用于测试微控制器的存储单元的方法

    公开(公告)号:CN107025946A

    公开(公告)日:2017-08-08

    申请号:CN201610870941.X

    申请日:2016-09-30

    CPC classification number: G11C29/12 G11C29/18

    Abstract: 本发明涉及用于测试微控制器的存储单元的方法。本发明涉及一种用于测试微控制器的存储单元的方法,其中,存储单元具有一个或多个内存条、附加内存条和用于执行对所述一个或多个内存条之一的测试的测试单元,其中存储单元拥有至少两个可同时使用的通信信道,用于自由选择地访问一个或多个内存条和附加内存条中的各一个,其中一个或多个内存条中的要测试的内存条的存储内容被写入到附加内存条中,其中测试单元的访问请求被传递给要测试的内存条,并且其中对要测试的内存条的测试由测试单元来执行。

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