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公开(公告)号：CN107664740A
公开(公告)日：2018-02-06
申请号：CN201710319742.4
申请日：2017-05-08
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G01R31/26
Abstract: 一种测试板包括：板衬底；被测器件(DUT)插座，连接到板衬底并且被配置为容纳半导体封装；测试控制器；无线信号单元，被配置为与服务器无线地交换信号；以及无线电力单元，被配置为被外部源无线地充电，并且被配置为向测试控制器和DUT插座供应电力，其中测试控制器被配置为响应于经由无线信号单元从服务器无线地接收的测试模式命令，对容纳在DUT插座中的半导体封装独立地执行测试。
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公开(公告)号：CN107664740B
公开(公告)日：2021-02-19
申请号：CN201710319742.4
申请日：2017-05-08
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G01R31/26
Abstract: 一种测试板包括：板衬底；被测器件(DUT)插座，连接到板衬底并且被配置为容纳半导体封装；测试控制器；无线信号单元，被配置为与服务器无线地交换信号；以及无线电力单元，被配置为被外部源无线地充电，并且被配置为向测试控制器和DUT插座供应电力，其中测试控制器被配置为响应于经由无线信号单元从服务器无线地接收的测试模式命令，对容纳在DUT插座中的半导体封装独立地执行测试。
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公开(公告)号：CN101599306A
公开(公告)日：2009-12-09
申请号：CN200910145467.4
申请日：2009-06-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56 , G06F11/263
Abstract: 本发明提供一种场安装型测试装置和方法，所述装置和方法可以通过模拟包括安装环境的各种测试条件来增强产品的竞争力，从而提高存储器装置的品质可靠性，并通过使由于改变安装环境导致的整体损失最小化来减少测试时间并降低测试成本。根据示例实施例，场安装型测试装置可以包括：捕获系统，被构造为从由外部装置产生的信号中捕获信号数据，并被构造为将捕获的信号数据转换为测试逻辑数据；模式数据中心，被构造为存储测试逻辑数据；测试器主结构，被构造为利用存储在模式数据中心中的测试逻辑数据来测试被测装置(DUT)。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN106370991B
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201610590051.3
申请日：2016-07-25
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了测试接口板、测试系统、测试方法以及装置。测试接口板包括编码器、信号复制器和解码器。编码器数字地编码测试数据以产生调制信号。信号复制器通过感应地耦合调制信号来复制调制信号并输出与调制信号对应的至少一个复制信号。解码器将调制信号和至少一个复制信号进行解码，以测试至少两个半导体器件。
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公开(公告)号：CN107391322A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201710342176.9
申请日：2017-05-16
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F11/22 , G06F11/263
CPC classification number: G11C29/56016 , G01R31/2851 , G11C29/48 , G11C29/56012 , G11C2029/5602 , H04B2001/305 , G06F11/263 , G06F11/2247 , G06F11/2284 , G06F11/2635
Abstract: 一种测试设备，包括被测装置(DUT)和测试控制器，其中被测装置被配置为使用串行接口协议来交换数据，测试控制器被配置为从外部装置接收对应于串行接口协议的物理层的二进制向量并缓冲和发送接收的二进制向量至DUT。
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公开(公告)号：CN106370991A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201610590051.3
申请日：2016-07-25
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了测试接口板、测试系统、测试方法以及装置。测试接口板包括编码器、信号复制器和解码器。编码器数字地编码测试数据以产生调制信号。信号复制器通过感应地耦合调制信号来复制调制信号并输出与调制信号对应的至少一个复制信号。解码器将调制信号和至少一个复制信号进行解码，以测试至少两个半导体器件。
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公开(公告)号：CN101599306B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN200910145467.4
申请日：2009-06-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56 , G06F11/263
Abstract: 本发明提供一种场安装型测试装置和方法，所述装置和方法可以通过模拟包括安装环境的各种测试条件来增强产品的竞争力，从而提高存储器装置的品质可靠性，并通过使由于改变安装环境导致的整体损失最小化来减少测试时间并降低测试成本。根据示例实施例，场安装型测试装置可以包括：捕获系统，被构造为从由外部装置产生的信号中捕获信号数据，并被构造为将捕获的信号数据转换为测试逻辑数据；模式数据中心，被构造为存储测试逻辑数据；测试器主结构，被构造为利用存储在模式数据中心中的测试逻辑数据来测试被测装置(DUT)。
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