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公开(公告)号：CN115793238B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202211670779.9
申请日：2022-12-23
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G02B27/00
摘要： 本发明涉及一种成像系统杂散光系数确定方法，具体为一种杂散光系数仿真方法。解决当仿真系统中杂散光光源为有限个离散的点光源时，现有杂散光系数计算方法无法适用的问题，首先在仿真软件中，建立仿真模型；仿真模型包括光源、被测光学系统和像面；光源由位于同一平面内、具有不同法方向的多个栅格光源组成；其次，获得点源透过率矩阵；最后基于点源透过率矩阵获得杂散光系数。以现有理论公式为基础，利用仿真得到的到离散点组成的点源透过率矩阵，计算光学系统杂散光系数，在设计阶段成像系统不具备实际测试条件时，可利用此方法仿真光学系统视场外的杂散光系数。
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公开(公告)号：CN117951899A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202410136881.3
申请日：2024-01-31
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G06F30/20 , G01N21/25 , G01N21/17 , G06T5/80 , G06T3/4007 , G06N3/0464
摘要： 本发明涉及一种高光谱遥感载荷成像模型构建方法，特别涉及一种色散型高光谱遥感载荷成像模型构建方法，解决了现有技术缺乏能够模拟色散型高光谱遥感载荷真实成像效果的成像模型，难以对色散型高光谱遥感载荷性能精确评估的问题。该方法包括以下步骤：步骤1：根据色散型高光谱遥感载荷成像链路机理和成像链路中影响成像质量的因素，将拟构建成像模型划分为多个因素仿真模块；步骤2：根据设定的拟构建成像模型的指标参数，选取原始高光谱数字靶标DT0；步骤3：对原始高光谱数字靶标DT0，按物理成像过程串行的依次进行步骤1划分的多个因素仿真模块对应各因素的仿真，得到经拟构建成像模型仿真成像后的高光谱数字靶标DT10，构建完成。
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公开(公告)号：CN115342917A
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN202211053410.3
申请日：2022-08-31
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明公开了一种基于子视场拼接的紧凑型大视场光谱成像系统，解决了现有的光谱成像系统难以同时实现增大视场并减小体积，而且还具备高像质及高稳定性的技术问题。具体包括N片探测器组成的探测器阵列和N个光谱成像单元，N≥2；N片探测器位于同一平面内且设置为相对交错排列的两列探测器；N个光谱成像单元与N片探测器一一对应设置；每个探测器与对应的光谱成像单元形成一个子视场光谱成像模块；光谱成像单元包括狭缝、透镜组和色散元件；入射光线透过狭缝后经所述透镜组准直，准直后的入射光线经色散元件色散反射后形成反射光线，反射光线再次入射至透镜组，经透镜组成像后入射至对应的探测器；透镜组的焦距与色散元件的刻线密度匹配。
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公开(公告)号：CN113935160A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202111151189.0
申请日：2021-09-29
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明提供了一种红外光学系统的内部杂散辐射的获取方法，用于解决红外光学系统冷光学实施中内部杂散辐射能量的计算问题，与现有仿真方法相比，该方法可实现红外内部杂散辐射的快速计算。红外光学系统的内部杂散辐射的主要来源是结构镜筒内壁、结构镜框及压圈的红外自发辐射，本发明以辐射传输理论为基础建立了相应模型，通过对结构镜筒内壁、结构镜框及压圈与探测器焦平面建立坐标系，建立对应的算法模型计算出内部杂散辐射。该获取方法计算快速、结果较为准确。
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公开(公告)号：CN111531410A
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN202010240879.2
申请日：2020-03-31
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明提供一种Sagnac型干涉仪组件的膜层面形离子束抛光装置及其装调方法，实现对反射膜层面型精度低的Sagnac型干涉仪进行面形修整，避免重新投产，实现加工后再次使用的目的。该抛光装置包括离子抛光机安装基板、水平安装板、垂直安装板、右侧保护板和左侧保护板；右侧保护板和左侧保护板安装在水平安装板的前侧；Sagnac型干涉仪组件安装在水平安装板的顶面，且其抛光面位于右侧保护板和左侧保护板之间；垂直安装板安装在水平安装板的后侧，且其端面上设置有沿水平和竖直方向的多个第一腰形孔；离子抛光机安装基板位于垂直安装板的后侧，且其表面设置有沿水平和竖直方向的多个T形槽；垂直安装板和离子抛光机安装基板通过连接件安装。
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公开(公告)号：CN118960955A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411014370.0
申请日：2024-07-26
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明涉及光谱成像方法，具体涉及基于复合多狭缝的光谱仪及其成像方法，为解决现有多狭缝技术中存在局部弱光区无法获得足够的增益效果，信噪比难以提高的不足之处。本发明基于复合多狭缝的光谱仪包括探测器、分光系统和设置在分光系统入射端的狭缝组件，狭缝组件包括并列设置在同一平面的N条完整色散狭缝以及M条局部色散狭缝，其中轴线位于同一平面；N条完整色散狭缝相邻设置，M条局部色散狭缝相邻设置；相邻完整色散狭缝的间距为n+1个像元尺寸；相邻局部色散狭缝间距为m+1个像元尺寸；同时还提供基于上述光谱仪的成像方法，将N+M个光谱数据线性相加，得到待测目标的光谱仪成像数据，从而增强弱光光谱区间的信噪比。
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公开(公告)号：CN115793238A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211670779.9
申请日：2022-12-23
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G02B27/00
摘要： 本发明涉及一种成像系统杂散光系数确定方法，具体为一种杂散光系数仿真方法。解决当仿真系统中杂散光光源为有限个离散的点光源时，现有杂散光系数计算方法无法适用的问题，首先在仿真软件中，建立仿真模型；仿真模型包括光源、被测光学系统和像面；光源由位于同一平面内、具有不同法方向的多个栅格光源组成；其次，获得点源透过率矩阵；最后基于点源透过率矩阵获得杂散光系数。以现有理论公式为基础，利用仿真得到的到离散点组成的点源透过率矩阵，计算光学系统杂散光系数，在设计阶段成像系统不具备实际测试条件时，可利用此方法仿真光学系统视场外的杂散光系数。
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公开(公告)号：CN114964493A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210417669.5
申请日：2022-04-20
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明涉及一种星载曲面棱镜色散型光谱仪系统及装配方法，以解决目前现有的光谱仪系统支撑稳定性低以及如何实现对曲面棱镜的空间位置和姿态快速装调的技术问题。本发明的光谱仪系统包括基板、基板上的精测镜组件和沿光线入射光路依次设置的狭缝入射组件、同轴镜组组件、偏轴曲面棱镜组件、偏轴凹面反射镜组件、出射棱镜组件以及探测器组件。光线经光学狭缝入射进光谱仪系统，经入射棱镜折转光路后进入同轴镜组，经同轴镜组透射后进入偏轴曲面棱镜，经偏轴曲面棱镜分光后，再经偏轴凹面反射镜反射，后依次反向经过偏轴曲面棱镜和同轴镜组，实现光路复用；反向经同轴镜组透射后再经出射棱镜折转，后进入探测器，实现光谱成像。
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公开(公告)号：CN113777766B
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202110896071.4
申请日：2021-08-05
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G02B17/06
摘要： 本发明涉及一种替代同轴三反系统对高光谱成像分系统调试用光学系统，其目的是解决在轨测试之前，现有技术尚无可代替前置物镜，对高光谱成像系统的后续各分系统进行测试的光学系统的技术问题。该系统包括物面a和像面b，及二者间沿光路依次设置的光阑、调焦镜、第一球面反射镜、第二球面反射镜、第三球面反射镜、第四球面反射镜和平面反射镜；调焦镜和第一球面反射镜与原同轴三反系统的调焦镜及其前一片球面反射镜的结构和参数一致；第二球面反射镜、第三球面反射镜和第四球面反射镜的光焦度符号相同，与平面反射镜形成折叠式离轴三反系统代替原同轴三反系统中的其余镜片；物面a位于原同轴三反系统的像面处，像面b模拟无穷远物体作为成像物面。
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公开(公告)号：CN107238438A
公开(公告)日：2017-10-10
申请号：CN201710384345.5
申请日：2017-05-26
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
CPC分类号： G01J3/45 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/2823 , G01J2003/451 , G01J2003/452
摘要： 本发明属于干涉光谱技术领域，具体涉及一种多普勒差分式干涉仪的装调方法。该方法主要包括建立系统基准、装调分光棱镜、装调视场展宽棱镜和装调光栅等步骤。本发明通过将两个经纬仪与激光器相结合，可以直接有效地获得接近设计要求的干涉仪安装方式，从而得到精确的干涉条纹信息。
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