公开(公告)号：CN1992087B

公开(公告)日：2010-10-06

申请号：CN200610080941.6

申请日：2006-05-23

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 梁仁秀 ,  朴钟必 ,  田炳焕 ,  俞皓善

IPC: G11C29/00 ,  G01R31/00

Abstract: 本发明涉及器件测试装置和方法及其接口装置，所述器件测试装置包含：性能板，以用于安装被测器件，并输入/输出针对所述被测器件的信号；主机，以用于产生所述被测器件的测试波形；头部，以用于将基于所述测试波形的测试信号传送到所述性能板，并对应于所述测试信号接收从所述性能板传送的测试结果信号；安装在所述头部与所述性能板之间的接口部，以用于根据所述被测器件的工作速度改变所述测试信号及所述测试结果信号的传送速度。由此，可以以较低成本进行高速测试。

公开(公告)号：CN1232025C

公开(公告)日：2005-12-14

申请号：CN00100742.4

申请日：2000-02-02

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 俞皓善 ,  梁仁秀

IPC: H02P5/28 ,  H02P7/36

CPC classification number: H02P23/16 ,  H02M2001/0009

Abstract: 消除电流检测信号的可变偏移量的装置及方法，电流检测装置检测三相电机的反馈电流并转换成电压检测信号；差分放大器差分运算反馈模拟偏移和电压检测信号；输出放大器放大电压检测信号以落入控制输入范围内；模/数变换器将放大信号转换成数字信号；控制部分将数字信号加为数字偏移值，将数字偏移值与预定偏移命令比较，应用比例加积分函数，输出PWM数字偏移信号；数/模变换器，将数字信号转换成模拟偏移信号，提供反馈回路。及具有用于消除电流偏移的装置的三相交流电动机的控制系统。

公开(公告)号：CN101599306B

公开(公告)日：2015-04-01

申请号：CN200910145467.4

申请日：2009-06-01

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 崔仁镐 ,  崔云燮 ,  金成烈 ,  郭永起 ,  李载一 ,  张哲雄 ,  俞皓善 ,  梁仁秀 ,  张胜豪

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56 ,  G06F11/263

Abstract: 本发明提供一种场安装型测试装置和方法，所述装置和方法可以通过模拟包括安装环境的各种测试条件来增强产品的竞争力，从而提高存储器装置的品质可靠性，并通过使由于改变安装环境导致的整体损失最小化来减少测试时间并降低测试成本。根据示例实施例，场安装型测试装置可以包括：捕获系统，被构造为从由外部装置产生的信号中捕获信号数据，并被构造为将捕获的信号数据转换为测试逻辑数据；模式数据中心，被构造为存储测试逻辑数据；测试器主结构，被构造为利用存储在模式数据中心中的测试逻辑数据来测试被测装置(DUT)。

公开(公告)号：CN1264211A

公开(公告)日：2000-08-23

申请号：CN00100742.4

申请日：2000-02-02

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 俞皓善 ,  梁仁秀

IPC: H02P5/28 ,  H02P7/36

CPC classification number: H02P23/16 ,  H02M2001/0009

Abstract: 消除电流检测信号的可变偏移值的装置及方法,电流检测装置检测三相电机的反馈电流并转换成电压检测信号;差分放大器差分运算反馈模拟偏移和电压检测信号;输出放大器放大电压检测信号以落入控制输入范围内;模/数变换器将放大信号转换成数字信号;控制部分将数字信号加为数字偏移值,将数字偏移值与预定偏移命令比较,应用比例加积分函数,输出PWM数字偏移信号;数/模变换器,将数字信号转换成模拟偏移信号,提供反馈回路。

公开(公告)号：CN101599306A

公开(公告)日：2009-12-09

申请号：CN200910145467.4

申请日：2009-06-01

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 崔仁镐 ,  崔云燮 ,  金成烈 ,  郭永起 ,  李载一 ,  张哲雄 ,  俞皓善 ,  梁仁秀 ,  张胜豪

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56 ,  G06F11/263

Abstract: 本发明提供一种场安装型测试装置和方法，所述装置和方法可以通过模拟包括安装环境的各种测试条件来增强产品的竞争力，从而提高存储器装置的品质可靠性，并通过使由于改变安装环境导致的整体损失最小化来减少测试时间并降低测试成本。根据示例实施例，场安装型测试装置可以包括：捕获系统，被构造为从由外部装置产生的信号中捕获信号数据，并被构造为将捕获的信号数据转换为测试逻辑数据；模式数据中心，被构造为存储测试逻辑数据；测试器主结构，被构造为利用存储在模式数据中心中的测试逻辑数据来测试被测装置(DUT)。

公开(公告)号：CN1992087A

公开(公告)日：2007-07-04

申请号：CN200610080941.6

申请日：2006-05-23

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 梁仁秀 ,  朴钟必 ,  田炳焕 ,  俞皓善

IPC: G11C29/00 ,  G01R31/00

Abstract: 本发明涉及器件测试装置和方法及其接口装置，所述器件测试装置包含：性能板，以用于安装被测器件，并输入/输出针对所述被测器件的信号；主机，以用于产生所述被测器件的测试波形；头部，以用于将基于所述测试波形的测试信号传送到所述性能板，并对应于所述测试信号接收从所述性能板传送的测试结果信号；安装在所述头部与所述性能板之间的接口部，以用于根据所述被测器件的工作速度改变所述测试信号及所述测试结果信号的传送速度。由此，可以以较低成本进行高速测试。

公开(公告)号：CN1363988A

公开(公告)日：2002-08-14

申请号：CN01100148.8

申请日：2001-01-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 梁仁秀

IPC: H02P6/08 ,  H02P6/18

Abstract: 一种用于三相交流电机的供电装置,包括:用于开通和关断交流电源对电机某相供电的第一和第二开关;控制第一和第二开关开通－关断操作的第一和第二开关驱动电路;一台与第一开关驱动电路相连接可使第一开关开通的直流电源;以及一个由直流电源进行充电并将所充电力供给第二开关驱动电路的电压充电器。在这种结构下,由于采用单一的直流电源而使供电电路的结构简化,采用传感器电阻降低了生产成本。