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公开(公告)号：CN119223974A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202411273149.7
申请日：2024-09-12
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 , 中国航发四川燃气涡轮研究院
Abstract: 本发明公开了一种激光剪切散斑干涉测量装置，以解决现有的复合材料内部缺陷检出能力不足的问题。装置包括照明成像模块、剪切干涉探测模块和控制采集处理模块；照明成像模块包括激光器、扩束器、照明探测合束器和成像组件；照明探测合束器由通光区域和反射区域构成，通光区域的半径不小于成像组件像面外接圆的半径；照明探测合束器安装在成像组件的像面位置；激光器发射的照明光束经扩束器扩束后被照明探测合束器的反射区域反射，再经过成像组件照射到待测件上；照明光束被待测件反射后形成探测光束，探测光束经成像组件成像后通过照明探测合束器的通光区域进入剪切干涉探测模块。本发明能够有效提高复合材料内部缺陷的检出能力。
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公开(公告)号：CN106407987B
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201610786512.4
申请日：2016-08-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G06K9/46
Abstract: 本发明公开了一种基于图像互相关匹配的电光晶体光轴出露点提取方法，属于光学精密检测技术领域，解决利用偏光干涉图确定电光晶体的光轴方向方法中光轴出露点的提取精度差的问题。本发明具体如下：获得偏光干涉图I，模拟得到合适的初始特征模板T0；对初始特征模板T0进行几何变换，获得不同大小不同旋转角度下的一系列特征模板图像Tmn；将特征模板Tmn分别和偏光干涉图I进行图像互相关匹配运算，用相关系数rmn(x,y)定量特征模板Tmn和偏光干涉图I的相关程度，经过图像互相关匹配运算，得到在特征模板Tmn下的最大相关系数rmn‑max和最大相关系数的位置坐标(xmn,ymn)；并选取最大相关系数rmn‑max中的最大值rmax的位置坐标(xmax,ymax)作为光轴出露点的位置坐标。
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公开(公告)号：CN105973897B
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201610414569.1
申请日：2016-06-14
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种纳秒激光脉冲作用KDP晶体后在其体内形成的针状损伤点几何尺寸分布的测量装置及测量方法，属于KDP晶体技术领域中的KDP晶体体损伤的测量装置及测量方法。通常使用损伤阈值评价包含晶体在内的光学元件的抗损伤性能，但是损伤阈值自身具有概率性且容易受测试条件、测试方法、测试参数和数据处理的影响。本专利使用晶体体内针状损伤点几何尺寸分布作为评价晶体抗损伤性能的评价标准，并提出相应的测试方法和测试装置。这种评价标准及其测试方法可以避免损伤阈值及其测试方法的缺陷。
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公开(公告)号：CN105676098B
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201610022274.X
申请日：2016-01-13
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法，属于光学成像及数字图像处理分析技术领域中的响应非均匀性和线性性的检测装置、检测方法。其检测装置包括测试光源、衰减片、取样镜、光契对、长焦汇聚透镜、待测CCD、二维平移台、能量计、计算机、控制器和暗箱，测试光源产生的入射激光依次经衰减片、取样镜后产生反射激光和透射激光，反射激光直接入射至能量计，透射激光依次经光契对、长焦汇聚透镜后入射至待测CCD，待测CCD安装于二维平移台上，二维平移台与控制器电连接，待测CCD、能量计和控制器均与计算机电连接。本发明适用于CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法。
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公开(公告)号：CN106407987A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610786512.4
申请日：2016-08-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G06K9/46
Abstract: 本发明公开了一种基于图像互相关匹配的电光晶体光轴出露点提取方法，属于光学精密检测技术领域，解决利用偏光干涉图确定电光晶体的光轴方向方法中光轴出露点的提取精度差的问题。本发明具体如下：获得偏光干涉图I，模拟得到合适的初始特征模板T0；对初始特征模板T0进行几何变换，获得不同大小不同旋转角度下的一系列特征模板图像Tmn；将特征模板Tmn分别和偏光干涉图I进行图像互相关匹配运算，用相关系数rmn(x,y)定量特征模板Tmn和偏光干涉图I的相关程度，经过图像互相关匹配运算，得到在特征模板Tmn下的最大相关系数rmn-max和最大相关系数的位置坐标(xmn,ymn)；并选取最大相关系数rmn-max中的最大值rmax的位置坐标(xmax,ymax)作为光轴出露点的位置坐标。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105842248A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610169105.9
申请日：2016-03-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/8806
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面损伤阈值测试系统及其测试方法，涉及光学检测领域，包括按光路依次放置的激光器、液晶光阀、光束分束器、透镜一、测试样品、吸收陷阱、直视CCD、反射镜、能量卡计、透镜二和监视CCD，本发明的损伤阈值测试方法为通过建立液晶光阀与光斑近场的映射关系获得传递函数，将光斑中损伤点的坐标带入传递函数确定液晶光阀遮挡区域，当遮挡区域覆盖损伤点后计算局部通量，提高损伤阈值的计算精度。
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公开(公告)号：CN105700321A
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201610242313.7
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 郑芳兰 , 周信达 , 杨一 , 陈竹 , 张霖 , 石振东 , 原泉 , 马骅 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 马可 , 任寰 , 李文洪 , 于德强 , 巴荣声 , 郑垠波 , 袁静 , 丁磊 , 陈波 , 杨晓瑜
CPC classification number: G03H1/2202 , G03H1/0866 , G03H2001/0883
Abstract: 本发明公开了一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法，属于光学精密测量技术领域中的数字全息图重建距离的自动化数值判断方法，其目的在于提供一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法。本发明利用重建像强度的方差与重建像强度的平均值的比值对重建像的清晰程度进行判断、分析，并找到清晰的重建强度像及其所对应的数字全息图准确重建距离，该方法可实现对于数字全息图重建距离的自动化数值判断，提高对重建距离的测量精度及测量效率。
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公开(公告)号：CN115371969B
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202211052982.X
申请日：2022-08-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种便携式高能激光输出功率测量装置。本发明采用磁力基座和光反射台基于磁悬浮原理形成悬浮光反射构件，当激光发射在悬浮光反射构件上时，光反射台受激光的冲击产生转动，由于采用磁悬浮原理，使得光反射台在受到光冲击后，在无摩擦条件下进行转动，转速检测模块检测光反射台的转动速度后，由处理模块根据转动速度精确确定所发射激光的功率。采用转动反射测量和实时检测相结合的方式，不会使所测量的激光功率受到限制，可以实时放置在待测激光的激光发射通路上，能够显著提高激光功率测量的实时性和便捷性。并且，通过采用光反射台能够显著降低温度影响，提高便携式高能激光输出功率测量装置的使用寿命，进而降低激光功率测量成本。
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公开(公告)号：CN114136976B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202111314941.9
申请日：2021-11-08
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种偏振同轴照明激光剪切散斑干涉测量系统及其测量方法，包括参数标定模块、偏振同轴照明成像模块、剪切干涉探测模块、控制采集处理模块等，用于实现应变与离面形变的测量。本系统可根据样品目标区域的实际测量范围，结合静态或动态加载情况，现场调节并精确标定系统的测量视场与剪切量，从而调节应变测量动态范围与检测灵敏度，并应用时间移相或空间载波相位提取方法，实现应变与离面形变的动态高速或静态高精度测量，系统操作方便，实用性强，测量精度高。此外，本发明采用偏振同轴照明方式，提高了光能利用率与成像质量，实现大视场、高亮度、高均匀性的照明与高质量探测。
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公开(公告)号：CN114324329B
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202111588367.6
申请日：2021-12-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/84 , G01N21/88 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了光学元件强激光损伤特性的无损检测与评价方法，旨在解决现有技术不能通过无损检测评价光学元件激光损伤特性的难题。本发明包括：通过实验获得光学元件的无损检测数据以及强激光作用下发生损伤的激光参数；将无损检测数据与损伤测试结果作为特征量，使用深度学习方法，根据无损检测数据、激光参数及损伤测试结果，获得光学元件激光损伤特性的检测评价模型；将待检测的光学元件进行无损检测，将获得的无损检测数据和激光参数作为检测评价模型的输入量，从而获得该光学元件的激光损伤特性检测结果，实现强激光损伤特性的无损检测与评价。
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