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公开(公告)号:CN104121872B
公开(公告)日:2018-04-13
申请号:CN201310150620.9
申请日:2013-04-26
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/30
CPC classification number: G01B11/303 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01B11/306 , G01N21/47 , G01N21/55
Abstract: 本发明涉及一种表面粗糙度测量装置,该装置包括含有一根主发射光纤及若干收集光纤的光纤束、一根副发射光纤、一个用于容置该光纤束及副发射光纤且开设有接触待测物体的测量口的光学腔、容置于光学腔内的主副反射镜、及外部电路。该主反射镜用于将该主发射光纤发射的光线反射至该测量口的一个测试点上,还用于将待测物体反射后的光线反射至该收集光纤中。该副反射镜用于将该副发射光纤发射的光线反射至该测量口的该测试点上。该外部电路用于选择性将一束激光发射至该主发射光纤及副发射光纤,用于接收该若干收集光纤收集的光线,及用于根据接收的光线计算该待测物体的表面粗糙度。
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公开(公告)号:CN102749332A
公开(公告)日:2012-10-24
申请号:CN201110096267.1
申请日:2011-04-18
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N21/21 , G01N21/8803 , G01N21/954 , G02B5/3083 , G02B23/243 , G02B26/00 , G02B27/0075 , G02B27/286
Abstract: 本发明揭示一种光学系统和光学检测装置以及检测方法。该光学系统用于以视觉方式对待测对象进行检测,该待测对象的位置相对于光学系统可以变化。该光学系统包括将从待测对象反射的或者散射的入射光线转换成线性偏振光的偏光元件,在控制信号的作用下对线性偏振光的偏振状态进行调变的光学调变元件,及包括至少一个双折射元件的透镜群组。该双折射元件以第一折射率对入射的调变后的具有第一种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第一物距的待测对象进行视觉检测,该双折射元件以第二折射率对入射的调变后的具有第二种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第二物距的待测对象进行视觉检测。
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公开(公告)号:CN102564302A
公开(公告)日:2012-07-11
申请号:CN201010601226.9
申请日:2010-12-10
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/2513 , G01B11/2527 , G01S17/36 , G01S17/89
Abstract: 本发明涉及一种测量系统和方法。该测量系统包括可产生复数个调制相移光线的光源单元、可反射所述复数个调制相移光线到物体表面的投射单元、可捕获由物体表面反射的调制相移光线的光学单元、可接收来自光学单元的调制相移光线并产生电信号的光电探测装置及可基于来自所述光电探测装置的电信号以获取所述物体表面的位置信息的处理装置。
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公开(公告)号:CN105741005A
公开(公告)日:2016-07-06
申请号:CN201410769172.5
申请日:2014-12-12
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: Y02P90/30
Abstract: 本发明涉及零件维护计划的优化方法及其系统,其中的一种零件维护计划的优化方法包括如下步骤:通过一检测器在一段时间内收集所述零件的缺陷数据,以形成一历史记录;建立一仿真模型,所述仿真模型包括所述零件的位置类型数据;基于所述仿真模型,预测所述零件的失效机制;将所述历史记录映射到所述仿真模型上,以建立一零件历史缺陷模型,所述零件历史缺陷模型包括每个缺陷的位置类型;至少基于所述缺陷的位置类型,判定所述缺陷的影响程度;基于所述零件的失效机制、所述零件历史缺陷模型和所述缺陷的影响程度,预测所述零件的失效可能性;及基于所述失效可能性,优化所述零件的维护计划。
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公开(公告)号:CN105100682A
公开(公告)日:2015-11-25
申请号:CN201410180922.5
申请日:2014-04-30
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H04N7/183 , A61B1/00009 , A61B1/00052 , A61B1/0051 , G01N21/954 , G02B23/2476 , G02B23/2484 , H04N5/23293 , H04N2005/2255
Abstract: 本发明涉及一种管道镜,具体为具有导航功能的管道镜,其包括设有探测头及传感器的探测管和至少一个传感器、第一图像处理器、模型存储单元、位姿计算器、第二图像处理器、导航图像计算器和显示器。传感器用于接收探测管的信号并生成对应的感应信号。第一图像处理器用于根据探测头捕获的第一图像信号计算得到第一图像。模型存储单元用于存储被检测机械装置的预设模型。位姿计算器用于根据感应信号计算得到探测头的初始位姿。第二图像处理器用于调整初始位姿至导航位姿,以满足第一图像和第二图像之间的偏差落入允许范围。导航图像计算器用于根据导航位姿和预设模型计算得到导航图像。显示器用于显示导航图像。本发明还揭示一种用于导航管道镜的探测头的方法。
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公开(公告)号:CN103033942B
公开(公告)日:2015-07-15
申请号:CN201110293452.X
申请日:2011-09-29
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G02B27/283 , A61B1/00186 , A61B1/045 , A61B5/0059 , A61B2560/0223 , G01N21/21
Abstract: 本发明涉及一种光学成像系统和方法以及孔径光阑组合和孔径元件,该光学成像系统包括双折射元件,用于将非偏振光以不同的折射率分解成一第一线偏振光及一第二线偏振光,以分别形成该光学成像系统的第一焦距模式及第二焦距模式;旋光元件,用于在控制信号的作用下调整该第一及第二线偏振光的偏振态;偏光元件,用于滤除偏振态调整后的该第一及第二线偏振光之一,以形成单一成像。
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公开(公告)号:CN103226060A
公开(公告)日:2013-07-31
申请号:CN201210021267.X
申请日:2012-01-31
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01M13/00
CPC classification number: G01B11/14 , G01B11/167 , G01B11/26
Abstract: 本发明涉及一种可用于对运行中的风力涡轮机的叶片进行检测的检测系统和方法。该检测系统包括光投射单元、成像单元及处理单元。光投射单元可产生并投射光图样到运行中的风力涡轮机的叶片上。成像单元可在所述叶片的转动过程中对由投射到所述叶片上的所述光图样在所述叶片上所产生的复数个扫描图案进行成像。处理单元可对来自于所述成像单元的所述成像的复数个扫描图案进行处理以对所述叶片的偏转状态进行检测。
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公开(公告)号:CN105378427A
公开(公告)日:2016-03-02
申请号:CN201480023764.0
申请日:2014-04-25
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/303 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01B11/306 , G01N21/47 , G01N21/55
Abstract: 一种表面粗糙度测量装置,其在一个实施例中包括主发射纤维和辅助发射纤维、多个收集纤维、光学壳体、主反射镜和辅助反射镜,以及外部电路。光学壳体包括纤维,并且限定用于光学地接触物体的表面的孔口。主反射镜布置在光学壳体中,用于将从主发射纤维发射的光反射至孔口的检测点,并且将由物体反射的光反射至收集纤维。辅助反射镜布置在光学壳体中,用于将从辅助发射纤维发射的光反射至检测点。外部电路用于生成激光束至主发射纤维和辅助发射纤维,收集来自收集纤维的反射光,并且基于收集的反射光来计算物体的表面粗糙度。
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公开(公告)号:CN104121872A
公开(公告)日:2014-10-29
申请号:CN201310150620.9
申请日:2013-04-26
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/30
CPC classification number: G01B11/303 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01B11/306 , G01N21/47 , G01N21/55
Abstract: 本发明涉及一种表面粗糙度测量装置,该装置包括含有一根主发射光纤及若干收集光纤的光纤束、一根副发射光纤、一个用于容置该光纤束及副发射光纤且开设有接触待测物体的测量口的光学腔、容置于光学腔内的主副反射镜、及外部电路。该主反射镜用于将该主发射光纤发射的光线反射至该测量口的一个测试点上,还用于将待测物体反射后的光线反射至该收集光纤中。该副反射镜用于将该副发射光纤发射的光线反射至该测量口的该测试点上。该外部电路用于选择性将一束激光发射至该主发射光纤及副发射光纤,用于接收该若干收集光纤收集的光线,及用于根据接收的光线计算该待测物体的表面粗糙度。
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公开(公告)号:CN101634730B
公开(公告)日:2013-03-27
申请号:CN200810134477.3
申请日:2008-07-25
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明涉及将多个具有不同波长的多模光源转化成单模或准单模光源的方法和使用前述方法的系统。前述方法包括的步骤有:提供模限制器和光转化器,其中光转化器剥除多模光源中一个或多个高次传播模以将多模光源转化成单模或准单模光源;提供位于多模光源与模限制器之间的光结合器。
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