用于提高光声膜厚度测量系统中的信噪比的方法和设备

    公开(公告)号:CN100565099C

    公开(公告)日:2009-12-02

    申请号:CN02818032.1

    申请日:2002-07-12

    CPC classification number: G01B11/0666 G01B11/28 G01N21/1702 G01N2021/1706

    Abstract: 一种用于提高测量薄膜叠层中各层厚度时的信噪比的设备,使用一种光声测量系统(75),该系统包括时间差分系统(130)用于诱发泵浦光束脉冲(125A)中的延迟。其中,该时间差分系统(130)使用双折射元件和其它元件来控制泵浦光束脉冲(125A)的偏振。该设备的使用涉及向电光调制器驱动器施加随时间变化的电压并设置时间差分步长;或者,在另一个实施例中,向电光调制器施加随时间变化的电压以诱发垂直偏振的脉冲和水平偏振的脉冲之间的固定延迟Δt。该系统的高频操作提供了对膜的厚度的改进的确定。

    改进的薄膜厚度测量方法和装置

    公开(公告)号:CN1291284A

    公开(公告)日:2001-04-11

    申请号:CN99803134.8

    申请日:1999-10-21

    CPC classification number: G01B11/0666 G01N21/636

    Abstract: 所述的是测量样品性质的一种方法和装置:用具有至少一个空间相位和空间周期的激发图样照射样品的一部分;一部分探测光束从样品表面衍射;用光学探测器检测探测光束的衍射部分,产生光诱导的信号;处理光诱导的信号,确定样品的性质。通过调节激发图样的空间位相和重复照射、衍射和检测步骤,能产生至少一个附加光诱导信号,本方法有相当大的改进。

    用于提高光声膜厚度测量系统中的信噪比的方法和设备

    公开(公告)号:CN1555479A

    公开(公告)日:2004-12-15

    申请号:CN02818032.1

    申请日:2002-07-12

    CPC classification number: G01B11/0666 G01B11/28 G01N21/1702 G01N2021/1706

    Abstract: 一种用于提高测量薄膜叠层中各层厚度时的信噪比的设备,使用一种光声测量系统(75),该系统包括时间差分系统(130)用于诱发泵浦光束脉冲(125A)中的延迟。其中,该时间差分系统(130)使用双折射元件和其它元件来控制泵浦光束脉冲(125A)的偏振。该设备的使用涉及向电光调制器驱动器施加随时间变化的电压并设置时间差分步长;或者,在另一个实施例中,向电光调制器施加随时间变化的电压以诱发垂直偏振的脉冲和水平偏振的脉冲之间的固定延迟Δt。该系统的高频操作提供了对膜的厚度的改进的确定。

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