-
公开(公告)号：CN114754877B
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN202210267228.1
申请日：2022-03-17
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J5/48
Abstract: 本发明属于红外光电成像领域，涉及一种红外光学系统全光机表面的内部杂散辐射的计算方法。克服现有红外光学系统内部杂散辐射分析测试方法存在的计算效率低及无法计算所有光机表面的内部杂散辐射能量的技术问题。首先建立红外光学系统的光机模型，其次，在光机模型探测器位置处设置逆向追迹光源，进行逆向追迹，最后通过逆向追迹可计算得到所有光机表面对探测器的立体角张角，根据得到的立体角计算结果，可计算任意温度下，红外光学系统所有光机表面的内部自发杂散辐射。为红外冷光学设计与实施提供真实可靠的输入，具有很强的工程应用价值。
-
公开(公告)号：CN115793238B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202211670779.9
申请日：2022-12-23
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G02B27/00
Abstract: 本发明涉及一种成像系统杂散光系数确定方法，具体为一种杂散光系数仿真方法。解决当仿真系统中杂散光光源为有限个离散的点光源时，现有杂散光系数计算方法无法适用的问题，首先在仿真软件中，建立仿真模型；仿真模型包括光源、被测光学系统和像面；光源由位于同一平面内、具有不同法方向的多个栅格光源组成；其次，获得点源透过率矩阵；最后基于点源透过率矩阵获得杂散光系数。以现有理论公式为基础，利用仿真得到的到离散点组成的点源透过率矩阵，计算光学系统杂散光系数，在设计阶段成像系统不具备实际测试条件时，可利用此方法仿真光学系统视场外的杂散光系数。
-
公开(公告)号：CN117951899A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202410136881.3
申请日：2024-01-31
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G06F30/20 , G01N21/25 , G01N21/17 , G06T5/80 , G06T3/4007 , G06N3/0464
Abstract: 本发明涉及一种高光谱遥感载荷成像模型构建方法，特别涉及一种色散型高光谱遥感载荷成像模型构建方法，解决了现有技术缺乏能够模拟色散型高光谱遥感载荷真实成像效果的成像模型，难以对色散型高光谱遥感载荷性能精确评估的问题。该方法包括以下步骤：步骤1：根据色散型高光谱遥感载荷成像链路机理和成像链路中影响成像质量的因素，将拟构建成像模型划分为多个因素仿真模块；步骤2：根据设定的拟构建成像模型的指标参数，选取原始高光谱数字靶标DT0；步骤3：对原始高光谱数字靶标DT0，按物理成像过程串行的依次进行步骤1划分的多个因素仿真模块对应各因素的仿真，得到经拟构建成像模型仿真成像后的高光谱数字靶标DT10，构建完成。
-
公开(公告)号：CN115342917A
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN202211053410.3
申请日：2022-08-31
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于子视场拼接的紧凑型大视场光谱成像系统，解决了现有的光谱成像系统难以同时实现增大视场并减小体积，而且还具备高像质及高稳定性的技术问题。具体包括N片探测器组成的探测器阵列和N个光谱成像单元，N≥2；N片探测器位于同一平面内且设置为相对交错排列的两列探测器；N个光谱成像单元与N片探测器一一对应设置；每个探测器与对应的光谱成像单元形成一个子视场光谱成像模块；光谱成像单元包括狭缝、透镜组和色散元件；入射光线透过狭缝后经所述透镜组准直，准直后的入射光线经色散元件色散反射后形成反射光线，反射光线再次入射至透镜组，经透镜组成像后入射至对应的探测器；透镜组的焦距与色散元件的刻线密度匹配。
-
公开(公告)号：CN113935160A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202111151189.0
申请日：2021-09-29
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明提供了一种红外光学系统的内部杂散辐射的获取方法，用于解决红外光学系统冷光学实施中内部杂散辐射能量的计算问题，与现有仿真方法相比，该方法可实现红外内部杂散辐射的快速计算。红外光学系统的内部杂散辐射的主要来源是结构镜筒内壁、结构镜框及压圈的红外自发辐射，本发明以辐射传输理论为基础建立了相应模型，通过对结构镜筒内壁、结构镜框及压圈与探测器焦平面建立坐标系，建立对应的算法模型计算出内部杂散辐射。该获取方法计算快速、结果较为准确。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111531410A
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN202010240879.2
申请日：2020-03-31
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明提供一种Sagnac型干涉仪组件的膜层面形离子束抛光装置及其装调方法，实现对反射膜层面型精度低的Sagnac型干涉仪进行面形修整，避免重新投产，实现加工后再次使用的目的。该抛光装置包括离子抛光机安装基板、水平安装板、垂直安装板、右侧保护板和左侧保护板；右侧保护板和左侧保护板安装在水平安装板的前侧；Sagnac型干涉仪组件安装在水平安装板的顶面，且其抛光面位于右侧保护板和左侧保护板之间；垂直安装板安装在水平安装板的后侧，且其端面上设置有沿水平和竖直方向的多个第一腰形孔；离子抛光机安装基板位于垂直安装板的后侧，且其表面设置有沿水平和竖直方向的多个T形槽；垂直安装板和离子抛光机安装基板通过连接件安装。
-
公开(公告)号：CN119715404A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411654008.X
申请日：2024-11-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01N21/25 , G06T3/4053
Abstract: 本发明公开了一种多狭缝高光谱图像数据的超空间分辨率重建方法，解决了多狭缝高光谱数据的多狭缝高光谱数据的空间分辨率低、质量差的问题。本发明针对多狭缝高光谱数据间的相关性及差异性，通过高光谱解混，建立各狭缝高光谱数据统一的光谱端元矩阵及各狭缝数据自身的具有差异的丰度矩阵。而后根据多狭缝数据之间的像移差异值，将各狭缝数据的丰度系数，统一在基准图像坐标系(即第一坐标系)下，而后根据丰度矩阵集合插值获取多狭缝像移丰度矩阵，最终端元光谱矩阵与端元丰度矩阵相乘并叠加，得到高空间分辨率高光谱数据。
-
公开(公告)号：CN119671865A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411682645.8
申请日：2024-11-22
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G06T5/50 , G06V10/762
Abstract: 本发明涉及一种图像增强方法，具体涉及一种基于偏振信息的红外图像增强方法。该方法包括以下步骤：1、获取目标场景在红外波段的4个不同角度的偏振图像；2、获取Stokes矢量图像S0、S1和S2，以及偏振度图像和偏振角图像；3、获取温度图像T；步骤4、获取材料图像M；5、获取纹理图像C；步骤6、将材料图像M、温度图像T和纹理图像C进行组合，生成目标场景的HSV增强图像，实现红外图像增强。本发明通过红外偏振相机获取目标场景在红外波段的4个角度偏振图像，利用偏振信息实现对环境目标温度、材料、纹理的探测感知，而后将上述三维物理信息通过HSV色彩空间融合方法获得对比度及纹理信息丰富的HSV增强图像。
-
公开(公告)号：CN118746358A
公开(公告)日：2024-10-08
申请号：CN202410700112.1
申请日：2024-05-31
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种多狭缝色散型高光谱成像系统数据误差分析方法，特别涉及一种多狭缝色散型高光谱成像系统重构数据误差分析方法，解决了现有技术缺乏多狭缝色散型高光谱成像系统重构数据误差分析方法导致重构数据精度低的问题。该方法包括步骤：步骤1：确定误差源范围；步骤2：对各误差源独立执行步骤a至d；步骤a：加载误差源误差获取加载误差的其余狭缝高光谱数据；步骤b：判断误差是否可校正；若是先校正再对校正后的加载误差的其余狭缝高光谱数据与基准狭缝高光谱数据仿真重构；若否则对基准狭缝高光谱数据与加载误差的其余狭缝高光谱数据仿真重构；步骤c：计算重构误差；步骤d：与设定的重构误差阈值比较，大于其则为主要重构误差源。
-
公开(公告)号：CN118464191B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410932000.9
申请日：2024-07-12
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及光谱偏振成像装置及方法，具体涉及一种基于光栅‑晶体的时空混合调制光谱偏振成像装置及方法，解决了现有光谱偏振成像系统测量精度较差的技术问题。本发明包括沿光束传输方向依次设置的前置光学镜组、狭缝、第一准直透镜、衍射光栅组件、第二准直透镜、萨瓦板、检偏器、二次成像镜组和面阵探测器，以及数据采集处理单元，利用衍射+干涉原理，先通过衍射光栅组件实现波长维度的分割，通过萨瓦板实现光束的横向剪切，进而通过干涉实现振幅调制，从而实现偏振信息在频域上的分离，可同时获得目标场景的光谱信息、线偏振成像信息和空间成像信息，测量精度高，光路简单易调、成本低廉，数据处理简单快速，可实现对目标场景的实时检测。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
43
records
(took 0.032 seconds)
