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公开(公告)号:CN105612023A
公开(公告)日:2016-05-25
申请号:CN201480055133.7
申请日:2014-10-06
申请人: 梅勒菲尔股份有限公司
CPC分类号: A01G25/026 , G01B11/14 , G01B11/303
摘要: 一种用于灌溉管制造系统的滴流器检测设备(20),其包括连续管馈送器,连续管馈送器能够使管(100)配备有具有水出口(126)的滴流器(120),所述管(100)沿着预定的循环方向(X-X')循环,同时在预定的方位保持滴流器的水出口(126),所述滴流器检测设备(20)包括激光检测单元(22),激光检测单元(22)具有激光源(24)以及激光信号接收器(26),激光源(24)指向滴流器(120)以规律的间隔存在的管外表面(104)位置发射激光束(25),激光信号接收器(26)接收和分析在管外表面(104)上反射的激光束(27),以提供转换的反射的信号,该信号包含关于面向所述激光检测单元(22)的每个滴流器(120)的通道的信息。
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公开(公告)号:CN105547482A
公开(公告)日:2016-05-04
申请号:CN201510707655.7
申请日:2015-10-27
申请人: 涂层国外知识产权有限公司
CPC分类号: G01N21/57 , G01J3/02 , G01J3/46 , G01J3/50 , G01J3/52 , G01N2021/575 , G01J3/504 , G01B11/303 , G01N21/17
摘要: 用于量化颜色/外观随角变化的有色表面之间的差异的系统和方法包括确定在第一逆定向反射角处以及在第二逆定向反射角处第一表面和第二表面的亮度(L*)、闪烁面积(Sa)以及闪烁强度(Si)。利用在第一逆定向反射角处以及在第二逆定向反射角处第一表面和第二表面的亮度(L*)、闪烁面积(Sa)以及闪烁强度(Si)来计算闪烁度量(SpkM),以量化第一表面与第二表面之间的差异。
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公开(公告)号:CN105526862A
公开(公告)日:2016-04-27
申请号:CN201510999283.X
申请日:2015-12-25
申请人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
CPC分类号: G01B11/00 , G01B11/303
摘要: 本发明公开了一种靶参数测量装置,包括支架、五维调整机构、视觉检测机构和基准确定机构,所述五维调整机构、视觉检测机构和基准确定机构分别固定在支架上,靶固定在五维调整机构上,所述视觉检测机构为3个,分别为上视觉检测机构、中视觉检测机构和下视觉检测机构,所述上视觉检测机构位于靶的上方,所述中视觉检测机构位于靶的侧面,所述下视觉检测机构位于靶的下方,本发明实现物理实验靶参数的高精度离线测量以及采集靶的标准图像特征,为实现物理实验靶,特别是大尺寸靶和形状不规则靶的在线自动引导提供标准数据。
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公开(公告)号:CN105378427A
公开(公告)日:2016-03-02
申请号:CN201480023764.0
申请日:2014-04-25
申请人: 通用电气公司
CPC分类号: G01B11/303 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01B11/306 , G01N21/47 , G01N21/55
摘要: 一种表面粗糙度测量装置,其在一个实施例中包括主发射纤维和辅助发射纤维、多个收集纤维、光学壳体、主反射镜和辅助反射镜,以及外部电路。光学壳体包括纤维,并且限定用于光学地接触物体的表面的孔口。主反射镜布置在光学壳体中,用于将从主发射纤维发射的光反射至孔口的检测点,并且将由物体反射的光反射至收集纤维。辅助反射镜布置在光学壳体中,用于将从辅助发射纤维发射的光反射至检测点。外部电路用于生成激光束至主发射纤维和辅助发射纤维,收集来自收集纤维的反射光,并且基于收集的反射光来计算物体的表面粗糙度。
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公开(公告)号:CN102384914B
公开(公告)日:2016-03-02
申请号:CN201110230118.X
申请日:2011-08-09
申请人: 村田机械株式会社
发明人: 中出一彦
IPC分类号: G01N21/89 , G01N21/952 , B65H63/00
CPC分类号: G01N21/8915 , G01B11/0691 , G01B11/303
摘要: 本发明提供一种纤维条体测定装置,检测异物时,能够抑制阴影的产生从而使异物检测灵敏度提高,并且,能够良好地检测纤维条体的粗度不均。清纱器(11)具有光源部(36)、兼作为透射光受光部及反射光受光部的受光部、扩散部件(38)。光源部(36)对移动的纺织纱线照射光。受光部将从光源部(36)照射并透过纺织纱线的光受光。另外,所述受光部将从光源部(36)照射并被纺织纱线反射的光受光。扩散部件(38)配置在光源部(36)与纺织纱线之间,使来自光源部(36)的光扩散。而且,扩散部件(38)以如下方式构成:与使光在与纺织纱线的移动方向平行的平面内扩散的程度相比,使光在与该移动方向正交的平面内扩散的程度大。
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公开(公告)号:CN103003664B
公开(公告)日:2015-04-15
申请号:CN201180034055.9
申请日:2011-07-11
申请人: K-空间协会公司
发明人: 达里尔·巴利特 , 查尔斯·A·泰勒二世 , 巴里·D·维斯曼
IPC分类号: G01B11/30 , G01N21/958
CPC分类号: G01B11/0625 , G01B11/0616 , G01B11/303 , G01N21/47 , G01N21/8422
摘要: 本发明提供一种用于与沉积在大体透明基底(28)例如光伏电池上的薄膜半导体材料(26)的生产相关的方法和装置(20),用于检测薄膜(26)的特性,例如它的温度、表面粗糙度、厚度和/或光学吸收特性。由膜(26)发射的漫散射光(34,34’)得到的光谱曲线(44)揭示了特征光学吸收(Urbach)边。此外,吸收边可用于评价离散的材料样本(22)之间或同一材料样品(22)的不同位置之间的相对表面粗糙状况。通过比较两个或多个光谱曲线的吸收边特性,可以进行定性评价以确定膜(26)的表面粗糙度是优质还是劣质。
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公开(公告)号:CN102667400B
公开(公告)日:2014-11-05
申请号:CN201080058029.5
申请日:2010-08-03
申请人: 新日铁住金株式会社
CPC分类号: B21B38/02 , B21C51/00 , G01B11/2513 , G01B11/303 , G01B11/306 , G01N21/8806 , G01N21/89
摘要: 提供一种当在能够接收投影在正反射性强的板材的表面上的明暗图案的正反射光的位置处配置摄像单元的情况下也能够高精度地测量板材的表面形状/平坦度的方法。本发明所涉及的方法使用亮部在纵方向以及横方向上分别以规定的设定间距配置为交错状而得到的交错状图案作为投影在板材的表面上的明暗图案。对由摄像单元获取的图案图像设定沿着交错状图案的纵方向延伸的形状测量线,将经过形状测量线上的像素而在交错状图案的横方向上延伸且长度为亮部的横方向设定间距的两倍以上的直线上的像素浓度进行平均化,来计算平均像素浓度。根据沿着形状测量线的平均像素浓度分布来计算出板材的表面形状,根据计算出的该表面形状来运算板材的平坦度。
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公开(公告)号:CN104121872A
公开(公告)日:2014-10-29
申请号:CN201310150620.9
申请日:2013-04-26
申请人: 通用电气公司
IPC分类号: G01B11/30
CPC分类号: G01B11/303 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01B11/306 , G01N21/47 , G01N21/55
摘要: 本发明涉及一种表面粗糙度测量装置,该装置包括含有一根主发射光纤及若干收集光纤的光纤束、一根副发射光纤、一个用于容置该光纤束及副发射光纤且开设有接触待测物体的测量口的光学腔、容置于光学腔内的主副反射镜、及外部电路。该主反射镜用于将该主发射光纤发射的光线反射至该测量口的一个测试点上,还用于将待测物体反射后的光线反射至该收集光纤中。该副反射镜用于将该副发射光纤发射的光线反射至该测量口的该测试点上。该外部电路用于选择性将一束激光发射至该主发射光纤及副发射光纤,用于接收该若干收集光纤收集的光线,及用于根据接收的光线计算该待测物体的表面粗糙度。
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公开(公告)号:CN101568797B
公开(公告)日:2013-03-27
申请号:CN200780047754.0
申请日:2007-10-31
申请人: 三菱重工业株式会社
IPC分类号: G01B11/06
CPC分类号: G01B11/0633 , G01B11/0683 , G01B11/303
摘要: 本发明以降低膜厚的计测误差为目的。对将膜质状态及膜厚不同的薄膜形成于基板上的多个样本照射不同波长的照明光,分别计测与照射各波长的照明光时的透射光的光量相关的评价值,基于该计测结果,对每个波长作成表示各膜质状态中膜厚和评价值的相关关系的膜厚特性,在各膜厚特性中选择由膜质状态引起的评价值的计测差在规定范围内的波长。
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公开(公告)号:CN102483577A
公开(公告)日:2012-05-30
申请号:CN201080017831.X
申请日:2010-03-05
申请人: 麦克罗尼克迈达塔有限责任公司
发明人: T.桑德斯特罗姆
IPC分类号: G03F7/20
CPC分类号: G01B11/303 , G03F7/70291 , G03F7/70366 , G03F7/70433 , G03F7/70508 , G03F7/70516 , G03F7/70591 , G03F7/70783
摘要: 本发明公开的技术涉及管理随着扫描头扫掠不与第一轴平行的弯曲路径沿着第一轴的变化像素重叠。尤其,我们展示了随着转子臂扫掠不与第一轴平行的弯曲路径沿着第一轴使用变频像素时钟产生等间隔像素。该像素时钟具有随着扫描头相对于第一轴的位置近似正弦变化的变化频率。
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