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公开(公告)号：CN104280852A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410278163.6
申请日：2014-06-20
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 杨东民
CPC classification number: G02F1/01 , G02B15/00 , G02B23/2438 , G02B23/2446 , G02B23/2476 , G02B27/286 , H04N7/183
Abstract: 本发明题为光学系统和方法。视频探头组件中的光学系统包括多个透镜，其配置成使分离的线偏振光线根据不同的折射率来折射以形成多个不同的焦距。该光学系统包括至少一个光调制元件，其响应于控制信号而调制经过至少一个光调制元件的线偏振光线的偏振态。光学系统包括偏振器元件，其滤除经过该偏振器元件的线偏振光线中的一些。还提供检查视频探头组件的光学系统的目标的方法。
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公开(公告)号：CN107726053A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201610666159.6
申请日：2016-08-12
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明公开了一种探头系统。该探头系统包括：发光单元，用来发射光；图案生成单元，用来投射至少一个参照结构光图案至物体表面以获得至少一个参照投影图案，所述图案生成单元包括振镜扫描单元，用来将发光单元发射的光反射至多个方向；及光强调制器，用来根据所述参照投影图案调制发光单元发射的光的强度，且提供调制光至所述振镜扫描单元来将调制光反射至多个方向，来投射至少一个调制结构光图案至物体表面，以获得至少一个调制投影图案。本发明还公开一种检测方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102749332A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201110096267.1
申请日：2011-04-18
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N21/21 , G01N21/8803 , G01N21/954 , G02B5/3083 , G02B23/243 , G02B26/00 , G02B27/0075 , G02B27/286
Abstract: 本发明揭示一种光学系统和光学检测装置以及检测方法。该光学系统用于以视觉方式对待测对象进行检测，该待测对象的位置相对于光学系统可以变化。该光学系统包括将从待测对象反射的或者散射的入射光线转换成线性偏振光的偏光元件，在控制信号的作用下对线性偏振光的偏振状态进行调变的光学调变元件，及包括至少一个双折射元件的透镜群组。该双折射元件以第一折射率对入射的调变后的具有第一种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第一物距的待测对象进行视觉检测，该双折射元件以第二折射率对入射的调变后的具有第二种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第二物距的待测对象进行视觉检测。
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公开(公告)号：CN107726053B
公开(公告)日：2020-10-13
申请号：CN201610666159.6
申请日：2016-08-12
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明公开了一种探头系统。该探头系统包括：发光单元，用来发射光；图案生成单元，用来投射至少一个参照结构光图案至物体表面以获得至少一个参照投影图案，所述图案生成单元包括振镜扫描单元，用来将发光单元发射的光反射至多个方向；及光强调制器，用来根据所述参照投影图案调制发光单元发射的光的强度，且提供调制光至所述振镜扫描单元来将调制光反射至多个方向，来投射至少一个调制结构光图案至物体表面，以获得至少一个调制投影图案。本发明还公开一种检测方法。
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公开(公告)号：CN102749332B
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201110096267.1
申请日：2011-04-18
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N21/21 , G01N21/8803 , G01N21/954 , G02B5/3083 , G02B23/243 , G02B26/00 , G02B27/0075 , G02B27/286
Abstract: 本发明揭示一种光学系统和光学检测装置以及检测方法。该光学系统用于以视觉方式对待测对象进行检测，该待测对象的位置相对于光学系统可以变化。该光学系统包括将从待测对象反射的或者散射的入射光线转换成线性偏振光的偏光元件，在控制信号的作用下对线性偏振光的偏振状态进行调变的光学调变元件，及包括至少一个双折射元件的透镜群组。该双折射元件以第一折射率对入射的调变后的具有第一种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第一物距的待测对象进行视觉检测，该双折射元件以第二折射率对入射的调变后的具有第二种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第二物距的待测对象进行视觉检测。
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公开(公告)号：CN103033942A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201110293452.X
申请日：2011-09-29
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G02B27/283 , A61B1/00186 , A61B1/045 , A61B5/0059 , A61B2560/0223 , G01N21/21
Abstract: 本发明涉及一种光学成像系统和方法以及孔径光阑组合和孔径元件，该光学成像系统包括双折射元件，用于将非偏振光以不同的折射率分解成一第一线偏振光及一第二线偏振光，以分别形成该光学成像系统的第一焦距模式及第二焦距模式；旋光元件，用于在控制信号的作用下调整该第一及第二线偏振光的偏振态；偏光元件，用于滤除偏振态调整后的该第一及第二线偏振光之一，以形成单一成像。
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公开(公告)号：CN103033942B
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201110293452.X
申请日：2011-09-29
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G02B27/283 , A61B1/00186 , A61B1/045 , A61B5/0059 , A61B2560/0223 , G01N21/21
Abstract: 本发明涉及一种光学成像系统和方法以及孔径光阑组合和孔径元件，该光学成像系统包括双折射元件，用于将非偏振光以不同的折射率分解成一第一线偏振光及一第二线偏振光，以分别形成该光学成像系统的第一焦距模式及第二焦距模式；旋光元件，用于在控制信号的作用下调整该第一及第二线偏振光的偏振态；偏光元件，用于滤除偏振态调整后的该第一及第二线偏振光之一，以形成单一成像。
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