公开(公告)号：CN102165308B

公开(公告)日：2013-07-17

申请号：CN200980137341.0

申请日：2009-01-13

Applicant: GE传感与检测技术有限公司

Inventor： J·克拉默 ,  I·施图克 ,  N·布莱特泽克 ,  H·卢克斯 ,  M·维斯滕贝克尔 ,  T·F·古恩泽勒

IPC: G01N23/04 ,  G01M17/013

CPC classification number: G01M17/013 ,  G01N23/04 ,  G01N2223/308 ,  G01N2223/309 ,  G01N2223/321 ,  G01N2223/3303 ,  G01N2223/3306 ,  G01N2223/3307 ,  G01N2223/5015 ,  G01N2223/627 ,  G01N2223/643 ,  G01N2223/645 ,  G01N2223/646

Abstract: 本发明涉及一种用于借助x射线辐射对检测对象(15)进行材料检测的装置，该装置包括x射线装置(20)和电子控制装置(38)，该x射线装置具有用于透射被保持在检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)和设计成行探测器的x射线探测器(13)，该电子控制装置布置用于控制所述x射线装置(20)，其中在x射线检测期间，所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)能够仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动，其特征在于，所述x射线探测器(13)包括至少两个探测部分(13A，13B，...)，各探测部分设置用于在完整径向截面(52A，52B，...)上检测所述检测对象。

公开(公告)号：CN102165308A

公开(公告)日：2011-08-24

申请号：CN200980137341.0

申请日：2009-01-13

Applicant: GE传感与检测技术有限公司

Inventor： J·克拉默 ,  I·施图克 ,  N·布莱特泽克 ,  H·卢克斯 ,  M·维斯滕贝克尔 ,  T·F·古恩泽勒

IPC: G01N23/04 ,  G01M17/013

CPC classification number: G01M17/013 ,  G01N23/04 ,  G01N2223/308 ,  G01N2223/309 ,  G01N2223/321 ,  G01N2223/3303 ,  G01N2223/3306 ,  G01N2223/3307 ,  G01N2223/5015 ,  G01N2223/627 ,  G01N2223/643 ,  G01N2223/645 ,  G01N2223/646

Abstract: 本发明涉及一种用于借助x射线辐射对检测对象(15)进行材料检测的装置，该装置包括x射线装置(20)和电子控制装置(38)，该x射线装置具有用于透射被保持在检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)和设计成行探测器的x射线探测器(13)，该电子控制装置布置用于控制所述x射线装置(20)，其中在x射线检测期间，所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)能够仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动，其特征在于，所述x射线探测器(13)包括至少两个探测部分(13A，13B，...)，各探测部分设置用于在完整径向截面(52A，52B，...)上检测所述检测对象。