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公开(公告)号：CN1992087B
公开(公告)日：2010-10-06
申请号：CN200610080941.6
申请日：2006-05-23
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本发明涉及器件测试装置和方法及其接口装置，所述器件测试装置包含：性能板，以用于安装被测器件，并输入/输出针对所述被测器件的信号；主机，以用于产生所述被测器件的测试波形；头部，以用于将基于所述测试波形的测试信号传送到所述性能板，并对应于所述测试信号接收从所述性能板传送的测试结果信号；安装在所述头部与所述性能板之间的接口部，以用于根据所述被测器件的工作速度改变所述测试信号及所述测试结果信号的传送速度。由此，可以以较低成本进行高速测试。
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公开(公告)号：CN101599306B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN200910145467.4
申请日：2009-06-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56 , G06F11/263
Abstract: 本发明提供一种场安装型测试装置和方法，所述装置和方法可以通过模拟包括安装环境的各种测试条件来增强产品的竞争力，从而提高存储器装置的品质可靠性，并通过使由于改变安装环境导致的整体损失最小化来减少测试时间并降低测试成本。根据示例实施例，场安装型测试装置可以包括：捕获系统，被构造为从由外部装置产生的信号中捕获信号数据，并被构造为将捕获的信号数据转换为测试逻辑数据；模式数据中心，被构造为存储测试逻辑数据；测试器主结构，被构造为利用存储在模式数据中心中的测试逻辑数据来测试被测装置(DUT)。
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公开(公告)号：CN101599306A
公开(公告)日：2009-12-09
申请号：CN200910145467.4
申请日：2009-06-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56 , G06F11/263
Abstract: 本发明提供一种场安装型测试装置和方法，所述装置和方法可以通过模拟包括安装环境的各种测试条件来增强产品的竞争力，从而提高存储器装置的品质可靠性，并通过使由于改变安装环境导致的整体损失最小化来减少测试时间并降低测试成本。根据示例实施例，场安装型测试装置可以包括：捕获系统，被构造为从由外部装置产生的信号中捕获信号数据，并被构造为将捕获的信号数据转换为测试逻辑数据；模式数据中心，被构造为存储测试逻辑数据；测试器主结构，被构造为利用存储在模式数据中心中的测试逻辑数据来测试被测装置(DUT)。
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公开(公告)号：CN1992087A
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN200610080941.6
申请日：2006-05-23
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本发明涉及器件测试装置和方法及其接口装置，所述器件测试装置包含：性能板，以用于安装被测器件，并输入/输出针对所述被测器件的信号；主机，以用于产生所述被测器件的测试波形；头部，以用于将基于所述测试波形的测试信号传送到所述性能板，并对应于所述测试信号接收从所述性能板传送的测试结果信号；安装在所述头部与所述性能板之间的接口部，以用于根据所述被测器件的工作速度改变所述测试信号及所述测试结果信号的传送速度。由此，可以以较低成本进行高速测试。
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公开(公告)号：CN103326641A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201310090634.6
申请日：2013-03-20
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H02P6/18
CPC classification number: H02P21/0039 , H02P6/08 , H02P6/18 , H02P6/182 , H02P21/24
Abstract: 提供一种无传感器控制设备及其控制方法。所述无传感器控制设备可包括：速度命令单元，被配置为将速度命令输出到电机；电流检测器单元，被配置为如果根据速度命令被输出的电压被提供给电机，则检测流过电机的电流；转子角度计算单元，被配置为基于检测的电流和根据速度命令被输出的电压来计算电机的转子的磁通量，并从计算的磁通量计算转子的角度；和/或失步感测单元，被配置为根据计算的转子的角度与基于无传感器控制算法估计的转子的角度的比较来感测转子的失步。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100476778C
公开(公告)日：2009-04-08
申请号：CN200610080153.7
申请日：2006-05-09
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F13/38
Abstract: 本发明涉及一种主模块、功能模块和包含这些模块的电子器件以及ID数据设定方法。依据本发明主模块包含：接口部，以用于与至少一个功能模块进行通信；主ID生成部，以用于将生成所述功能模块ID数据的预定的ID数据输出到相邻的功能模块；主控制部，以用于生成控制信号及成为所述控制信号对象的控制对象区别信号，并通过所述接口部进行传送。据此，通过自动设定各功能模块的ID数据，可以提高系统的稳定性及用户的方便性。
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公开(公告)号：CN1232025C
公开(公告)日：2005-12-14
申请号：CN00100742.4
申请日：2000-02-02
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H02P23/16 , H02M2001/0009
Abstract: 消除电流检测信号的可变偏移量的装置及方法，电流检测装置检测三相电机的反馈电流并转换成电压检测信号；差分放大器差分运算反馈模拟偏移和电压检测信号；输出放大器放大电压检测信号以落入控制输入范围内；模/数变换器将放大信号转换成数字信号；控制部分将数字信号加为数字偏移值，将数字偏移值与预定偏移命令比较，应用比例加积分函数，输出PWM数字偏移信号；数/模变换器，将数字信号转换成模拟偏移信号，提供反馈回路。及具有用于消除电流偏移的装置的三相交流电动机的控制系统。
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公开(公告)号：CN1991811A
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN200610080153.7
申请日：2006-05-09
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F13/38
Abstract: 本发明涉及一种主模块、功能模块和包含这些模块的电子器件以及ID数据设定方法。依据本发明主模块，包含：接口部，以用于与至少一个功能模块进行通信；主ID生成部，以用于将生成所述功能模块ID数据的预定的ID数据输出到相邻的功能模块；主控制部，以用于生成控制信号及成为所述控制信号对象的控制对象区别信号，并通过所述接口部进行传送。据此，通过自动设定各功能模块的ID数据，可以提高系统的稳定性及用户的方便性。
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公开(公告)号：CN1280334A
公开(公告)日：2001-01-17
申请号：CN99119541.8
申请日：1999-09-02
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 俞皓善
IPC: G06F9/06
Abstract: 一种用于兼容地控制具有多个型号的硬件装置的方法和系统,在所述多个型号的硬件装置中大多数控制参数是相同的,只是极少数参数不同。该控制方法包括如下步骤:对每一型号的硬件装置指定一标识符(ID);提供分别应用到每一型号硬件装置的多个特定型号函数;识别将被控制的硬件装置的ID;指定对应于被识别的ID的一特定型号函数作为一函数指针,从而控制一相对应的硬件装置。本控制系统可以兼容地控制多个型号的硬件装置。
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公开(公告)号：CN1264211A
公开(公告)日：2000-08-23
申请号：CN00100742.4
申请日：2000-02-02
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H02P23/16 , H02M2001/0009
Abstract: 消除电流检测信号的可变偏移值的装置及方法,电流检测装置检测三相电机的反馈电流并转换成电压检测信号;差分放大器差分运算反馈模拟偏移和电压检测信号;输出放大器放大电压检测信号以落入控制输入范围内;模/数变换器将放大信号转换成数字信号;控制部分将数字信号加为数字偏移值,将数字偏移值与预定偏移命令比较,应用比例加积分函数,输出PWM数字偏移信号;数/模变换器,将数字信号转换成模拟偏移信号,提供反馈回路。
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