公开(公告)号：CN102165308B

公开(公告)日：2013-07-17

申请号：CN200980137341.0

申请日：2009-01-13

Applicant: GE传感与检测技术有限公司

Inventor： J·克拉默 ,  I·施图克 ,  N·布莱特泽克 ,  H·卢克斯 ,  M·维斯滕贝克尔 ,  T·F·古恩泽勒

IPC: G01N23/04 ,  G01M17/013

CPC classification number: G01M17/013 ,  G01N23/04 ,  G01N2223/308 ,  G01N2223/309 ,  G01N2223/321 ,  G01N2223/3303 ,  G01N2223/3306 ,  G01N2223/3307 ,  G01N2223/5015 ,  G01N2223/627 ,  G01N2223/643 ,  G01N2223/645 ,  G01N2223/646

Abstract: 本发明涉及一种用于借助x射线辐射对检测对象(15)进行材料检测的装置，该装置包括x射线装置(20)和电子控制装置(38)，该x射线装置具有用于透射被保持在检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)和设计成行探测器的x射线探测器(13)，该电子控制装置布置用于控制所述x射线装置(20)，其中在x射线检测期间，所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)能够仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动，其特征在于，所述x射线探测器(13)包括至少两个探测部分(13A，13B，...)，各探测部分设置用于在完整径向截面(52A，52B，...)上检测所述检测对象。

公开(公告)号：CN101963620A

公开(公告)日：2011-02-02

申请号：CN201010236738.X

申请日：2010-07-23

Applicant: GE传感与检测技术有限公司

Inventor： M·穆斯滕贝克尔 ,  I·施图克

IPC: G01N35/00 ,  G01N23/04 ,  G01N23/18

CPC classification number: G01N23/046 ,  G01N2223/419

Abstract: 一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10)，包括具有X射线装置(24，25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入/出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)。所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和固定在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18)，所述X射线装置(24，25)被设置在所述转子(18)上，所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12)，以及所述控制/评估单元(14)被设置用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号。

公开(公告)号：CN102165308A

公开(公告)日：2011-08-24

申请号：CN200980137341.0

申请日：2009-01-13

Applicant: GE传感与检测技术有限公司

Inventor： J·克拉默 ,  I·施图克 ,  N·布莱特泽克 ,  H·卢克斯 ,  M·维斯滕贝克尔 ,  T·F·古恩泽勒

IPC: G01N23/04 ,  G01M17/013

CPC classification number: G01M17/013 ,  G01N23/04 ,  G01N2223/308 ,  G01N2223/309 ,  G01N2223/321 ,  G01N2223/3303 ,  G01N2223/3306 ,  G01N2223/3307 ,  G01N2223/5015 ,  G01N2223/627 ,  G01N2223/643 ,  G01N2223/645 ,  G01N2223/646

Abstract: 本发明涉及一种用于借助x射线辐射对检测对象(15)进行材料检测的装置，该装置包括x射线装置(20)和电子控制装置(38)，该x射线装置具有用于透射被保持在检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)和设计成行探测器的x射线探测器(13)，该电子控制装置布置用于控制所述x射线装置(20)，其中在x射线检测期间，所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)能够仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动，其特征在于，所述x射线探测器(13)包括至少两个探测部分(13A，13B，...)，各探测部分设置用于在完整径向截面(52A，52B，...)上检测所述检测对象。

公开(公告)号：CN101963620B

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201010236738.X

申请日：2010-07-23

Applicant: GE传感与检测技术有限公司

Inventor： M·穆斯滕贝克尔 ,  I·施图克

IPC: G01N35/00 ,  G01N23/04 ,  G01N23/18

CPC classification number: G01N23/046 ,  G01N2223/419

Abstract: 一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10)，包括具有X射线装置(24，25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入/出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)。所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和固定在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18)，所述X射线装置(24，25)被设置在所述转子(18)上，所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12)，以及所述控制/评估单元(14)被设置用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号。

公开(公告)号：CN102165307A

公开(公告)日：2011-08-24

申请号：CN200880131251.6

申请日：2008-09-24

Applicant: GE传感与检测技术有限公司

Inventor： J·克拉默 ,  I·施图克 ,  N·布莱特泽克 ,  H·卢克斯 ,  M·维斯滕贝克尔

IPC: G01N23/04 ,  G01M17/013

CPC classification number: G01M17/013 ,  G01N23/04 ,  G01N2223/308 ,  G01N2223/309 ,  G01N2223/321 ,  G01N2223/3303 ,  G01N2223/3306 ,  G01N2223/3307 ,  G01N2223/5015 ,  G01N2223/627 ,  G01N2223/643 ,  G01N2223/645 ,  G01N2223/646

Abstract: 本发明涉及一种用于借助x射线对检测对象(15)进行材料检测的装置(10)，该装置包括一用于自动、顺序地将检测对象(15)送入检测位置或从检测位置送出的平动输送装置(14)以及一x射线装置(20)，所述x射线装置(20)包含一用于透射被保持在支承件(33)上、所述检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)以及一x射线探测器(13)，其中所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)在x射线检测期间能仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动。根据本发明的一方面，所述支承件(33)连同被保持在其上的所述检测对象(15)一起能够围绕所述转动轴线(R)整体转动以进行所述x射线检测。根据本发明的另一方面，所述x射线装置(20)能够围绕所述转动轴线(R)整体转动以进行所述x射线检测。