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公开(公告)号：CN117110850A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202310994299.6
申请日：2023-08-08
Applicant: 重庆邮电大学
IPC: G01R31/317
Abstract: 本发明请求保护一种基于ST2500测试机的MCU片上ADC测试方法，包括以下步骤：①通过MCU的JTAG接口程序烧录，使MCU的片上ADC处于工作状态。②配置ST2500测试机，使测试机能够根据需要发出特定频率和幅度的正弦信号。③将MCU片上ADC的输入引脚与测试机发出正弦信号的引脚进行连接。④运行测试机和MCU程序，并将MCU片上ADC转换的结果读取出来。⑤对数据进行处理完成MCU片上ADC的动态参数和静态参数测试，判断MCU片上ADC是否合格。本发明提高了片上ADC测试的准确性。
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公开(公告)号：CN116881061A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202310993272.5
申请日：2023-08-08
Applicant: 重庆邮电大学
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明请求保护一种基于ST2500测试机的MCU存储器测试方法，包括以下步骤：①通过被测MCU的IIC接口设计协议解析模块。②设计测试模式，利用MCU芯片IIC接口进行测试指令以及数据的传输，将MCU作为IIC从机，并采用中断触发机制，测试机发送激活序列使MCU处于复位状态。③激活MCU，若接收到正确的模式代码，则进入存储器测试模式，MCU芯片内部TEST_MODE信号有效，变为高电平。④MCU芯片根据地址数据以及测试数据写入存储器对应的区域，以进行存储器的写数据测试。⑤MCU根据地址数据将对应存储区域的数据通过输出，以进行存储器的读数据测试。⑥测试机将写入MCU的数据与读出的数据进行比较，若读写数据一致，则通过测试，否则测试失败。本发明提高了MCU测试的可靠性与覆盖率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113390441B
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202110609462.3
申请日：2021-06-01
Applicant: 重庆邮电大学
Abstract: 本发明请求保护一种折射率变化传感的装置及测量方法，属于光纤传感领域，该装置包括：激光器，抑制载波双边带调制模块，微波源，光分束器，折射率敏感模块，移频器，光耦合器，光电探测器，信号采集与数据处理模块。所述激光器、抑制载波双边带调制模块、光分束器、折射率敏感模块、移频器、光耦合器、光电探测器依次光连接；所述抑制载波双边带调制模块、微波源依次电路连接；所述光电探测器、信号采集与数据处理模块依次电路连接。本发明解决了现有光纤传感检测技术中光谱分析精度低以及传统微波光子传感检测中需要宽频范围探测与处理系统的缺点，具有测量精度高，实时测量，且只需低频检测及处理系统等优点。
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公开(公告)号：CN116131847A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202310104685.3
申请日：2023-02-13
Applicant: 重庆邮电大学
IPC: H03L7/099 , H03L7/07 , H04B7/0413 , H04B17/391
Abstract: 本发明涉及一种用于MIMO信道仿真器的多通道本振模块，属于通信技术领域。本方法由时钟产生单元，可变本振单元，固定本振单元和控制模块组成。时钟产生单元由100.00MHz恒温晶振，时钟分配模块和锁相环抖动衰减器组成；恒温晶振用于产生高稳定度低相噪的时钟信号；时钟分配模块将恒温晶振产生的频率信号分成8路，分别提供给8个可变本振单元和8个固定本振单元；锁相环抖动衰减器负责产生122.88MHz的时钟信号提供给数字部分。本发明可同时提供128个频率范围覆盖900MHz～6.3GHz，相位噪声低于‑100dB/Hz的频率信号，能满足MIMO信道仿真器的应用，同时也可用于其他的MIMO收发设备中。
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公开(公告)号：CN113390441A
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN202110609462.3
申请日：2021-06-01
Applicant: 重庆邮电大学
Abstract: 本发明请求保护一种折射率变化传感的装置及测量方法，属于光纤传感领域，该装置包括：激光器，抑制载波双边带调制模块，微波源，光分束器，折射率敏感模块，移频器，光耦合器，光电探测器，信号采集与数据处理模块。所述激光器、抑制载波双边带调制模块、光分束器、折射率敏感模块、移频器、光耦合器、光电探测器依次光连接；所述抑制载波双边带调制模块、微波源依次电路连接；所述光电探测器、信号采集与数据处理模块依次电路连接。本发明解决了现有光纤传感检测技术中光谱分析精度低以及传统微波光子传感检测中需要宽频范围探测与处理系统的缺点，具有测量精度高，实时测量，且只需低频检测及处理系统等优点。
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公开(公告)号：CN219392211U
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202320005437.9
申请日：2023-01-03
Applicant: 重庆邮电大学
Abstract: 本实用新型请求保护一种基于自外差的宽带光电子集成芯片测试仪，属于光电检测领域。其包括：双波长激光模块、电源模块、辅助电光调制器、辅助光电探测器、信号处理装置以及环形器，双波长激光模块经分束器后通过光路与辅助电光调制器相连，辅助电光调制器通过环形器与辅助光电探测器相连，辅助光电探测器的输出端通过电路与信号处理装置相连，所述电源模块分别与双波长激光模块、辅助电光调制器、辅助光电探测器及信号处理装置连接并供电。
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