平衡-不平衡转换器电路和半导体设备

    公开(公告)号:CN118783921A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202410299483.3

    申请日:2024-03-15

    Abstract: 本公开的各实施例涉及平衡‑不平衡转换器电路和半导体设备。平衡‑不平衡转换器电路设置在发送器与公共天线端子之间,该发送器和接收器耦合到该公共天线端子。该平衡‑不平衡转换器包括在一端或两端处耦合到该发送器的电感器L1、该接收器的输入节点、以及设置在地或第一偏置电源之间的电感器L2。该电感器L2包括与该电感器L1具有互感的电感器。该电感器L2是可变电感器。

    电池设备、控制方法和控制程序
    104.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118676449A

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410233419.5

    申请日:2024-03-01

    Abstract: 本公开的一个或多个实施例涉及电池设备、控制方法和控制程序。根据本实施例的电池设备包括:锂离子电池单元;应变计,被附接到电池单元的表面;温度传感器,检测电池单元的温度;以及测量设备,测量设备基于由温度传感器检测的温度和应变计的应变量,来计算电池单元的荷电状态SOC,应变计的应变量根据由电池单元的充电和放电引起的体积变化而改变。

    半导体器件
    105.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN118676092A

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410197944.6

    申请日:2024-02-22

    Abstract: 本公开涉及一种半导体器件,该半导体器件的多个导线包括:第一导线,第一导线连接到端部电极和多个端子中的第一端子中的每一者;以及第二导线,第二导线连接到非端部电极和多个端子中的第二端子中的每一者。第一导线的环路高度大于第二导线的环路高度。

    半导体器件及其制造方法
    106.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118632526A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410170553.5

    申请日:2024-02-06

    Abstract: 本公开涉及一种半导体器件及其制造方法,其中半导体器件包括形成在有源区中的熔丝晶体管。在第一方向上,有源区由第一元件隔离膜和第二元件隔离膜限定。熔丝晶体管包括栅极电介质膜、栅极电极和半导体区域,半导体区域在与第一方向垂直的第二方向上形成在栅极电极的两侧。在第一方向上,栅极电介质膜具有中心部分、第一外围部分和第二外围部分。中心部分与第一元件隔离膜和第二元件隔离膜间隔开,第一外围部分到达第一元件隔离膜,并且第二外围部分到达第二元件隔离膜。栅极电介质膜的中心部分具有第一厚度,并且第一外围部分和第二外围部分中的每一者具有大于第一厚度的第二厚度。

    制造半导体器件的方法
    107.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118629864A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410176450.X

    申请日:2024-02-08

    Abstract: 一种制造半导体器件的方法,包括:场板电极经由第一绝缘膜而形成在沟槽的内部;场板电极的另一部分被选择性地去除,使得场板电极的一部分被作为引线部分保留;在第一绝缘膜凹陷之后,保护膜被形成在第一绝缘膜上;栅极绝缘膜形成在沟槽的内部,并且第二绝缘膜形成,以覆盖场板电极;导电膜形成在栅极绝缘膜、第二绝缘膜和保护膜上;通过去除位于沟槽外部的导电膜,栅极电极形成在场板电极上,此时,在保护膜和第二绝缘膜中的一者上形成的、与引线部分接触的导电膜被去除。

    过电压保护电路、连接器和半导体设备

    公开(公告)号:CN118589413A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202410189466.4

    申请日:2024-02-20

    Inventor: 西谷朋也

    Abstract: 本公开的各实施例涉及过电压保护电路、连接器和半导体设备。根据一个实施例,一种过电压保护电路包括:电流输出电路,包括布置在电源与CC端子之间的第一晶体管和布置在第一晶体管与CC端子之间的第二晶体管,该电流输出电路向要被驱动的第一晶体管输出电流,使得电流从电源流出;以及栅极输入电路,控制第二晶体管的栅极的电压和背栅极的电压,栅极输入电路响应于施加到CC端子的电压而控制第二晶体管的栅极的电压和背栅极的电压,并且电流输出电路在第二晶体管的控制下保护第一晶体管免受施加到CC端子的电压的影响。

    半导体器件及制造半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN111540784B

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202010080720.9

    申请日:2020-02-05

    Inventor: 德田悟

    Abstract: 本发明涉及半导体器件及制造半导体器件的方法。公开了一种实现小型化和高击穿电压二者的半导体器件。半导体器件具有形成在沿Y方向延伸的沟槽TR中的栅极电极G1和包括形成在漂移区域ND中的柱区域PC1到PC3的多个柱区域PC。柱区域PC1、PC2和PC3以交错方式设置,以夹住沟槽TR。连接柱区域PC1和PC2的中心的线与连接柱区域PC1和PC3的中心的线形成的角度θ1大于或等于60度且小于或等于90度。

    半导体器件及其制造方法
    110.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111640789B

    公开(公告)日:2024-08-20

    申请号:CN202010130422.6

    申请日:2020-02-28

    Inventor: 山口直

    Abstract: 本公开的实施例涉及半导体器件及其制造方法。在具有由鳍型MISFET配置的MONOS存储器的半导体器件中,防止了布线之间的寄生电容伴随半导体器件小型化的增加,并且提高了半导体器件的可靠性。在存储器单元阵列中,其中布置了在鳍上形成的多个MONOS型存储器单元,在鳍的短方向上布置的多个鳍上形成的源极区域通过跨过鳍的一个外延层彼此电连接。

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