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公开(公告)号：CN111983625B
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202010698714.X
申请日：2020-07-20
Applicant: 重庆邮电大学
Abstract: 本发明请求保护一种基于GABP的脉冲激光测距误差补偿方法，其包括以下步骤：步骤1、设计硬件电路，所述硬件电路用于对光信号进行探测，将光信号转化为模拟电信号，然后采用固定阈值将模拟信号转化为数字信号；再将数字信号输入到时间测量单元，测量回波信号的脉冲宽度与原始飞行时间参数值；步骤2、设定不同的目标物，利用步骤1的数据获取方式获得回波信号的脉冲宽度和飞行时间误差的参数值；数据分析软件再利用GABP回归分析方法获得校正曲线网络参数；步骤3、将步骤2获取的优化的神经网络参数写入微处理器；在60‑600cm的范围内进行实际测距试验，验证基于GABP补偿算法的测距机的测距精度。
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公开(公告)号：CN113938189A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202111148912.X
申请日：2021-09-29
Applicant: 重庆邮电大学
IPC: H04B10/079
Abstract: 本发明请求保护一种马赫‑曾德尔调制器频率响应测试装置与方法。本发明由双波长激光模块、待测马赫‑曾德尔调制器、微波信号源、光电探测器和电信号分析模块组成，其中双波长激光模块、待测马赫‑曾德尔调制器、光电探测器依次光连接，微波信号源与待测马赫‑曾德尔调制器的输入电极端为电连接，光电探测器输出端与电信号分析模块为电连接；双波长激光器模块输出频率间隔固定且足够小(频率差为fs为MHz量级)；使马赫‑曾德尔调制器分别实现抑制奇数阶和抑制偶数阶光边带调制，经光电检测和信号分析分别获得两次不同工作状态下频率为fs拍频信号功率，通过两信号功率比值实现马赫‑曾德尔调制器频率响应测试。
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公开(公告)号：CN113933586A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202111149008.0
申请日：2021-09-29
Applicant: 重庆邮电大学
Abstract: 本发明请求保护一种光电探测器的频率响应测试装置及方法，属于光电子技术领域，包括：双波长光发射模块、微波源，抑制载波双边带调制模块、待测光电探测器和电信号分析模块。其中双波长光发射模块、抑制载波双边带调制模块和待测光电探测器依次光连接；待测光电探测器和电信号分析模块依次电路连接。通过探测双波长抑制载波双边带调制光信号的混频成分，其中高频成分相对于固定低频成分(光发射模块输出频率间隔固定且足够小(频率差为fs为MHz量级))的幅度比为待测光电探测器的频率响应。本发明解决了现有测试方法测量精度不高，测量范围有限，需要辅助宽带器件等缺点。实现了一个结构简单、范围宽、高精度的光电探测器响应度的自校准测试。
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公开(公告)号：CN113933538B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202111101497.2
申请日：2021-09-18
Applicant: 重庆邮电大学
IPC: G01P15/12
Abstract: 本发明公开一种压阻式高g值加速度计,包括上层敏感结构，上层敏感结构包括加速度计框架、质量块及质量块外围支撑框架；在质量块外围支撑框架内设置四个质量块，在四个质量块之间形成正交于中心轴的十字间隙；每两个相邻的质量块之间的间隙上设置连接两质量块的敏感梁，每个敏感梁上设置有构成惠斯通电桥的电路压敏电阻，所述敏感梁的厚度远小于质量块的厚度。本发明的有益效果是：由于相邻的两个质量块之间的间隙，使质量系统的整体质心的上移，从而抑制横向效应。压敏电阻位于敏感梁上，由于整个结构的应力主要集中于敏感梁，有利于提高结构灵敏度。本发明对于解决高g值加速度计存在的灵敏度低的问题、减小横向效应具有重要的意义。
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公开(公告)号：CN113933586B
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202111149008.0
申请日：2021-09-29
Applicant: 重庆邮电大学
Abstract: 本发明请求保护一种光电探测器的频率响应测试装置及方法，属于光电子技术领域，包括：双波长光发射模块、微波源，抑制载波双边带调制模块、待测光电探测器和电信号分析模块。其中双波长光发射模块、抑制载波双边带调制模块和待测光电探测器依次光连接；待测光电探测器和电信号分析模块依次电路连接。通过探测双波长抑制载波双边带调制光信号的混频成分，其中高频成分相对于固定低频成分(光发射模块输出频率间隔固定且足够小(频率差为fs为MHz量级))的幅度比为待测光电探测器的频率响应。本发明解决了现有测试方法测量精度不高，测量范围有限，需要辅助宽带器件等缺点。实现了一个结构简单、范围宽、高精度的光电探测器响应度的自校准测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111970051B
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202010743516.0
申请日：2020-07-29
Applicant: 重庆邮电大学
IPC: H04B10/079 , H04B10/50 , H04B10/54 , H04B10/556
Abstract: 本发明请求保护一种电光相位调制器残余幅度调制系数的测试装置及方法。本发明由激光器、微波信号源、辅助微波信号源、待测电光相位调制器、辅助电光强度调制器、光电探测器和频谱分析模块组成，其中，激光器、待测电光相位调制器、辅助电光强度调制器、光电探测器依次光连接，微波信号源与待测电光相位调制器的输入电极端为电连接，辅助微波信号源与辅助电光强度调制器的输入电极端为电连接，光电探测器输出端与频谱分析模块为电连接；设置微波信号源输出信号频率f1与辅助微波信号源输出信号频率f2的关系为f1≈2f2的情况下，通过频谱分析模块，获得拍频成分f1‑f2和f2成分的功率比值，实现对待测电光相位调制器的残余幅度调制系数的高精度、自校准测试。
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公开(公告)号：CN110187177B
公开(公告)日：2021-09-10
申请号：CN201910406586.4
申请日：2019-05-16
Applicant: 重庆邮电大学
Abstract: 本发明请求保护一种多合一的光电子器件频率响应测试装置及方法。本发明由激光器、移频外差干涉模块、待测光电探测器和频谱分析模块组成，其中，移频外差干涉模块由待测电光调制器与移频器组成，且分别放置于干涉模块的马赫‑曾德上、下臂中，激光器、移频外差干涉模块和待测光电探测器依次光连接，微波信号源与待测电光调制器的输入电极端为电连接，待测光电探测器输出端与频谱分析模块为电连接；设置微波信号源在相同工作频率下的两次不同输出电压驱动的情况下，通过频谱分析模块，获得对应成分的功率比值，通过两次不同驱动下功率比值的比，实现对待测电光调制器的频率响应测试，进而反算出待测光电探测器频率响应，最终实现频率响应自校准测试。
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公开(公告)号：CN110187177A
公开(公告)日：2019-08-30
申请号：CN201910406586.4
申请日：2019-05-16
Applicant: 重庆邮电大学
Abstract: 本发明请求保护一种多合一的光电子器件频率响应测试装置及方法。本发明由激光器、移频外差干涉模块、待测光电探测器和频谱分析模块组成，其中，移频外差干涉模块由待测电光调制器与移频器组成，且分别放置于干涉模块的马赫-曾德上、下臂中，激光器、移频外差干涉模块和待测光电探测器依次光连接，微波信号源与待测电光调制器的输入电极端为电连接，待测光电探测器输出端与频谱分析模块为电连接；设置微波信号源在相同工作频率下的两次不同输出电压驱动的情况下，通过频谱分析模块，获得对应成分的功率比值，通过两次不同驱动下功率比值的比，实现对待测电光调制器的频率响应测试，进而反算出待测光电探测器频率响应，最终实现频率响应自校准测试。
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公开(公告)号：CN113391136B
公开(公告)日：2023-09-26
申请号：CN202110601612.6
申请日：2021-05-31
Applicant: 重庆邮电大学
Abstract: 本发明请求保护一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置及方法，属于光电子技术领域，该装置包括：激光器，抑制载波双边带调制模块，光分束器，色散介质，移频器，光耦合器，光电探测器，信号采集与数据处理模块。所述激光器、抑制载波双边带调制模块、光分束器、色散介质、移频器、光耦合器(6)、光电探测器依次光连接；所述光电探测器、信号采集与数据处理模块依次电路连接。本发明解决了现有微波光子测频技术中需使用宽带光电探测及处理系统的缺点，具有测量精度高，实时测量，只需低频检测及处理系统等优点。
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公开(公告)号：CN113391136A
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN202110601612.6
申请日：2021-05-31
Applicant: 重庆邮电大学
Abstract: 本发明请求保护一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置及方法，属于光电子技术领域，该装置包括：激光器，抑制载波双边带调制模块，光分束器，色散介质，移频器，光耦合器，光电探测器，信号采集与数据处理模块。所述激光器、抑制载波双边带调制模块、光分束器、色散介质、移频器、光耦合器(6)、光电探测器依次光连接；所述光电探测器、信号采集与数据处理模块依次电路连接。本发明解决了现有微波光子测频技术中需使用宽带光电探测及处理系统的缺点，具有测量精度高，实时测量，只需低频检测及处理系统等优点。
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