柔性薄膜材料共形贴附顺应性分析方法及系统

    公开(公告)号:CN117056995B

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202311282544.7

    申请日:2023-10-07

    Abstract: 本发明公开了柔性薄膜材料共形贴附顺应性分析方法及系统,包括步骤:基于位点标记图案将柔性薄膜材料裁剪为初始图形;将裁剪后的柔性薄膜材料在目标表面工件的目标图形区域中共形贴附;获取位点标记图案之间的距离、柔性薄膜材料上位点标记图案共形贴附前后的距离场分布;计算得到实验测量的初始图形和目标图形之间的测量共形映射关系;得到描述共形顺应性的拟合函数模型中滑动项系数值与黏附项系数值;建立共形贴附场景下初始图形和目标图形之间的模拟共形映射关系,进行共形贴附顺应性能否实现的定量判断,基于模拟共形映射关系对共形贴附顺应性状态描述。本申请能够对柔性薄膜材料共形贴附顺应性进行分析模拟,指导柔性电子器件的设计制造。

    柔性薄膜材料共形贴附顺应性分析方法及系统

    公开(公告)号:CN117056995A

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202311282544.7

    申请日:2023-10-07

    Abstract: 本发明公开了柔性薄膜材料共形贴附顺应性分析方法及系统,包括步骤:基于位点标记图案将柔性薄膜材料裁剪为初始图形;将裁剪后的柔性薄膜材料在目标表面工件的目标图形区域中共形贴附;获取位点标记图案之间的距离、柔性薄膜材料上位点标记图案共形贴附前后的距离场分布;计算得到实验测量的初始图形和目标图形之间的测量共形映射关系;得到描述共形顺应性的拟合函数模型中滑动项系数值与黏附项系数值;建立共形贴附场景下初始图形和目标图形之间的模拟共形映射关系,进行共形贴附顺应性能否实现的定量判断,基于模拟共形映射关系对共形贴附顺应性状态描述。本申请能够对柔性薄膜材料共形贴附顺应性进行分析模拟,指导柔性电子器件的设计制造。

    一种共光路偏振点衍射同步移相干涉系统及方法

    公开(公告)号:CN114719741A

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN202210273845.2

    申请日:2022-03-19

    Abstract: 本发明一种共光路偏振点衍射同步移相干涉系统及方法,属于光学干涉检测领域;包括沿光路依次设置的测试光路、衍射光路和移相光路;所述测试光路包括沿光路依次设置的He‑Ne激光器、线偏振片、二分之一波片、第一四分之一波片、扩束镜和待测样品,用于获得待测信息;所述衍射光路包括沿光路依次设置的缩束镜、高倍物镜、针孔线偏振点衍射板和第一成像透镜,用于获得参考光与被测光;所述移相光路包括沿光路依次设置的第二四分之一波片、第二成像透镜和阵列式偏振相机,用于实现参考光与被测光之间的空间移相,同时形成四幅干涉图像。本发明测量精度高,结构紧凑,抗干扰性好,可实现动态面型的测量。

    一种基于形状记忆合金的主动变形调控薄膜及其变形调控方法和应用

    公开(公告)号:CN117465106A

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202311221697.0

    申请日:2023-09-21

    Abstract: 本发明公开了一种基于形状记忆合金的主动变形调控薄膜,包括从上到下依次设置的第一弹性薄膜层、形状记忆合金骨架层和第二弹性薄膜层,形状记忆合金骨架层包括多根阵列式分布的形状记忆合金丝,本发明还提供了基于形状记忆合金的主动变形调控薄膜的主动变形调控方法和应用,与现有技术相比,本发明的基于形状记忆合金的主动变形调控薄膜通过形状记忆合金骨架层和柔性薄膜的结构有效的解决了柔性表面大面积主动变形的问题,同时可以实现变形中的任意变形状态的固定,在改变结构刚度的同时,实现了柔性薄膜材料、结构和驱动一体化,具有工程的推广作用,能够应用于复杂形状变形及固定,智能机器人,飞机智能蒙皮等变形调控领域。

    一种共光路偏振点衍射同步移相干涉系统及方法

    公开(公告)号:CN114719741B

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202210273845.2

    申请日:2022-03-19

    Abstract: 本发明一种共光路偏振点衍射同步移相干涉系统及方法,属于光学干涉检测领域;包括沿光路依次设置的测试光路、衍射光路和移相光路;所述测试光路包括沿光路依次设置的He‑Ne激光器、线偏振片、二分之一波片、第一四分之一波片、扩束镜和待测样品,用于获得待测信息;所述衍射光路包括沿光路依次设置的缩束镜、高倍物镜、针孔线偏振点衍射板和第一成像透镜,用于获得参考光与被测光;所述移相光路包括沿光路依次设置的第二四分之一波片、第二成像透镜和阵列式偏振相机,用于实现参考光与被测光之间的空间移相,同时形成四幅干涉图像。本发明测量精度高,结构紧凑,抗干扰性好,可实现动态面型的测量。

    一种含微凸起结构MEMS器件的压膜阻尼计算方法

    公开(公告)号:CN117454592A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311230706.2

    申请日:2023-09-22

    Abstract: 本发明涉及一种含微凸起结构MEMS器件的压膜阻尼计算方法,该方法为:将位于MEMS器件中心位置处的中心凸起表面压膜阻尼力与相同位置不含凸起结构时的压膜阻尼力相减,得到中心凸起对MEMS器件整体压膜阻尼造成的增量,用该增量近似表示平均每个凸起结构产生的压膜阻尼增量,并与MEMS器件所含凸起总数相乘得到所有凸起结构产生的总压膜阻尼增量,将不含任何凸起结构的MEMS器件压膜阻尼与总压膜阻尼增量相加得到含微凸起结构MEMS器件的总压膜阻尼值;该计算方法简单高效,能够在保证计算效率的同时精确计算含微凸起结构MEMS器件的压膜阻尼,精准预测此类MEMS结构的动态性能,大大节省计算时间和设计成本。

    一种含任意数量孔隙结构的MEMS器件的压膜阻尼计算方法

    公开(公告)号:CN117395582A

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202311230661.9

    申请日:2023-09-22

    Abstract: 本发明涉及一种含任意数量孔隙结构的MEMS器件的压膜阻尼计算方法,包括:固定平板上均匀打满孔隙结构时,计算固定平板受到的压膜阻尼力Ff;固定平板上不含任何孔隙结构时,计算固定平板受到的压膜阻尼力Fp;将Ff除以Fp得到归一化后的压膜阻尼力 固定平板上均匀打满孔隙结构时,计算孔隙结构的上孔径面积的总和Sf;将Sf除以固定平板面积Sp得到归一化后的孔径面积的总和 固定平板上打有任意数量n的孔隙结构时,计算孔隙结构的上孔径面积的总和Sn;将Sn除以Sp得到归一化后的孔径面积的总和 计算含任意数量孔隙结构的MEMS器件的压膜阻尼力Fn;该方法弥补了传统含孔隙MEMS器件压膜阻尼计算方法的缺陷,突破了经典理论对孔隙结构数量的限制,极大的提升了理论的应用范围。

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