公开(公告)号：CN106461462A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201580026419.7

申请日：2015-03-20

Applicant: 海佩尔梅德影像有限公司

Inventor： M·A·达尔蒂 ,  D·喻多夫斯基 ,  M·蒂勒曼 ,  P·梅嫩

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/04

CPC classification number: H04N5/332 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0283 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/10 ,  G01J3/108 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/106 ,  G01J2003/1213 ,  G01J2003/2826 ,  G06T2207/10016 ,  H04N5/2254 ,  H04N5/2256 ,  H04N5/2354

Abstract: 本发明提供了用于在多个波长下同时成像的方法和系统。在一方面，一种高光谱/多光谱成像设备包括：透镜，所述透镜被配置成接收通过物体背向散射的光；多个光敏传感器；多个带通滤波器，所述多个带通滤波器覆盖相应光敏传感器，其中每个带通滤波器被配置成允许不同相应谱带从所述滤波器中穿过；以及多个分束器，所述多个分束器与所述透镜和所述光敏传感器光学通信，其中每个分束器将所述透镜接收的光分成多个光学路径，每个路径被配置成通过对应于相应光敏传感器的所述带通滤波器将光导向对应光敏传感器。

公开(公告)号：CN103718007B

公开(公告)日：2016-10-26

申请号：CN201280038297.X

申请日：2012-06-07

Applicant: 株式会社隆创

Inventor： 川端秀树 ,  木岛明良

IPC: G01J3/50 ,  A61B5/055 ,  A61B6/00 ,  A61B6/03

CPC classification number: G06T7/408 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/50 ,  G01J3/513 ,  G06T7/90

Abstract: 本发明的目的在于准确地对齐将要测量的多个物体的对应测量点，并且根据两个测量点处的测量的结果评估将要测量的物体。测量系统（100）设置有测量装置（10）和PC（20），并且测量装置（10）设置有测量将要测量的物体的测量点的分光部（12）和用于实时地对测量点的周边进行拍摄的摄像头（16）。PC（20）在显示部（22）的显示画面上显示由测量装置（10）的摄像头（16）拍摄并且显示的评估介质的连续图像信息的评估图像以重合在已经由摄像头（16）拍摄并且存储在存储器（24）中的基准介质的静止图像信息的基准图像上。通过在通过在两个图像彼此几乎完全重叠时测量评估图像中的测量点获得的测量数据与存储器（24）中存储的基准图像中的测量点的测量数据之间执行比较，能够容易地执行对齐并且执行测量数据的比较。

公开(公告)号：CN106017687A

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201610162747.6

申请日：2016-03-21

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 五味二夫

IPC: G01J3/50

CPC classification number: B41J29/38 ,  G01B11/14 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/06 ,  G01J3/26 ,  G01J3/50 ,  G01J3/524

Abstract: 本发明提供一种光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法，能够进行高精度的光谱测量处理。内置有光谱测量装置的打印机包括：光谱仪(17)，包含来自介质(A)的测量位置(R)的光入射的波长可调滤波器(光谱器件(172A))；距离测量部(18)，测量测量位置(R)和光谱仪(17)的距离；以及测量控制部件和测色部件，使用光谱仪(17)对测量位置(R)实施光谱测量，基于测量到的距离校正通过光谱测量得到的测量值。

公开(公告)号：CN101526399A

公开(公告)日：2009-09-09

申请号：CN200910126043.3

申请日：2009-03-03

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 梅津友行

IPC: G01J3/12 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01N21/3581 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/42

Abstract: 一种太赫分光计包括：太赫波生成元件；椭圆镜；光学透镜，被配置为将由太赫波生成元件生成的太赫波倾斜地施加给椭圆镜的第一焦点的聚焦平面；以及太赫波检测元件，配置在椭圆镜的第二焦点处。根据本发明的太赫分光计能够以增大的精度来测量样品。

公开(公告)号：CN108204788A

公开(公告)日：2018-06-26

申请号：CN201711363844.2

申请日：2017-12-18

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 冈本宗大 ,  佐佐木勇贵 ,  罗先钦

IPC: G01B11/06 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01B11/0625 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01N21/255 ,  G01N21/8422 ,  G01N2021/6417 ,  G01B11/06 ,  G01M11/00

Abstract: 本发明使基于来自样本的光的样本的光学特性的测定容易进行。光学特性测定装置(1、1A)具备光学系统(12)、检测部(13)以及解析部(14)。光学系统对从样本(2)射入的检测光进行聚光。检测部对在样本与光学系统之间的光学距离相互不同的状态下经由光学系统射入的样本的检测光进行多次分光，生成表示各检测光的光谱的多个检测数据(D1)。解析部解析检测数据所示的光谱，测定样本的规定的光学特性。解析部基于多个检测数据中的检测光的大小，确定用于光学特性的测定的检测数据，基于所确定的检测数据，测定光学特性(S6、S6A)。

公开(公告)号：CN105946361A

公开(公告)日：2016-09-21

申请号：CN201610130323.1

申请日：2016-03-08

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 久利龙平

IPC: B41J2/01 ,  B41J29/17 ,  G01N21/25

CPC classification number: B41J2/165 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/524 ,  B41J2/01 ,  B41J29/17 ,  G01N21/25

Abstract: 本发明提供了能够检测由污渍造成的测色精度的降低的图像形成装置以及污渍检测方法。打印机包括喷出油墨的印刷部以及分光入射光的分光器(17)，分光器(17)包括：光通过的窗部(176)；光学滤波器设备(172)，包括作为将通过了窗部(176)的光进行分光的分光元件的波长可变干涉滤波器；以及受光部(173)，接收由波长可变干涉滤波器分光的光，根据对来自基准物的光进行分光测定而得的多个波长中的每个波长相对应的测定值和与多个波长中的每个波长相对应的基准值，检测窗部(176)的污渍。

公开(公告)号：CN105737983A

公开(公告)日：2016-07-06

申请号：CN201610192819.1

申请日：2016-03-30

Applicant: 首都师范大学

Inventor： 张爱武

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0278

Abstract: 一种超分重建的斜模高光谱成像地面试验装置及方法，包括：支撑单元、电动平移单元、角度调节单元、高光谱线阵成像单元、图像存储单元、上位机单元，支撑单元是各单元的支撑平台，同时可以通过打开脚轮移动支撑单元进行被测目标的更换；角度调节单元负责高光谱线阵成像单元线扫描平面与电动平移单元平移平面的角度调节；采用高光谱线阵成像单元通过电动平移单元的移动获取一定的测区范围立面的斜采样高光谱图像，利用图像存储单元对获取的斜采样高光谱图像实时存储；上位机单元负责平移台的自动控制和高光谱线阵成像单元参数的设置及图像的采集。本发明改变了传统的采样模式，通过调节高光谱成像线阵与电动平移单元移动方向的夹角形成一种斜采样模式，从硬件设计上保证空间分辨率提升。

公开(公告)号：CN102971823B

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201180033884.5

申请日：2011-07-08

Applicant: FEI公司

Inventor： C.鲁 ,  D.克劳利 ,  E.阿戈里奥

IPC: H01J37/22 ,  H01J37/08 ,  H01J37/20 ,  H01J37/244

CPC classification number: G01J3/0262 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0278 ,  G01N21/9501 ,  G01N21/95684 ,  G01N2021/8825 ,  G01N2021/95653 ,  H01J37/226 ,  H01J37/3005 ,  H01J37/3056 ,  H01J2237/31749

Abstract: 一种用于处理衬底的带电粒子束系统被公开，其包括：带电粒子镜筒；组合红外辐射和可见光照射与成像子系统；真空中的光学器件；以及精密镜台，所述精密镜台用于支撑所述衬底并且将所述衬底交替地定位在所述带电粒子镜筒和所述成像系统下面。所述带电粒子镜筒和成像系统的轴被偏移，以实现对于成像和射束处理两者而言与在单个集成组件中将是可能的工作距离相比近得多的工作距离。一种用于极准确地校准所述镜筒与成像系统之间的偏移的方法被公开，实现了在所述衬底上的精确确定的位置处的射束处理。所述成像系统能够定位所述衬底上的不能够使用所述带电粒子束看见的子表面特征。两个照射模式被公开，实现了采用红外辐射和可见光的明场成像和暗场成像两者。

公开(公告)号：CN102901562A

公开(公告)日：2013-01-30

申请号：CN201210260839.X

申请日：2012-07-25

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 吉泽隆彦

IPC: G01J3/26

CPC classification number: G01J3/427 ,  B81C1/00007 ,  B81C1/00126 ,  B81C1/0015 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/513

Abstract: 本发明提供倾斜结构体、倾斜结构体的制造方法、以及分光传感器。倾斜结构体的制造方法包括：在基板的上方形成牺牲膜的工序（a）；在牺牲膜的上方形成第一膜的工序（b）；形成第二膜的工序（c），所述第二膜包括：与基板连接的第一部分、与第一膜连接的第二部分、位于上述第一部分和上述第二部分之间的第三部分；去除牺牲膜的工序（d）；在工序（d）之后使第二膜的上述第三部分弯曲，从而使第一膜相对于基板而倾斜的工序（e）。

公开(公告)号：CN102084228A

公开(公告)日：2011-06-01

申请号：CN200880128023.3

申请日：2008-01-23

Applicant: 利兹法国产品公司

Inventor： 伯纳德·费罗尔 ,  菲利普·戈来米莱特 ,  让-玛丽·马盖因 ,  让·特莱多特 ,  弗雷德里克·魏曼

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/51

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/51 ,  G01J3/513

Abstract: 本发明涉及三维物体的空间色度测量设备与方法，以根据多个分析点对三维物体的平缓起伏和色度坐标进行数字化建模。为此，本发明的测量设备结合照明装置和至少四个光学探测装置，光学探测装置包括对基本相同的光波长范围敏感的至少两个双探测装置，以通过立体视觉效果确定被分析物体的平缓起伏。因此，本发明提出了一种三维物体(2)的空间色度测量设备，其包括探测头(4)，探测头(4)由物体的照明装置(14)和用于探测物体(2)反射的光的至少四个探测装置(16)组成，所述设备还包括用于处理由探测装置(16)接收的信息的处理单元(8)。至少两个双探测装置(16c，16e)对基本相同的光波长范围敏感。