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公开(公告)号：CN104121872A
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201310150620.9
申请日：2013-04-26
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/30
CPC classification number: G01B11/303 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01B11/306 , G01N21/47 , G01N21/55
Abstract: 本发明涉及一种表面粗糙度测量装置，该装置包括含有一根主发射光纤及若干收集光纤的光纤束、一根副发射光纤、一个用于容置该光纤束及副发射光纤且开设有接触待测物体的测量口的光学腔、容置于光学腔内的主副反射镜、及外部电路。该主反射镜用于将该主发射光纤发射的光线反射至该测量口的一个测试点上，还用于将待测物体反射后的光线反射至该收集光纤中。该副反射镜用于将该副发射光纤发射的光线反射至该测量口的该测试点上。该外部电路用于选择性将一束激光发射至该主发射光纤及副发射光纤，用于接收该若干收集光纤收集的光线，及用于根据接收的光线计算该待测物体的表面粗糙度。
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公开(公告)号：CN104121872B
公开(公告)日：2018-04-13
申请号：CN201310150620.9
申请日：2013-04-26
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/30
CPC classification number: G01B11/303 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01B11/306 , G01N21/47 , G01N21/55
Abstract: 本发明涉及一种表面粗糙度测量装置，该装置包括含有一根主发射光纤及若干收集光纤的光纤束、一根副发射光纤、一个用于容置该光纤束及副发射光纤且开设有接触待测物体的测量口的光学腔、容置于光学腔内的主副反射镜、及外部电路。该主反射镜用于将该主发射光纤发射的光线反射至该测量口的一个测试点上，还用于将待测物体反射后的光线反射至该收集光纤中。该副反射镜用于将该副发射光纤发射的光线反射至该测量口的该测试点上。该外部电路用于选择性将一束激光发射至该主发射光纤及副发射光纤，用于接收该若干收集光纤收集的光线，及用于根据接收的光线计算该待测物体的表面粗糙度。
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公开(公告)号：CN102749332A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201110096267.1
申请日：2011-04-18
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N21/21 , G01N21/8803 , G01N21/954 , G02B5/3083 , G02B23/243 , G02B26/00 , G02B27/0075 , G02B27/286
Abstract: 本发明揭示一种光学系统和光学检测装置以及检测方法。该光学系统用于以视觉方式对待测对象进行检测，该待测对象的位置相对于光学系统可以变化。该光学系统包括将从待测对象反射的或者散射的入射光线转换成线性偏振光的偏光元件，在控制信号的作用下对线性偏振光的偏振状态进行调变的光学调变元件，及包括至少一个双折射元件的透镜群组。该双折射元件以第一折射率对入射的调变后的具有第一种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第一物距的待测对象进行视觉检测，该双折射元件以第二折射率对入射的调变后的具有第二种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第二物距的待测对象进行视觉检测。
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公开(公告)号：CN103033942B
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201110293452.X
申请日：2011-09-29
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G02B27/283 , A61B1/00186 , A61B1/045 , A61B5/0059 , A61B2560/0223 , G01N21/21
Abstract: 本发明涉及一种光学成像系统和方法以及孔径光阑组合和孔径元件，该光学成像系统包括双折射元件，用于将非偏振光以不同的折射率分解成一第一线偏振光及一第二线偏振光，以分别形成该光学成像系统的第一焦距模式及第二焦距模式；旋光元件，用于在控制信号的作用下调整该第一及第二线偏振光的偏振态；偏光元件，用于滤除偏振态调整后的该第一及第二线偏振光之一，以形成单一成像。
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公开(公告)号：CN103363951A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201210103611.X
申请日：2012-04-10
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 穆罕默德.M.达乃斯帕纳哈 , 凯文.G.哈丁 , 谢广平
IPC: G01C3/10
Abstract: 本发明涉及一种三角法距离测量系统及其方法。该测量系统包括光源、光学单元及接收装置。光源可用来投射光线到物体上的点上。光学单元可转动的在绕着所述投射光线的复数个位置上捕获来自所述点的相应的反射光线。接收装置可对来自所述光学单元的所述反射光线进行感应处理以进行复数次所述点的测量来获得该点的距离。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103226060A
公开(公告)日：2013-07-31
申请号：CN201210021267.X
申请日：2012-01-31
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01M13/00
CPC classification number: G01B11/14 , G01B11/167 , G01B11/26
Abstract: 本发明涉及一种可用于对运行中的风力涡轮机的叶片进行检测的检测系统和方法。该检测系统包括光投射单元、成像单元及处理单元。光投射单元可产生并投射光图样到运行中的风力涡轮机的叶片上。成像单元可在所述叶片的转动过程中对由投射到所述叶片上的所述光图样在所述叶片上所产生的复数个扫描图案进行成像。处理单元可对来自于所述成像单元的所述成像的复数个扫描图案进行处理以对所述叶片的偏转状态进行检测。
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公开(公告)号：CN103226060B
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201210021267.X
申请日：2012-01-31
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01M13/00
CPC classification number: G01B11/14 , G01B11/167 , G01B11/26
Abstract: 本发明涉及一种可用于对运行中的风力涡轮机的叶片进行检测的检测系统和方法。该检测系统包括光投射单元、成像单元及处理单元。光投射单元可产生并投射光图样到运行中的风力涡轮机的叶片上。成像单元可在所述叶片的转动过程中对由投射到所述叶片上的所述光图样在所述叶片上所产生的多个扫描图案进行成像。处理单元可对来自于所述成像单元的所述成像的多个扫描图案进行处理以对所述叶片的偏转状态进行检测。
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公开(公告)号：CN103363951B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201210103611.X
申请日：2012-04-10
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 穆罕默德.M.达乃斯帕纳哈 , 凯文.G.哈丁 , 谢广平
IPC: G01C3/10
Abstract: 本发明涉及一种三角法距离测量系统及其方法。该测量系统包括光源、光学单元及接收装置。光源可用来投射光线到物体上的点上。光学单元可转动的在绕着所述投射光线的复数个位置上捕获来自所述点的相应的反射光线。接收装置可对来自所述光学单元的所述反射光线进行感应处理以进行复数次所述点的测量来获得该点的距离。
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公开(公告)号：CN102749332B
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201110096267.1
申请日：2011-04-18
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N21/21 , G01N21/8803 , G01N21/954 , G02B5/3083 , G02B23/243 , G02B26/00 , G02B27/0075 , G02B27/286
Abstract: 本发明揭示一种光学系统和光学检测装置以及检测方法。该光学系统用于以视觉方式对待测对象进行检测，该待测对象的位置相对于光学系统可以变化。该光学系统包括将从待测对象反射的或者散射的入射光线转换成线性偏振光的偏光元件，在控制信号的作用下对线性偏振光的偏振状态进行调变的光学调变元件，及包括至少一个双折射元件的透镜群组。该双折射元件以第一折射率对入射的调变后的具有第一种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第一物距的待测对象进行视觉检测，该双折射元件以第二折射率对入射的调变后的具有第二种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第二物距的待测对象进行视觉检测。
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公开(公告)号：CN103017677B
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201110304920.9
申请日：2011-09-23
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B21/20 , B23Q17/0933 , B23Q17/0938 , G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种用包括点式位移传感器的测量系统测量刀具刀刃轮廓的方法，该方法包括以下步骤：(a)将刀具沿其轴线旋转，用点式位移传感器扫描刀具的刃点，其中包括位于目标刃上的目标刃点，获得包含所述目标刃点的位置及方位信息的第一个点云；(b)根据目标刃点的位置及方位信息调整所述刀具与点式位移传感器之间的相对位置，使得所述点式传感器聚焦于包含所述目标刃点的感兴趣区域上；以及(c)用点式位移传感器扫描所述感兴趣区域，以获得第二个点云，该第二个点云包括分析所述刀具刀刃的轮廓所需的几何信息。
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