除胶效果评估方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106455351A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201610937114.8

    申请日:2016-11-01

    CPC classification number: H05K3/26 H05K2203/0783

    Abstract: 本发明公开一种除胶效果评估方法,使用晕圈长度评估除胶效果,测量除胶后的晕圈长度;所述晕圈长度越长,其除胶效果越差;所述晕圈长度越短,其除胶效果越好。本发明提供的除胶效果的评估方法,其可以有效的评估除胶效果,体现PCB除胶后的耐CAF性。

    一种电路板无残胶开孔镀铜工艺

    公开(公告)号:CN105307410A

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:CN201510698225.3

    申请日:2015-10-26

    Inventor: 徐法治

    CPC classification number: H05K3/429 H05K3/26 H05K2203/0783

    Abstract: 本发明公开了一种电路板无残胶开孔镀铜工艺,包括以下步骤:UV镭射盲孔、CNC钻孔、电浆除胶、高锰酸钾除胶和填孔,通过电镀填孔,在通孔和盲孔内镀铜,由于盲孔底部无残胶留下,确保盲孔的孔壁以及盲孔底部下表面铜箔的上表面分别有均匀的镀层。通过上述方式,本发明所述的电路板无残胶开孔镀铜工艺,分别利用电浆除胶和高锰酸钾除胶,彻底清除盲孔和通孔内的残胶,特别是盲孔底部残胶,提高了镀层的均匀性和牢度,确保电路板的性能。

Patent Agency Ranking