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公开(公告)号:CN1037722C
公开(公告)日:1998-03-11
申请号:CN94103086.5
申请日:1994-03-31
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C17/00 , G11C11/419
CPC classification number: H01L27/115 , G11C17/123 , H01L27/112
Abstract: 公开了一种带有单位存储单元结构适用于高速操作和低电源电压的非易失性半导体存储器。该存储器包括其一端与相应位线相连的开关电路。该开关电路只在属于该开关电路的条被选择时才发送信号。带有与第一有源区不同浓度的第二有源区组成不同晶体管的源和漏区,第二有源区在存储条和位线被连接的位线接触区的衬底接触区处形成。第二有源区的杂质浓度低于第一有源区的杂质浓度。
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公开(公告)号:CN101599306A
公开(公告)日:2009-12-09
申请号:CN200910145467.4
申请日:2009-06-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56 , G06F11/263
Abstract: 本发明提供一种场安装型测试装置和方法,所述装置和方法可以通过模拟包括安装环境的各种测试条件来增强产品的竞争力,从而提高存储器装置的品质可靠性,并通过使由于改变安装环境导致的整体损失最小化来减少测试时间并降低测试成本。根据示例实施例,场安装型测试装置可以包括:捕获系统,被构造为从由外部装置产生的信号中捕获信号数据,并被构造为将捕获的信号数据转换为测试逻辑数据;模式数据中心,被构造为存储测试逻辑数据;测试器主结构,被构造为利用存储在模式数据中心中的测试逻辑数据来测试被测装置(DUT)。
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公开(公告)号:CN101599306B
公开(公告)日:2015-04-01
申请号:CN200910145467.4
申请日:2009-06-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56 , G06F11/263
Abstract: 本发明提供一种场安装型测试装置和方法,所述装置和方法可以通过模拟包括安装环境的各种测试条件来增强产品的竞争力,从而提高存储器装置的品质可靠性,并通过使由于改变安装环境导致的整体损失最小化来减少测试时间并降低测试成本。根据示例实施例,场安装型测试装置可以包括:捕获系统,被构造为从由外部装置产生的信号中捕获信号数据,并被构造为将捕获的信号数据转换为测试逻辑数据;模式数据中心,被构造为存储测试逻辑数据;测试器主结构,被构造为利用存储在模式数据中心中的测试逻辑数据来测试被测装置(DUT)。
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公开(公告)号:CN1044420C
公开(公告)日:1999-07-28
申请号:CN94104215.4
申请日:1994-04-14
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种具有地址转换检测器的半导体集成电路。该地址转换电路具有连接于电源端、用于检测电源端电压电平的电源检测电路,用于接收地址信号并在地址信号改变时产生窄脉冲的窄脉冲发生电路,以及用于组合电源检测电路和窄脉冲发生电路的输出变化时产生给定脉冲的求和器。
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公开(公告)号:CN1193799A
公开(公告)日:1998-09-23
申请号:CN97107264.7
申请日:1997-12-30
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor: 张哲雄
IPC: G11C11/34
CPC classification number: G11C17/126 , G11C7/12
Abstract: 一种具有分级位线结构的NOR型掩膜ROM装置,包括,比例为2∶1的第一和第二位线装置;分别对应第二位线的地线;每一个连接在第一位线的相应的奇数位线的一端和第二位线的相应位线的一端之间的第一开关;每一个连接在第二位线的相应偶数位线的一端和地线的相应地线一端之间的第二开关装置;把在第一位线的至少一个选取位线两侧的第一位线的至少一相邻非选取位线充电到预定的电压电平的充电电路,在预充电操作完成后通过第二位线的至少一个选取的位线读出数据。
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公开(公告)号:CN1096900A
公开(公告)日:1994-12-28
申请号:CN94104215.4
申请日:1994-04-14
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种具有地址转换检测器的半导体集成电路。该地址转换电路具有连接于电源端、用于检测电源端电压电平的电源检测电路,用于接收地址信号并在地址信号改变时产生窄脉冲的窄脉冲发生电路,以及用于组合电源检测电路和窄脉冲发生电路的输出变化时产生给定脉冲的求和器。
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