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公开(公告)号：CN114509165B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202111563838.8
申请日：2021-12-20
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法，属于辐射测温技术、发射率测量技术领域。本发明的装置主要由镜头和光谱仪或光谱辐射计组成，镜头与光谱仪或光谱辐射计可以直接连接，也可以使用光纤连接。无需其他任何额外的温度测量设备或传感器，仅使用发射率测量所需的、带有镜头的、光谱范围覆盖短波的光谱仪或光谱辐射计作为测量设备，使用3个及以上光谱辐射能量信息，根据普朗克黑体辐射定律建立目标温度与光谱辐射能量的关系，拟合温度T与光谱辐射能量Lλ、波长λ的关系式，即能够准确测算出目标的表面温度，从而获得目标的光谱发射率。本发明不仅能够简化测温设备，还能够提高目标光谱发射率的测量精度。
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公开(公告)号：CN107115906B
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201710352397.4
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: B01L3/04
Abstract: 本发明涉及一种高温共晶点预共晶灌注坩埚，属于高温共晶点技术领域。该坩埚外形为圆柱形，包括预共晶坩埚盖和预共晶坩埚主体。在预共晶坩埚主体上加工有公螺纹，预共晶坩埚盖上加工有与之匹配的母螺纹，二者通过螺纹连接。在预共晶坩埚内形成共晶体后，以倒置方式连接在共晶点坩埚上，加热后使共晶体变为熔融态，在重力作用下流入共晶点坩埚内，实现对共晶点坩埚的灌注。本发明降低了预共晶坩埚的破裂风险，避免了共晶体在预共晶坩埚与共晶点坩埚连接处造成粘连，使得预共晶坩埚能够重复利用，解决了目前采用的预共晶容器只能使用一次的问题，节约了灌注成本。
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公开(公告)号：CN105784631B
公开(公告)日：2018-10-30
申请号：CN201610202887.1
申请日：2016-04-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01N21/3563
Abstract: 本发明公开了一种负温及常温不透明材料发射率测量装置。它包括，真空低温仓、低温恒温循环系统、光学系统、电控平移台和计算机控制与测量系统。其测量原理为利用探测器将被测目标与相同温度下的等温黑体的辐射能量进行测量和比较，从而得到材料在不同光谱下的光谱发射率。本发明可以实现7至13μm典型光谱范围、‑50℃～50℃温度范围的材料法向光谱发射率测量。所述光学系统和测量系统均处在真空低温环境中，避免了大气衰减对发射率测量影响，拓展了材料发射率测量的下限，提高了测量结果的不确定度。
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公开(公告)号：CN107115906A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：CN201710352397.4
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: B01L3/04
Abstract: 本发明涉及一种高温共晶点预共晶灌注坩埚，属于高温共晶点技术领域。该坩埚外形为圆柱形，包括预共晶坩埚盖和预共晶坩埚主体。在预共晶坩埚主体上加工有公螺纹，预共晶坩埚盖上加工有与之匹配的母螺纹，二者通过螺纹连接。在预共晶坩埚内形成共晶体后，以倒置方式连接在共晶点坩埚上，加热后使共晶体变为熔融态，在重力作用下流入共晶点坩埚内，实现对共晶点坩埚的灌注。本发明降低了预共晶坩埚的破裂风险，避免了共晶体在预共晶坩埚与共晶点坩埚连接处造成粘连，使得预共晶坩埚能够重复利用，解决了目前采用的预共晶容器只能使用一次的问题，节约了灌注成本。
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公开(公告)号：CN109813450A
公开(公告)日：2019-05-28
申请号：CN201910235556.1
申请日：2019-03-27
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明公开的一种瞬态成像式红外多光谱温度场测量装置，属于辐射测温技术领域。本发明包括前端物镜组、视场光阑、中继镜组、滤光膜、透镜阵列、红外CCD，被测对象为目标。目标通过前端物镜组在视场光阑处成像，经过中继镜组准直，通过上面镀有不同波段滤光膜的透镜阵列，在一个红外CCD的四个象限分别成像，实现多光谱温度场测量。本发明具有如下优点：1、能够自主选择合适的近红外波段，抗干扰能力强，测温结果可靠；2、能够实现对变化的温度场进行瞬态测量，测温效率高；3、无需使用多个CCD，成本较低。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107192706A
公开(公告)日：2017-09-22
申请号：CN201710353376.4
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01N21/71
CPC classification number: G01N21/71
Abstract: 本发明涉及一种基于锁相放大的不透明材料的带通发射率测量装置，适用于测量金属、非金属材料表面法向光谱发射率，属于材料热物性参数技术领域。该装置包括：标准参考黑体、样品加热装置、水冷光阑、斩波器、光学耦合系统、滤光片轮、激光器、探测器组、位移台和锁相放大器。其中，标准参考黑体和样品加热装置位置相对于光学耦合系统中的旋转反射镜的中心位置对称，两组斩波器相对旋转反射镜的中心位置对称，滤光片轮放于光学耦合系统和探测器组之间，激光器和探测器组安装在位移台上。本发明采用锁相放大器对探测器的输出进行放大，同时对噪声进行抑制，提高了测量精度，同时通过滤光片轮和探测器组之间的切换，实现了多波长的测量。
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公开(公告)号：CN106052884A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610366117.0
申请日：2016-05-28
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种内锥型均温靶热管黑体，属于辐射测温技术领域；该装置通过将黑体空腔(7)与热管(5)一体化设计，减小了热管与黑体空腔之间的导热损失，提高了加热效率及升温速度；在黑体空腔(7)底部放置内锥型均温靶(4)，使标准热电偶与靶面之间距离尽量小，保证了靶面温度的准确性；同时，内锥型均温靶能够增加标准热电偶或铂电阻的插入深度，减小导热误差；热管(5)采用三段加热，每段的控温传感器(1)均安装在热管外壁面上，其中两段加热包裹在热管的柱体外部，第三段加热为加热盘，放置在热管的底部，分别调整三段的温度，保证黑体空腔的轴向温度场均匀。对比现有技术，本发明内追型均温靶热管黑体温度均匀性好、准确度高。
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公开(公告)号：CN104121993A
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201410356168.6
申请日：2014-07-24
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种绝对法辐射热流计校准方法，属于热学技术领域。本发明方法将辐射热流计深入到黑体辐射源黑体腔内，采用蒙特卡洛算法，计算评定由辐射热流计与黑体辐射源黑体腔构成的等效腔体模型的有效发射率，从而通过斯蒂芬-波尔兹曼定律，利用黑体辐射源黑体腔温度值计算得出标准辐射热流值，实现对辐射热流计的绝对法校准。本发明在等效腔体模型有效发射率的计算分析中，综合考虑了黑体辐射源黑体腔壁面温度梯度，确定了辐射热流计深入到黑体辐射源黑体腔的最佳位置，以获得最大的等效腔体模型有效发射率。本发明方法直接，中间环节少，测量不确定度小，适用于溯源至温度的绝对法辐射热流计校准。
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公开(公告)号：CN114509165A
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN202111563838.8
申请日：2021-12-20
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法，属于辐射测温技术、发射率测量技术领域。本发明的装置主要由镜头和光谱仪或光谱辐射计组成，镜头与光谱仪或光谱辐射计可以直接连接，也可以使用光纤连接。无需其他任何额外的温度测量设备或传感器，仅使用发射率测量所需的、带有镜头的、光谱范围覆盖短波的光谱仪或光谱辐射计作为测量设备，使用3个及以上光谱辐射能量信息，根据普朗克黑体辐射定律建立目标温度与光谱辐射能量的关系，拟合温度T与光谱辐射能量Lλ、波长λ的关系式，即能够准确测算出目标的表面温度，从而获得目标的光谱发射率。本发明不仅能够简化测温设备，还能够提高目标光谱发射率的测量精度。
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公开(公告)号：CN106052884B
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201610366117.0
申请日：2016-05-28
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种内锥型均温靶热管黑体，属于辐射测温技术领域；该装置通过将黑体空腔(7)与热管(5)一体化设计，减小了热管与黑体空腔之间的导热损失，提高了加热效率及升温速度；在黑体空腔(7)底部放置内锥型均温靶(4)，使标准热电偶与靶面之间距离尽量小，保证了靶面温度的准确性；同时，内锥型均温靶能够增加标准热电偶或铂电阻的插入深度，减小导热误差；热管(5)采用三段加热，每段的控温传感器(1)均安装在热管外壁面上，其中两段加热包裹在热管的柱体外部，第三段加热为加热盘，放置在热管的底部，分别调整三段的温度，保证黑体空腔的轴向温度场均匀。对比现有技术，本发明内追型均温靶热管黑体温度均匀性好、准确度高。
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