发明公开
- 专利标题: 一种红外光学系统的内部杂散辐射的获取方法
-
申请号: CN202111151189.0申请日: 2021-09-29
-
公开(公告)号: CN113935160A公开(公告)日: 2022-01-14
- 发明人: 张智南 , 胡炳樑 , 李立波 , 邹纯博 , 柯善良 , 张兆会 , 韩亚娟
- 申请人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 申请人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 代理机构: 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理商 赵逸宸
- 主分类号: G06F30/20
- IPC分类号: G06F30/20 ; G06F30/17 ; G01N21/35 ; G01J3/28
摘要:
本发明提供了一种红外光学系统的内部杂散辐射的获取方法,用于解决红外光学系统冷光学实施中内部杂散辐射能量的计算问题,与现有仿真方法相比,该方法可实现红外内部杂散辐射的快速计算。红外光学系统的内部杂散辐射的主要来源是结构镜筒内壁、结构镜框及压圈的红外自发辐射,本发明以辐射传输理论为基础建立了相应模型,通过对结构镜筒内壁、结构镜框及压圈与探测器焦平面建立坐标系,建立对应的算法模型计算出内部杂散辐射。该获取方法计算快速、结果较为准确。