个恒延迟元件。本发明还涉及同时捕获至少两个图像的照相机、多光谱成像系统和应用本发明的滤光器的照明系统。本发明通过包括在工作波长范围上延伸的周期透射特性的至少两个滤光器级的每个改进现有技术的滤光器,其中每个透射特性包括各自与每个其他透射特性的至少一个峰值重叠的至少两个峰值,其中滤光器的整体透射特性包括彼此光谱分离的至少两个光谱通带。本发明的照相机、多光谱成像系统和本发明的照明系统应用根据本发明的滤光器。
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公开(公告)号:CN108645814A
公开(公告)日:2018-10-12
申请号:CN201810684515.6
申请日:2018-06-28
Applicant: 浙江理工大学
IPC: G01N21/359 , G01N21/3563 , G01N21/25 , G01N13/04
CPC classification number: G01N21/359 , G01N13/04 , G01N21/255 , G01N21/3563 , G01N2201/0438 , G01N2201/0618
Abstract: 本发明公开了一种用于识别多色织物润湿区域的高光谱图像采集方法,采用EVA泡棉改良夹持器为提取测试区域图像提供了精准分割边界;高光谱图像为多个波段通道的灰度图像集合,可提取近红外波段的灰度图像,图像亮度值与R、G、B分量无关能有效克服织物颜色的影响;以直流电对漫反射型卤素光源供电,光源提供的光强稳定;电机通过电控传输带匀速推动载样箱上的试样供CCD相机逐线扫描,织物每次扫描的光照相同等效于织物表面光照均匀;该高光谱图像采集系统采集图像后采用白板校正和暗电流校正,进一步消除原始织物图像表面光照不匀的影响;润湿区与未润湿区在红外波段的灰度图像中有较好的对比度,采用适中的分辨率能有效克服织物表面纹理的影响。
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公开(公告)号:CN105934658B
公开(公告)日:2018-09-07
申请号:CN201480070099.0
申请日:2014-11-07
Applicant: PPG工业俄亥俄公司
CPC classification number: G01N33/32 , G01J3/463 , G01J3/504 , G01N21/255 , G01N21/4738 , G01N21/8422 , G01N2021/575 , G01N2021/8427
Abstract: 本发明涉及一种计算机实施的方法、系统、设备以及非临时性计算机可读介质,该非临时性计算机可读介质包含利用基于辐射传输方程式或其修改进行计算以在数字上近似于所获得的用于未知目标涂层的有效颜色匹配的反射率数据的软件。本发明对含有金属、珠光和其他特殊效应的颜料的涂层特别有用。
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公开(公告)号:CN108444923A
公开(公告)日:2018-08-24
申请号:CN201810197440.9
申请日:2018-05-07
Applicant: 天津全汇聚能科技发展有限公司
IPC: G01N21/25
CPC classification number: G01N21/255
Abstract: 本发明公开了一种便于除尘的激光光谱检测设备,包括箱体,所述箱体的前侧壁镶嵌有凹槽,凹槽的内部滑动连接有箱门,箱门的左侧贯穿箱体的左侧壁且端头处通过螺丝固定连接有连接件,箱体的左侧壁位于箱门左侧的上方安装有电动推杆,电动推杆的顶端与连接件固定连接,箱体的底端面固定粘贴有橡胶垫,箱体的右侧壁镶嵌有控制面板,控制面板上安装有显示屏和操作按钮,控制面板的内部安装有处理器,控制面板的上方安装有进气型排气扇和排气型排风扇,进气型排气扇的内部安装有电热丝,箱体上套接有框架,框架的上端面安装有固定环,框架的内部镶嵌有吸尘器吸嘴,该激光光谱检测设备,便于除尘,节省人力。
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公开(公告)号:CN108303383A
公开(公告)日:2018-07-20
申请号:CN201810125820.1
申请日:2018-02-07
Applicant: 中国科学院南海海洋研究所
IPC: G01N21/27
CPC classification number: G01N21/255 , G01N21/274
Abstract: 本发明提供了海底界面高光谱辐射采集方法及系统,涉及水体光谱测量技术领域,包括根据海洋环境对辐射参数进行校正,得到测量标准,基于测量标准,通过微电脑对光纤光谱仪进行同步设置,得到同步采样命令,对多个光学探头的测量方向分别进行设置,组建探头线路,光纤光谱仪根据同步采样命令控制探头线路对目标物体进行同步探测,以采集海底光谱信号。本发明可以提高对光谱采集的有效性、精确性和全面性。
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公开(公告)号:CN108204788A
公开(公告)日:2018-06-26
申请号:CN201711363844.2
申请日:2017-12-18
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01B11/0625 , G01J3/0248 , G01J3/0278 , G01J3/28 , G01J3/2803 , G01N21/255 , G01N21/8422 , G01N2021/6417 , G01B11/06 , G01M11/00
Abstract: 本发明使基于来自样本的光的样本的光学特性的测定容易进行。光学特性测定装置(1、1A)具备光学系统(12)、检测部(13)以及解析部(14)。光学系统对从样本(2)射入的检测光进行聚光。检测部对在样本与光学系统之间的光学距离相互不同的状态下经由光学系统射入的样本的检测光进行多次分光,生成表示各检测光的光谱的多个检测数据(D1)。解析部解析检测数据所示的光谱,测定样本的规定的光学特性。解析部基于多个检测数据中的检测光的大小,确定用于光学特性的测定的检测数据,基于所确定的检测数据,测定光学特性(S6、S6A)。
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