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公开(公告)号:CN104520966B
公开(公告)日:2016-11-16
申请号:CN201380041393.4
申请日:2013-07-08
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/18 , H01J37/16 , H01J37/20 , H01J37/261 , H01J37/28 , H01J2237/1825 , H01J2237/2448 , H01J2237/2602 , H01J2237/2605
Abstract: 本发明提供一种具备对气体氛围或者液体状态下的试样进行观察的功能的带电粒子束装置,其目的在于对向干燥状态的试样导入液体而逐渐浸润的样子进行观察,并且防止向隔膜与试样之间导入多余的液体而使带电粒子束散射。本发明具备如下结构,该结构具备从试样(6)的下表面方向或者侧面方向导入导出所希望的液体或者气体的导入导出部(300),并在试样(6)与隔膜(10)为非接触的状态下将一次带电粒子束照射至试样(6)。
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公开(公告)号:CN104685602B
公开(公告)日:2016-11-09
申请号:CN201380051004.6
申请日:2013-09-25
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/20 , H01J37/16 , H01J37/18 , H01J2237/164 , H01J2237/2608
Abstract: 在进行大气压或与大气压大致同等压力的气体环境下的观察的带电粒子束装置中,将载置有试样的大气压空间与电子光学镜筒内部的真空空间隔离的隔膜由于使电子束透射因此非常薄,破损的可能性较高。更换隔膜时需要调整隔膜位置,在现有技术的方法中,无法容易地进行该隔膜位置的调整。在采用将真空环境与大气环境或气体环境分隔的薄膜的结构的带电粒子束装置中,具备:隔膜,其能够拆装,并以将载置有试样的空间的压力保持为比机箱内部的压力大的方式将载置有试样的空间隔离,并能够使一次带电粒子束透射或通过,以及可动部件,能够以保持载置有试样的空间的压力和机箱内部的压力的状态移动上述隔膜。
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公开(公告)号:CN104756223A
公开(公告)日:2015-07-01
申请号:CN201380055784.1
申请日:2013-10-29
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J37/20 , H01J37/16 , H01J37/18 , H01J37/244
CPC classification number: H01J37/16 , H01J37/20 , H01J37/28 , H01J2237/164 , H01J2237/182 , H01J2237/188 , H01J2237/2003 , H01J2237/2006 , H01J2237/20221 , H01J2237/20235 , H01J2237/28
Abstract: 本发明的试样收纳容器具备:将试样(6)收纳在与外部的环境状态不同的环境状态下的收纳容器(100);带电粒子线能通过或透过的隔膜(10);试样载物台(103),其设于收纳容器(100)的内部,能在将收纳容器(100)的内外环境状态保持为不同的环境状态的状态下,使试样(6)相对于隔膜(10)的相对位置在水平方向及垂直方向上移动;以及操作部(104),其从收纳容器(100)的外部操作试样载物台(103)的移动,以收纳试样(6)的状态设于带电粒子线装置的真空房间内。
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公开(公告)号:CN105493224B
公开(公告)日:2017-06-06
申请号:CN201480044976.7
申请日:2014-03-10
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/20 , G01M3/02 , H01J37/16 , H01J37/18 , H01J37/26 , H01J37/28 , H01J2237/188 , H01J2237/2002 , H01J2237/2006 , H01J2237/2605 , H01J2237/2608 , H01J2237/2802
Abstract: 以往在更换隔膜时未充分考虑所需的成本、作业的便利性等,因此装置难以使用。在本发明中,通过隔离真空空间与大气压空间的隔膜(10)而将一次带电粒子线照射在放置于大气压空间的试样上的带电粒子线装置上所设置的隔膜安装部件(155)具有:安装TEM用膜片的隔膜设置部位;以及安装在带电粒子线装置的壳体上的壳体固定部位。并且,该隔膜设置部位具有对保持有隔膜(10)的基座(9)进行定位的定位结构(155a)。
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公开(公告)号:CN105518821A
公开(公告)日:2016-04-20
申请号:CN201480048806.6
申请日:2014-03-10
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/16 , H01J37/18 , H01J37/20 , H01J37/263 , H01J37/28 , H01J2237/164 , H01J2237/202 , H01J2237/28
Abstract: 在带电粒子光学系统与试样之间设置了带电粒子束可透射的隔膜的带电粒子束装置中,在试样存在凹凸的情况下,也防止试样与隔膜的接触。根据从检测器(3)输出的检测信号或根据该检测信号生成的图像,监视试样(6)与隔膜(10)的距离,上述检测器(3)检测通过照射初级带电粒子束从试样(6)放出的次级带电粒子。
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公开(公告)号:CN104520965A
公开(公告)日:2015-04-15
申请号:CN201380041332.8
申请日:2013-07-03
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/20 , H01J37/18 , H01J37/261 , H01J37/28 , H01J2237/16 , H01J2237/20 , H01J2237/2003 , H01J2237/20235 , H01J2237/20292 , H01J2237/2605 , H01J2237/2608
Abstract: 现有的带电粒子束装置都是为了大气压下或与大气压大致相等的压力的气体氛围下的观察而专门制造的装置,而不存在使用通常的高真空型带电粒子显微镜能够简便地进行大气压下或与大气压大致相等的压力的气体氛围下的观察的装置。并且,在现有技术的方法中,没有控制隔膜与试样的距离的方法,存在隔膜破损的可能性高的问题。因此,本发明的特征在于具备:可拆卸的隔膜,其将放置了试样的空间隔离,以便保持放置了试样的空间的压力大于所述壳体内部的压力,并使一次带电粒子束透射或通过;接触防止部件,其防止试样与隔膜接触;以及调整机构,其可使接触防止部件的至少一部分在带电粒子光学镜筒的光轴方向上移动。
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公开(公告)号:CN105103262B
公开(公告)日:2017-10-10
申请号:CN201480019441.4
申请日:2014-03-05
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/16 , H01J37/026 , H01J37/18 , H01J37/20 , H01J37/26 , H01J2237/0213 , H01J2237/022 , H01J2237/2003 , H01J2237/2006
Abstract: 本发明的特征是在配置于非真空下的试料(6)与一次电子光学系统之间设有隔膜(10)的扫描电子显微镜中,具备过滤部件(200),该过滤部件(200)至少在一次带电粒子束照射于试料的状态下配置在一次带电粒子束的路径上,使一次带电粒子束以及从试料得到的二次带电粒子透射或者通过,并且在隔膜破损了的情况下对飞散的飞散物的至少一部分进行遮蔽。由此,当在试料观察过程中隔膜损伤了的情况下,能够利用简单的结构没有时滞地防止因试料被吸入带电粒子光学镜筒内而产生的带电粒子光学系统、检测器的污染。
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公开(公告)号:CN104756223B
公开(公告)日:2016-10-05
申请号:CN201380055784.1
申请日:2013-10-29
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J37/20 , H01J37/16 , H01J37/18 , H01J37/244
CPC classification number: H01J37/16 , H01J37/20 , H01J37/28 , H01J2237/164 , H01J2237/182 , H01J2237/188 , H01J2237/2003 , H01J2237/2006 , H01J2237/20221 , H01J2237/20235 , H01J2237/28
Abstract: 本发明的试样收纳容器具备:将试样(6)收纳在与外部的环境状态不同的环境状态下的收纳容器(100);带电粒子线能通过或透过的隔膜(10);试样载物台(103),其设于收纳容器(100)的内部,能在将收纳容器(100)的内外环境状态保持为不同的环境状态的状态下,使试样(6)相对于隔膜(10)的相对位置在水平方向及垂直方向上移动;以及操作部(104),其从收纳容器(100)的外部操作试样载物台(103)的移动,以收纳试样(6)的状态设于带电粒子线装置的真空房间内。
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公开(公告)号:CN104798173A
公开(公告)日:2015-07-22
申请号:CN201380060092.6
申请日:2013-11-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/20 , H01J37/16 , H01J37/224 , H01J37/28 , H01J2237/2002 , H01J2237/2003 , H01J2237/2004 , H01J2237/2608 , H01J2237/28
Abstract: 带电粒子线装置具备产生一次带电粒子线的带电粒子光学镜筒(2)、内部通过真空泵(4)真空排气的机箱(7)、构成机箱(7)的一部分并能够维持其内部空间的气密状态的第一隔膜(10)、配置于第一隔膜(10)与试样(6)之间的第二隔膜(50),使在带电粒子光学镜筒(2)中产生的一次带电粒子线透过或通过第一隔膜(10)以及第二隔膜(50),并照射到与第二隔膜(50)接触的状态的试样(6)上。
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公开(公告)号:CN104685602A
公开(公告)日:2015-06-03
申请号:CN201380051004.6
申请日:2013-09-25
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/20 , H01J37/16 , H01J37/18 , H01J2237/164 , H01J2237/2608
Abstract: 在进行大气压或与大气压大致同等压力的气体环境下的观察的带电粒子束装置中,将载置有试样的大气压空间与电子光学镜筒内部的真空空间隔离的隔膜由于使电子束透射因此非常薄,破损的可能性较高。更换隔膜时需要调整隔膜位置,在现有技术的方法中,无法容易地进行该隔膜位置的调整。在采用将真空环境与大气环境或气体环境分隔的薄膜的结构的带电粒子束装置中,具备:隔膜,其能够拆装,并以将载置有试样的空间的压力保持为比机箱内部的压力大的方式将载置有试样的空间隔离,并能够使一次带电粒子束透射或通过,以及可动部件,能够以保持载置有试样的空间的压力和机箱内部的压力的状态移动上述隔膜。
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