检测方法、包括该方法的基板处理方法及基板处理装置

    公开(公告)号:CN103996634A

    公开(公告)日:2014-08-20

    申请号:CN201410054295.0

    申请日:2014-02-18

    Abstract: 半导体制造装置和利用该半导体制造装置的半导体制造方法,具体涉及利用等离子体的基板处理装置和利用该基板处理装置的基板处理方法。根据本发明的一实施例的基板处理方法包括:传送步骤,基板传送到腔体内部的处理空间;夹紧步骤,第1气体供给到上述处理空间并激发为等离子体状态,上述基板固定在支承部件上;基板处理步骤,第2气体供给到上述处理空间并激发为等离子体状态,对上述基板实施利用上述等离子体的工序;以及检测步骤,接受上述腔体内部的光并分析所接受的上述光从而检测上述腔体内部状况,在上述检测步骤中测量上述腔体内部状况,从而决定是否实施上述基板处理步骤。

    夹具及电荷测量方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103713204A

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:CN201310456550.X

    申请日:2013-09-29

    Abstract: 本发明涉及一种夹具。根据本发明的一个实施例的夹具,其为利用等离子体对基板执行等离子体处理的装置中为了测量工艺进行时基板上积累的电荷量而使用的夹具,所述夹具包括:金属材质的底板;从所述底板向上部突出的绝缘层;以及在所述绝缘层的上端提供的金属层。

    等离子体处理装置及方法

    公开(公告)号:CN103715051A

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:CN201310451516.3

    申请日:2013-09-27

    Abstract: 本发明公开了一种等离子处理装置。等离子体处理装置,包括:在内部形成空间的腔室;位于所述腔室内并支承基板的基板支承单元;向所述腔室内供给工艺气体的气体供给单元;位于所述腔室的上部并具有提供从所述工艺气体产生等离子体的电磁波的天线的等离子体源单元;位于所述天线的上部使从所述天线向所述腔室的相反方向提供的电磁波反射到朝向所述腔室的方向的反射板;以及使所述反射板的位置移动的反射板驱动部。

    夹具及电荷测量方法
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103713204B

    公开(公告)日:2017-04-12

    申请号:CN201310456550.X

    申请日:2013-09-29

    Abstract: 本发明涉及一种夹具。根据本发明的一个实施例的夹具,其为利用等离子体对基板执行等离子体处理的装置中为了测量工艺进行时基板上积累的电荷量而使用的夹具,所述夹具包括:金属材质的底板;从所述底板向上部突出的绝缘层;以及在所述绝缘层的上端提供的金属层。

    等离子体处理装置及方法

    公开(公告)号:CN103715051B

    公开(公告)日:2016-09-07

    申请号:CN201310451516.3

    申请日:2013-09-27

    Abstract: 本发明公开了一种等离子处理装置。等离子体处理装置,包括:在内部形成空间的腔室;位于所述腔室内并支承基板的基板支承单元;向所述腔室内供给工艺气体的气体供给单元;位于所述腔室的上部并具有提供从所述工艺气体产生等离子体的电磁波的天线的等离子体源单元;位于所述天线的上部使从所述天线向所述腔室的相反方向提供的电磁波反射到朝向所述腔室的方向的反射板;以及使所述反射板的位置移动的反射板驱动部。

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