公开(公告)号：CN101963620B

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201010236738.X

申请日：2010-07-23

Applicant: GE传感与检测技术有限公司

Inventor： M·穆斯滕贝克尔 ,  I·施图克

IPC: G01N35/00 ,  G01N23/04 ,  G01N23/18

CPC classification number: G01N23/046 ,  G01N2223/419

Abstract: 一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10)，包括具有X射线装置(24，25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入/出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)。所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和固定在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18)，所述X射线装置(24，25)被设置在所述转子(18)上，所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12)，以及所述控制/评估单元(14)被设置用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号。

公开(公告)号：CN101963620A

公开(公告)日：2011-02-02

申请号：CN201010236738.X

申请日：2010-07-23

Applicant: GE传感与检测技术有限公司

Inventor： M·穆斯滕贝克尔 ,  I·施图克

IPC: G01N35/00 ,  G01N23/04 ,  G01N23/18

CPC classification number: G01N23/046 ,  G01N2223/419

Abstract: 一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10)，包括具有X射线装置(24，25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入/出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)。所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和固定在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18)，所述X射线装置(24，25)被设置在所述转子(18)上，所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12)，以及所述控制/评估单元(14)被设置用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号。