一种不可逆X射线计数器的制备方法

    公开(公告)号:CN113219513A

    公开(公告)日:2021-08-06

    申请号:CN202110320689.6

    申请日:2021-03-25

    Abstract: 本发明公开了一种不可逆X射线计数器的制备方法,属于复合材料制备技术领域。将闪烁体氟化钡加入聚乙二醇和乙醇的混合溶剂中,将翠绿亚胺基聚苯胺、三苯基硫三氟甲磺酸盐加入N‑甲基吡咯烷酮溶剂中,随后混合两种溶液形成混合溶液。混合溶液通过旋涂或者滴定法沉积到不同衬底上形成薄膜。该薄膜在X射线的照射下,释放出紫外光,通过实现紫外光的不可逆检测,从而实现X射线的不可逆检测。本发明公开的不可逆X射线检测技术,可以克服现有辐射探测器器件尺寸大等问题,实现器件微型化、全柔性、不可逆、定量测量等特性,其潜在应用领域广泛。

    一种不可逆X射线计数器的制备方法

    公开(公告)号:CN113219513B

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202110320689.6

    申请日:2021-03-25

    Abstract: 本发明公开了一种不可逆X射线计数器的制备方法,属于复合材料制备技术领域。将闪烁体氟化钡加入聚乙二醇和乙醇的混合溶剂中,将翠绿亚胺基聚苯胺、三苯基硫三氟甲磺酸盐加入N‑甲基吡咯烷酮溶剂中,随后混合两种溶液形成混合溶液。混合溶液通过旋涂或者滴定法沉积到不同衬底上形成薄膜。该薄膜在X射线的照射下,释放出紫外光,通过实现紫外光的不可逆检测,从而实现X射线的不可逆检测。本发明公开的不可逆X射线检测技术,可以克服现有辐射探测器器件尺寸大等问题,实现器件微型化、全柔性、不可逆、定量测量等特性,其潜在应用领域广泛。

    一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置及方法

    公开(公告)号:CN113391136B

    公开(公告)日:2023-09-26

    申请号:CN202110601612.6

    申请日:2021-05-31

    Abstract: 本发明请求保护一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置及方法,属于光电子技术领域,该装置包括:激光器,抑制载波双边带调制模块,光分束器,色散介质,移频器,光耦合器,光电探测器,信号采集与数据处理模块。所述激光器、抑制载波双边带调制模块、光分束器、色散介质、移频器、光耦合器(6)、光电探测器依次光连接;所述光电探测器、信号采集与数据处理模块依次电路连接。本发明解决了现有微波光子测频技术中需使用宽带光电探测及处理系统的缺点,具有测量精度高,实时测量,只需低频检测及处理系统等优点。

    一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置及方法

    公开(公告)号:CN113391136A

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN202110601612.6

    申请日:2021-05-31

    Abstract: 本发明请求保护一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置及方法,属于光电子技术领域,该装置包括:激光器,抑制载波双边带调制模块,光分束器,色散介质,移频器,光耦合器,光电探测器,信号采集与数据处理模块。所述激光器、抑制载波双边带调制模块、光分束器、色散介质、移频器、光耦合器(6)、光电探测器依次光连接;所述光电探测器、信号采集与数据处理模块依次电路连接。本发明解决了现有微波光子测频技术中需使用宽带光电探测及处理系统的缺点,具有测量精度高,实时测量,只需低频检测及处理系统等优点。

Patent Agency Ranking