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公开(公告)号:CN111723333A
公开(公告)日:2020-09-29
申请号:CN202010597055.0
申请日:2020-06-29
申请人: 泰安晶品新材料科技有限公司
摘要: 本发明涉及一种基于射流断裂法制备BGA锡球的参数推导方法。本发明推导出制备锡球过程中设备的挠动频率、射流压强、射流速度之间的关系,为BGA锡球生产过程提供了理论指导,能够在一定程度上解决BGA球的成球率和直径分布的问题,提高生产BGA锡球的成球率和合格率,为行业的快速发展提供理论依据。
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公开(公告)号:CN111705239A
公开(公告)日:2020-09-25
申请号:CN202010597054.6
申请日:2020-06-29
申请人: 泰安晶品新材料科技有限公司
IPC分类号: C22C13/00 , C22C1/02 , H01L23/498
摘要: 本发明公开了一种集成电路封装用BGA锡球的材料配方及熔炼工艺,包括材料配方中合金成分配比为:96~96.5%锡,3%Ag,0.5%Cu,0.1%~0.5Re。材料配方中添加的保护剂为KCl、LiCl混合保护剂;熔炼工艺具体步骤为:Step.1:一种集成电路封装用BGA锡球的熔炼工艺中合金成分配置;Step.2:一种集成电路封装用BGA锡球的熔炼工艺中称重及熔炼;Step.3:一种集成电路封装用BGA锡球的熔炼工艺添加保护剂;Step.4:熔炼工艺中融化合金及加入稀土;所述Step.4操作:为打开箱式电阻炉并设定温度260度,温度达到后260度后,将坩埚放入箱式电阻炉保温至坩埚内金属完全融化,将称量后的稀土快速加入熔融合金中并用搅拌均匀。Step.5:合金冷却及后处理。
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公开(公告)号:CN111558724A
公开(公告)日:2020-08-21
申请号:CN202010602426.X
申请日:2020-06-29
申请人: 泰安晶品新材料科技有限公司
摘要: 本发明涉及一种基于射流不稳定原理的BGA锡球制备装置及制备工艺。本发明采用射流断裂法,使熔融的金属通过喷嘴产生金属射流,控制流速使射流保持层流状态,以一定频率的机械振动作用于射流,当振动频率、振幅与喷嘴直径等工艺参数相匹配时,射流会断裂为均匀的金属液滴。本发明步骤简单,易于实现自动控制,流程短,生产成本很低,获得的金属颗粒尺寸均匀,真球度高,是最有发展前景的精密焊球产业化制备方法。
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公开(公告)号:CN112362015A
公开(公告)日:2021-02-12
申请号:CN202010595188.4
申请日:2020-06-29
申请人: 泰安晶品新材料科技有限公司
IPC分类号: G01B21/10 , G01B21/20 , G01B15/00 , G01B11/24 , G01N23/2251 , G01N33/2022 , G01N25/00 , G01R31/00 , G01N19/00
摘要: 本发明公开了一种集成电路封装用BGA锡球的检测方法,包括Step.1、Step.2、Step.3、Step.4、Step.5、Step.6和Step.7;所述Step.1中包含锡球球径、真球度、表面质量、静电处理和Ball shear测试;所述Step.1中包含锡球球径、真球度、表面质量、静电处理和Ball shear测试;所述Step.2为直径检测,具体为采用X‑Ray方法测试球径。本发明通过检测锡球直径、真球度、表面质量评定、静电处理、产线导入验证、Ball shear等,检测指标更系统、全面。减少植球过程中出现焊点未焊合、跳球、空洞、焊点偏移等缺陷,全面提高植球后的合格率,使检测后的BGA锡球能适用更高端的封装领域。
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公开(公告)号:CN111723333B
公开(公告)日:2024-08-13
申请号:CN202010597055.0
申请日:2020-06-29
申请人: 泰安晶品新材料科技有限公司
摘要: 本发明涉及一种基于射流断裂法制备BGA锡球的参数推导方法。本发明推导出制备锡球过程中设备的挠动频率、射流压强、射流速度之间的关系,为BGA锡球生产过程提供了理论指导,能够在一定程度上解决BGA球的成球率和直径分布的问题,提高生产BGA锡球的成球率和合格率,为行业的快速发展提供理论依据。
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公开(公告)号:CN112362015B
公开(公告)日:2022-06-21
申请号:CN202010595188.4
申请日:2020-06-29
申请人: 泰安晶品新材料科技有限公司
IPC分类号: G01B21/10 , G01B21/20 , G01B15/00 , G01B11/24 , G01N23/2251 , G01N33/2022 , G01N25/00 , G01R31/00 , G01N19/00
摘要: 本发明公开了一种集成电路封装用BGA锡球的检测方法,包括Step.1、Step.2、Step.3、Step.4、Step.5、Step.6和Step.7;所述Step.1中包含锡球球径、真球度、表面质量、静电处理和Ball shear测试;所述Step.1中包含锡球球径、真球度、表面质量、静电处理和Ball shear测试;所述Step.2为直径检测,具体为采用X‑Ray方法测试球径。本发明通过检测锡球直径、真球度、表面质量评定、静电处理、产线导入验证、Ball shear等,检测指标更系统、全面。减少植球过程中出现焊点未焊合、跳球、空洞、焊点偏移等缺陷,全面提高植球后的合格率,使检测后的BGA锡球能适用更高端的封装领域。
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