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公开(公告)号:CN102144104B
公开(公告)日:2016-11-23
申请号:CN200980134432.9
申请日:2009-08-31
申请人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人: F·沙欣诺马莱尔 , J·C·康普特 , A·F·巴克 , A·J·D·韦尔代尔
CPC分类号: F16C32/0493 , A61B6/035 , A61B6/4435 , F16C32/0461 , F16C2300/14 , F16C2316/10 , F16C2380/26 , G01N2223/3303 , H02K7/09 , H02K41/03
摘要: 本发明涉及一种旋转环装置,其包括:‑固定环(1);‑旋转环(2),其用于绕中心区域(3)旋转;旋转单元(4、5),其用于径向支承所述旋转环(2)并使所述旋转环(2)相对于固定环(1)旋转,所述旋转单元包括安装在所述固定环(1)上的固定感应元件(4)以及安装在所述旋转环(2)上的旋转感应元件(5);以及‑控制器(8),其用于控制所述旋转单元(4、5)以使旋转感应元件(5)旋转和悬浮,其中,以比所述固定感应元件距中心区域更大的径向距离布置所述旋转感应元件。
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公开(公告)号:CN102165308A
公开(公告)日:2011-08-24
申请号:CN200980137341.0
申请日:2009-01-13
申请人: GE传感与检测技术有限公司
IPC分类号: G01N23/04 , G01M17/013
CPC分类号: G01M17/013 , G01N23/04 , G01N2223/308 , G01N2223/309 , G01N2223/321 , G01N2223/3303 , G01N2223/3306 , G01N2223/3307 , G01N2223/5015 , G01N2223/627 , G01N2223/643 , G01N2223/645 , G01N2223/646
摘要: 本发明涉及一种用于借助x射线辐射对检测对象(15)进行材料检测的装置,该装置包括x射线装置(20)和电子控制装置(38),该x射线装置具有用于透射被保持在检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)和设计成行探测器的x射线探测器(13),该电子控制装置布置用于控制所述x射线装置(20),其中在x射线检测期间,所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)能够仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动,其特征在于,所述x射线探测器(13)包括至少两个探测部分(13A,13B,...),各探测部分设置用于在完整径向截面(52A,52B,...)上检测所述检测对象。
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公开(公告)号:CN100495439C
公开(公告)日:2009-06-03
申请号:CN200510123588.0
申请日:2005-11-21
申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号: G06T11/00
CPC分类号: G01N23/046 , A61B6/032 , G01N2223/3303 , G01N2223/419 , G06T11/006 , G06T2211/421
摘要: 公开了一种采用直线轨迹扫描的图像重建系统和方法,以避免在数据重排中因为角度方向插值和探测器方向插值造成的图像分辨率下降。该系统包括:投影数据转换部分,用于将直线轨迹扫描下的投影数据转换成拟平行束扫描下的投影数据;滤波部分,通过用预定的卷积函数核与拟平行束扫描下的投影数据卷积,来获得滤波后的投影数据;以及反投影部分,通过对滤波后的投影数据进行加权反投影来重建图像。利用本发明的系统和方法,提高了图像重建分辨率,降低数据截断对重建图像的影响。本发明采用滤波反投影的形式,因而具有一般滤波反投影的优点,比如重建快速,利于并行,便于加速等。
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公开(公告)号:CN107356616A
公开(公告)日:2017-11-17
申请号:CN201710167586.4
申请日:2017-03-21
申请人: 南京铁道职业技术学院
发明人: 王啸东
CPC分类号: G01N23/04 , G01N2223/308 , G01N2223/3303 , G01N2223/646 , H04L67/12
摘要: 一种测温型轮毂探伤系统和方法,包括:第四轨道,设置在第二轨道上,且能够沿第二轨道移动,在第二轨道上设置有滑块,滑块上固定第四轨道;所述第四轨道的底端一体化连接着直四棱柱状的联结杆,所述滑块为四棱柱状,所述联结杆同所述滑块通过联结条相联结,所述联结条熔接在所述滑块的一端,所述联结条为四棱柱状,在所述联结条带有自其顶部穿透其底部的卡接孔,所述服务器设置在主控箱内,在主控箱内还设置有温度传感器,所述温度传感器和报警器同所述单片机相连接。结合方法有效避免了现有技术中熔接固定结构会让滑块受损甚至无法继续使用而加大了费用开支的缺陷。
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公开(公告)号:CN106066335A
公开(公告)日:2016-11-02
申请号:CN201610353562.3
申请日:2016-05-25
申请人: 重庆大学
IPC分类号: G01N23/04
CPC分类号: G01N23/046 , G01N2223/3303 , G01N2223/646
摘要: 本发明涉及一种基于双周外部CT检测装置在线检测大口径管壁的方法及系统,该系统包括射线源、面阵探测器Ⅰ和面阵探测器Ⅱ、控制及图像处理系统;所述射线源、面阵探测器的信号线路与控制及图像处理系统相连,圆形轨道固定设置在管道上,使得圆形轨道的中心与管道的某一横截面的圆心重合;射线源、面阵探测器Ⅰ和面阵探测器Ⅱ分别固定在圆形轨道上;所述面阵探测器Ⅰ和面阵探测器Ⅱ在管道的两侧对称地偏置放置,使得射线源产生的锥形射线束能够覆盖管道的外壁区域。本发明可用较低能量的射线及较小尺寸的探测器扫描重建较大直径的管道外部环形区域的图像,射线束张角较小,射线一致性好,可用于重建管道(含固定管道)管壁的外部环形区域的三维图像。
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公开(公告)号:CN102165308B
公开(公告)日:2013-07-17
申请号:CN200980137341.0
申请日:2009-01-13
申请人: GE传感与检测技术有限公司
IPC分类号: G01N23/04 , G01M17/013
CPC分类号: G01M17/013 , G01N23/04 , G01N2223/308 , G01N2223/309 , G01N2223/321 , G01N2223/3303 , G01N2223/3306 , G01N2223/3307 , G01N2223/5015 , G01N2223/627 , G01N2223/643 , G01N2223/645 , G01N2223/646
摘要: 本发明涉及一种用于借助x射线辐射对检测对象(15)进行材料检测的装置,该装置包括x射线装置(20)和电子控制装置(38),该x射线装置具有用于透射被保持在检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)和设计成行探测器的x射线探测器(13),该电子控制装置布置用于控制所述x射线装置(20),其中在x射线检测期间,所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)能够仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动,其特征在于,所述x射线探测器(13)包括至少两个探测部分(13A,13B,...),各探测部分设置用于在完整径向截面(52A,52B,...)上检测所述检测对象。
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公开(公告)号:CN1971620A
公开(公告)日:2007-05-30
申请号:CN200510123588.0
申请日:2005-11-21
申请人: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
IPC分类号: G06T11/00
CPC分类号: G01N23/046 , A61B6/032 , G01N2223/3303 , G01N2223/419 , G06T11/006 , G06T2211/421
摘要: 公开了一种采用直线轨迹扫描的图像重建系统和方法,以避免在数据重排中因为角度方向插值和探测器方向插值造成的图像分辨率下降。该系统包括:投影数据转换部分,用于将直线轨迹扫描下的投影数据转换成拟平行束扫描下的投影数据;滤波部分,通过用预定的卷积函数核与拟平行束扫描下的投影数据卷积,来获得滤波后的投影数据;以及反投影部分,通过对滤波后的投影数据进行加权反投影来重建图像。利用本发明的系统和方法,提高了图像重建分辨率,降低数据截断对重建图像的影响。本发明采用滤波反投影的形式,因而具有一般滤波反投影的优点,比如重建快速,利于并行,便于加速等。
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公开(公告)号:CN108132262A
公开(公告)日:2018-06-08
申请号:CN201711232881.X
申请日:2017-11-29
申请人: 住友化学株式会社
IPC分类号: G01N23/04 , G01N21/892 , G01N21/17 , B65H26/02
CPC分类号: H01M2/145 , B65H18/28 , B65H21/00 , B65H26/00 , B65H2301/542 , B65H2515/84 , B65H2553/40 , G01N23/04 , G01N2223/3306 , G01N2223/646 , H01M10/0525 , B65H26/02 , B65H2553/22 , G01N21/17 , G01N21/892 , G01N2021/1765 , G01N2223/03 , G01N2223/1013 , G01N2223/1016 , G01N2223/3303 , G01N2223/3307 , G01N2223/652
摘要: 本发明提供缺陷检查装置、缺陷检查方法及隔膜卷绕体的制造方法。本发明能够实现大范围且准确的缺陷检查。缺陷检查装置(1)具有:射线源部(2),其对隔膜卷绕体(10)照射电磁波(4);以及传感器部(3),其对从射线源部(2)照射到隔膜卷绕体(10)的电磁波(4)进行检测,传感器部(3)在隔膜卷绕体(10)进行相对移动的前后针对隔膜卷绕体(10)来检测电磁波(4)。
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公开(公告)号:CN107255642A
公开(公告)日:2017-10-17
申请号:CN201710485654.1
申请日:2017-06-23
申请人: 昆山善思光电科技有限公司
发明人: 林毅宁
IPC分类号: G01N23/00
CPC分类号: G01N23/00 , G01N2223/3303
摘要: 本发明提供一种X光无损检测设备的导航装置及其方法,适用于定位一目标物体,该X光无损检测设备包括X光探测器、X光发射器和载物台,导航装置包括导航相机、标定装置和显示装置,其中,导航相机设于载物台上方,实时拍摄一导航图;标定板上设有若干标定点,该标定板放置于该载物台上;该方法为:移动该X光探测器至该若干标定点,记录若干标定点的物理坐标和对应该导航图上的导航坐标,确定该物理坐标和该导航坐标的几何关系,使得点击该导航图上的任一该导航坐标时,该X光探测器移动至相对应的该物理坐标的上方。
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公开(公告)号:CN106290427A
公开(公告)日:2017-01-04
申请号:CN201610900969.3
申请日:2016-10-17
申请人: 北京君和信达科技有限公司
IPC分类号: G01N23/203
CPC分类号: G01N23/203 , G01N2223/1016 , G01N2223/3303
摘要: 本发明公开了一种背散射成像方法及系统。其中,扫描装置固定在搭载平台上,用于向检测区域发射扫描射线束,一个或多个探测器可移动地设置在搭载平台上,用于接收从检测区域中的待检测物体散射的散射射线束。由此,可以根据需要关注的检测区域的高度,调节一个或多个探测器的位置,以使得探测器的探测面处于适于接收从检测区域中的待检测物体散射的信号的位置。
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