公开(公告)号：US20160064049A1

公开(公告)日：2016-03-03

申请号：US14526160

申请日：2014-10-28

申请人： SK hynix Inc.

发明人： Byung Deuk JEON

IPC分类号： G11C7/10 ,  G11C7/22

CPC分类号： G11C7/1087 ,  G11C7/1093 ,  G11C7/222 ,  G11C29/022 ,  G11C29/16

摘要： A semiconductor device includes a first data input/output unit storing first internal input data in a first cell block in response to a first shift data strobe signal generated by shifting a first data strobe signal in a test mode, a second data input/output unit storing second internal input data in a second cell block in response to a second shift data strobe signal generated by shifting a second data strobe signal in the test mode, and a connector electrically coupling the first data input/output unit to the second data input/output unit in the test mode.

摘要翻译： 半导体器件包括第一数据输入/输出单元，其响应于通过在测试模式中移位第一数据选通信号而产生的第一移位数据选通信号而将第一内部输入数据存储在第一单元块中，第二数据输入/输出单元 响应于通过在测试模式中移动第二数据选通信号而产生的第二移位数据选通信号，将第二内部输入数据存储在第二单元块中;以及连接器，将第一数据输入/输出单元电耦合到第二数据输入/ 输出单元处于测试模式。

公开(公告)号：US20150228356A1

公开(公告)日：2015-08-13

申请号：US14693426

申请日：2015-04-22

申请人： SK hynix Inc.

发明人： Byung Deuk JEON

IPC分类号： G11C29/00 ,  G11C7/10

CPC分类号： G11C29/00 ,  G11C7/1057 ,  G11C8/12 ,  G11C11/40 ,  G11C29/1201 ,  G11C29/26 ,  G11C2029/2602

摘要： A semiconductor integrated circuit device includes a first circuit block configured to receive data from a plurality of data I/O (input/output) lines and output test data in a test mode, and a second circuit block configured to connect the plurality of data I/O lines and the first circuit block, output the data of the plurality of data I/O lines in a normal mode and output the test data provided from the first circuit block in the test mode.

摘要翻译： 半导体集成电路器件包括：第一电路块，被配置为在测试模式中从多个数据I / O（输入/输出）线接收数据并输出测试数据;以及第二电路块，被配置为将多个数据I / O线和第一电路块，以正常模式输出多个数据I / O线的数据，并在测试模式下输出从第一电路块提供的测试数据。

公开(公告)号：US20140124953A1

公开(公告)日：2014-05-08

申请号：US14152679

申请日：2014-01-10

申请人： SK hynix Inc.

发明人： Byung Deuk JEON ,  Nam Pyo HONG

IPC分类号： H01L25/065 ,  H01L23/538

CPC分类号： H01L25/0657 ,  G11C5/025 ,  G11C5/147 ,  G11C29/021 ,  G11C29/028 ,  H01L23/50 ,  H01L23/5384 ,  H01L25/18 ,  H01L2225/06513 ,  H01L2225/06541 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

摘要： A multi-chip semiconductor apparatus includes a plurality of semiconductor chips electrically connected and stacked. Each of the semiconductor chips trims a voltage level used in the semiconductor chip in response to a chip select signal.

摘要翻译： 多芯片半导体装置包括电连接和堆叠的多个半导体芯片。 每个半导体芯片响应于芯片选择信号来修整在半导体芯片中使用的电压电平。

公开(公告)号：US20200342923A1

公开(公告)日：2020-10-29

申请号：US16722521

申请日：2019-12-20

申请人： SK hynix Inc.

发明人： Seong Ju LEE ,  Yun Tack HAN ,  Byung Deuk JEON ,  Kyu Tae PARK

IPC分类号： G11C7/22 ,  G11C7/10 ,  G01R31/317 ,  G11C29/44 ,  G11C8/18

摘要： A memory system includes a representative memory device directly outputting a representative data strobe signal, at least one non-representative memory device outputting a non-representative data strobe signal through the representative memory device, and a controller generating an internal delay clock signal synchronized with the representative data strobe signal. The controller outputs a test mode code defining a delay time using the internal delay clock signal as a reference signal. The at least one non-representative memory device adjusts a phase of the non-representative data strobe signal such that the non-representative data strobe signal has a delay time corresponding to the test mode code.

公开(公告)号：US20140233332A1

公开(公告)日：2014-08-21

申请号：US13941777

申请日：2013-07-15

申请人： SK hynix Inc.

发明人： Byung Deuk JEON

IPC分类号： G11C11/402

CPC分类号： G11C11/402 ,  G11C11/40611

摘要： A semiconductor memory system includes a semiconductor memory configured to provide an external circuit with a plurality of refresh characteristic information and perform an auto-refresh operation in response to a plurality of auto-refresh commands, and a memory controller configured to provide the semiconductor memory with the plurality of auto-refresh commands generated according to the plurality of refresh characteristic information.

摘要翻译： 半导体存储器系统包括：半导体存储器，被配置为向外部电路提供多个刷新特性信息，并且响应于多个自动刷新命令执行自动刷新操作;以及存储器控制器，被配置为向半导体存储器提供 所述多个自动刷新命令根据所述多个刷新特性信息生成。

公开(公告)号：US20160217837A1

公开(公告)日：2016-07-28

申请号：US14719571

申请日：2015-05-22

申请人： SK hynix Inc.

发明人： Byung Deuk JEON

IPC分类号： G11C7/10 ,  G11C7/22 ,  G11C7/12

CPC分类号： G11C7/1057 ,  G11C7/1039 ,  G11C7/106 ,  G11C7/1066 ,  G11C7/1069 ,  G11C7/12 ,  G11C7/222 ,  G11C29/1201 ,  G11C29/48 ,  G11C2207/105

摘要： A semiconductor device may include a first channel configured to output a first rising clock, a first falling clock, first rising data, and first falling data. The semiconductor device may include a second channel configured to output a second rising clock, a second falling clock, second rising data, and second falling data. The semiconductor device may include an I/O control unit configured to receive the first rising clock, the first falling clock, the first rising data, and the first falling data, generate output data, and externally output the output data through a pad unit or receive the second rising clock, the second falling clock, the second rising data, and the second falling data, generate the output data, and externally output the output data through the pad unit.

摘要翻译： 半导体器件可以包括被配置为输出第一上升时钟，第一下降时钟，第一上升数据和第一下降数据的第一通道。 半导体器件可以包括被配置为输出第二上升时钟，第二下降时钟，第二上升数据和第二下降数据的第二通道。 半导体器件可以包括被配置为接收第一上升时钟，第一下降时钟，第一上升数据和第一下降数据的I / O控制单元，生成输出数据，以及通过焊盘单元从外部输出输出数据， 接收第二上升时钟，第二下降时钟，第二上升数据和第二下降数据，生成输出数据，并通过该单元从外部输出输出数据。

公开(公告)号：US20160217836A1

公开(公告)日：2016-07-28

申请号：US14718267

申请日：2015-05-21

申请人： SK hynix Inc.

发明人： Byung Deuk JEON

IPC分类号： G11C7/10 ,  G11C7/12 ,  G11C7/22

CPC分类号： G11C7/1051 ,  G11C5/025 ,  G11C7/1006 ,  G11C7/1012 ,  G11C7/1072 ,  G11C7/1078 ,  G11C7/1084 ,  G11C7/1087 ,  G11C7/1093 ,  G11C29/44

摘要： A semiconductor device includes a buffer block configured to generate a strobe signal by buffering an external strobe signal inputted through a first pad, output the strobe signal to a first node of a first input/output line, generate data by buffering external data inputted through a second pad, and output the data to a second node of a second input/output line; a first channel configured to store the data loaded on the second input/output line in synchronization with the strobe signal loaded on the first input/output line; and a second channel configured to store the data loaded on the second input/output line in synchronization with the strobe signal loaded on the first input/output line.

摘要翻译： 半导体器件包括：缓冲块，被配置为通过缓冲通过第一焊盘输入的外部选通信号来产生选通信号，将选通信号输出到第一输入/输出线的第一节点，通过缓冲通过 并将数据输出到第二输入/输出线的第二节点; 第一通道，被配置为与加载在第一输入/输出线路上的选通信号同步地存储加载在第二输入/输出线路上的数据; 以及第二通道，被配置为与加载在第一输入/输出线上的选通信号同步地存储加载在第二输入/输出线上的数据。

公开(公告)号：US20150179283A1

公开(公告)日：2015-06-25

申请号：US14177750

申请日：2014-02-11

申请人： SK hynix Inc.

发明人： Byung Deuk JEON

IPC分类号： G11C29/12 ,  G11C29/02

CPC分类号： G11C29/1201 ,  G11C29/12015

摘要： Semiconductor device includes a first data input/output (I/O) portion suitable for storing data inputted thereto through a first pad in a first cell block in synchronization with a test data strobe signal or a first data strobe signal and suitable for outputting the data stored in the first cell block to the first pad, a second data I/O portion suitable for storing data inputted thereto through a second pad in a second cell block in synchronization with the test data strobe signal or a second data strobe signal and suitable for outputting the data stored in the second cell block to the second pad, and a connection portion suitable for electrically connecting the first and second pads to each other in a test mode. Related semiconductor systems are also provided.

摘要翻译： 半导体装置包括第一数据输入/输出（I / O）部分，其适于通过与测试数据选通信号或第一数据选通信号同步的第一单元块中的第一焊盘存储输入的数据，并且适于输出数据 存储在第一单元块中的第一数据选通信号的第二数据I / O部分，第二数据I / O部分，适于通过与测试数据选通信号或第二数据选通信号同步的第二单元块中的第二焊盘存储输入的数据， 将存储在第二单元块中的数据输出到第二焊盘，以及适于在测试模式中将第一和第二焊盘彼此电连接的连接部分。 还提供了相关半导体系统。

公开(公告)号：US20150153750A1

公开(公告)日：2015-06-04

申请号：US14225600

申请日：2014-03-26

申请人： SK hynix Inc.

发明人： Byung Deuk JEON

IPC分类号： G05F1/575

CPC分类号： G06F13/382 ,  G05F1/468

摘要： A semiconductor system includes a master chip and a plurality of slave chips. The master chip controls internal voltage levels of the respective slave chips based on signals outputted from the plurality of slave chips such that, by referring to any one slave chip of the plurality of slave chips, internal voltage levels of remaining slave chips are controlled.

摘要翻译： 半导体系统包括主芯片和多个从芯片。 主芯片基于从多个从芯片输出的信号来控制各个从芯片的内部电压电平，从而通过参照多个从芯片的任何一个从芯片来控制剩余的从芯片的内部电压电平。

公开(公告)号：US20140143620A1

公开(公告)日：2014-05-22

申请号：US13846132

申请日：2013-03-18

申请人： SK HYNIX INC.

发明人： Byung Deuk JEON

IPC分类号： G01R31/317

CPC分类号： G01R31/31712 ,  G01R31/31905 ,  G01R31/31924 ,  G11C29/1201 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48

摘要： A semiconductor apparatus includes a data output unit and a test output unit. The data output unit outputs a plurality of data, through a plurality of data lines, to a plurality of input/output pads. The test output unit receives one of the plurality of data and a plurality of output data, which is output to the plurality of input/output pads, and outputs the received data to a probe pad in a probe test mode.

摘要翻译： 半导体装置包括数据输出单元和测试输出单元。 数据输出单元通过多条数据线将多个数据输出到多个输入/输出焊盘。 测试输出单元接收多个数据中的一个和输出到多个输入/输出焊盘的多个输出数据，并且以探针测试模式将接收到的数据输出到探针焊盘。