一种适用于固定平台的光电系统转台零位自动校正方法

    公开(公告)号:CN118347522A

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202410441758.2

    申请日:2024-04-12

    IPC分类号: G01C25/00

    摘要: 本发明属于光电系统标校技术领域,公开了一种适用于固定平台光电系统转台零位自动校正的方法,该方法通过图像上目标像素坐标解算目标轴角位置,与目标在载体坐标系下的计算值对比,实现转台零位的自动校正。与现有的手动操作方式相比,该方法简化了操作过程,降低了操作要求;通过目标在图像上的像素坐标解析,使光电系统无需精确瞄准目标,实现了基于像素级别的定位,缩小了器件精度引入的误差;提供了零位偏移快速检测方法,对零位偏移量采用数字量化指标,避免操作人员主观感知引入的误判断。该方法无需增加硬件设施,降低了系统成本,具备快速、准确、便捷、高效、经济的特点,满足现场校正需求,可以普遍适用到其他固定平台光电系统。

    一种多传感器光电设备光轴平行性免标校装置

    公开(公告)号:CN118190363A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410441651.8

    申请日:2024-04-12

    IPC分类号: G01M11/02 G01B11/26

    摘要: 本发明属于光电技术领域,公开了一种多传感器光电设备光轴平行性免标校装置,调整基座位置使单筒方管前置镜中十字分划与抛物面反射镜中校轴十字靶板十字分划重合;调整瞄准镜位置使瞄准镜中十字分划与抛物面反射镜中校轴十字靶板十字分划重合,完成标校。本发明为多传感器光电设备在不具备实验室标校条件的工作场地,实现快速更换相同光电传感器后不需要重新标校各光电传感器之间的光轴平行性,而且更换后各光电传感器之间的光轴平行性精度不下降,不影响使用性能。

    一种通用的相机内方位元素与几何畸变测试方法

    公开(公告)号:CN116962665A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310756168.4

    申请日:2023-06-26

    IPC分类号: H04N17/00

    摘要: 本发明属于相机内方位元素及几何畸变测试技术领域,公开了一种通用的相机内方位元素与几何畸变测试方法,包括以下步骤:步骤S1:搭建测试系统;步骤S2:待测相机与平行光管调平;步骤S3:开展待测相机的正式测量拍摄环节;步骤S4:利用以上测量记录和质心结果的计算数据,通过最小二乘法计算主点、主距和畸变,即相机的内方位元素和几何畸变。本发明方法仅需要改变测试设备的光源,测试工具和平台可以通用,具有很好的是适应性,是一种通用性较强的测试方法。

    一种降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量系统及方法

    公开(公告)号:CN116804622A

    公开(公告)日:2023-09-26

    申请号:CN202310755968.4

    申请日:2023-06-26

    摘要: 本发明属于红外成像技术领域,公开了一种降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量系统及方法,利用多个红外光谱仪对不同红外靶标进行辐射能量测量;在利用测量数据分析大气红外透过率过程中,引入环境辐射干扰变量;根据光谱辐射仪工作机理,利用多组测量数据建立方程组,解耦环境辐射干扰变量,分析大气红外透过率,降低环境辐射干扰对大气红外透过率测量结果的影响。本发明在大气红外透过率测量过程中,考虑了天空辐射、太阳直射辐射、大气散射辐射、背景反射辐射等环境辐射对测量结果的影响,并在大气红外透过率分析过程中通过对环境辐射能量解耦,降低环境辐射对大气红外透过率分析结果的干扰,提高了大气红外透过率的测量精度。