场安装型测试装置和方法

    公开(公告)号:CN101599306A

    公开(公告)日:2009-12-09

    申请号:CN200910145467.4

    申请日:2009-06-01

    CPC classification number: G11C29/56 G06F11/263

    Abstract: 本发明提供一种场安装型测试装置和方法,所述装置和方法可以通过模拟包括安装环境的各种测试条件来增强产品的竞争力,从而提高存储器装置的品质可靠性,并通过使由于改变安装环境导致的整体损失最小化来减少测试时间并降低测试成本。根据示例实施例,场安装型测试装置可以包括:捕获系统,被构造为从由外部装置产生的信号中捕获信号数据,并被构造为将捕获的信号数据转换为测试逻辑数据;模式数据中心,被构造为存储测试逻辑数据;测试器主结构,被构造为利用存储在模式数据中心中的测试逻辑数据来测试被测装置(DUT)。

    场安装型测试装置和方法

    公开(公告)号:CN101599306B

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN200910145467.4

    申请日:2009-06-01

    CPC classification number: G11C29/56 G06F11/263

    Abstract: 本发明提供一种场安装型测试装置和方法,所述装置和方法可以通过模拟包括安装环境的各种测试条件来增强产品的竞争力,从而提高存储器装置的品质可靠性,并通过使由于改变安装环境导致的整体损失最小化来减少测试时间并降低测试成本。根据示例实施例,场安装型测试装置可以包括:捕获系统,被构造为从由外部装置产生的信号中捕获信号数据,并被构造为将捕获的信号数据转换为测试逻辑数据;模式数据中心,被构造为存储测试逻辑数据;测试器主结构,被构造为利用存储在模式数据中心中的测试逻辑数据来测试被测装置(DUT)。

    半导体只读存储器和读取存储在该存储器中的数据的方法

    公开(公告)号:CN1193799A

    公开(公告)日:1998-09-23

    申请号:CN97107264.7

    申请日:1997-12-30

    Inventor: 张哲雄

    CPC classification number: G11C17/126 G11C7/12

    Abstract: 一种具有分级位线结构的NOR型掩膜ROM装置,包括,比例为2∶1的第一和第二位线装置;分别对应第二位线的地线;每一个连接在第一位线的相应的奇数位线的一端和第二位线的相应位线的一端之间的第一开关;每一个连接在第二位线的相应偶数位线的一端和地线的相应地线一端之间的第二开关装置;把在第一位线的至少一个选取位线两侧的第一位线的至少一相邻非选取位线充电到预定的电压电平的充电电路,在预充电操作完成后通过第二位线的至少一个选取的位线读出数据。

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