一种微电子用Sn58Bi钎料合金微互连焊点的时效强化工艺

    公开(公告)号:CN117066619A

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202310977944.3

    申请日:2023-08-04

    Abstract: 本发明公开一种微电子用Sn58Bi钎料合金微互连焊点的时效强化工艺,采用了时效强化工艺处理手段,通过探索微互连焊点在时效温度和时间变化情况下的力学性能,归纳总结出微互连焊点时效强化的时效温度和时效时间,即微互连焊点在120℃时效300h‑480h后经自然冷却,可得到强度提升的微互连焊点。本发明实现了通过调控微互连焊点中Bi相的存在状态及形态等来提升微互连焊点的剪切强度,为提升工业钎料合金热处理和电子产品可靠性提供参考,同时为电子工业带来更大的经济效益。

    一种柔性电极的封装制备方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118870666A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202410887536.3

    申请日:2024-07-03

    Abstract: 本发明涉及柔性电子技术领域,具体涉及一种柔性电极的封装制备方法,包括:在柔性基底上形成金属电极层;基于光刻封装工艺将保护性绝缘图层涂覆在所述柔性基底和所述金属电极层的金属上,在必要的区域形成金属导电层得到柔性电极的初始封装结构;对所述初始封装结构的焊点处进行曝光,其余部分用不透光的遮挡物盖住;并再次对所述初始封装结构的触点进行曝光,将所述焊点处遮挡住,得到柔性电极,本发明采用的光刻工艺法简单易操作,制备的电极效果良好,本发明通过对电极焊点和触点的两次曝光,解决了传统的封装光刻工艺过程定位不准确的问题。

    一种电流作用下损耗因子测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN113866214A

    公开(公告)日:2021-12-31

    申请号:CN202111113073.8

    申请日:2021-09-23

    Abstract: 本发明公开一种电流作用下损耗因子测试装置及测试方法,包括控温加热炉、计算机、驱动机构、电源、第一铜丝和第二铜丝以及用于夹持试样两端的活动夹具和固定夹具,电源、第一铜丝、试样和第二铜丝形成电回路,用计算机控温加热炉在一定的频率和温度范围进行测试,同时打开电源、冷却气罐和保护气罐,计算机自带数据存储系统可以记录材料的损耗因子随温度的变化。本发明在测量材料的损耗因子随温度变化时引入了电流,实现了材料在电流作用下损耗因子的测量,弥补了以往损耗因子测试装置只能在非电场环境下测材料损耗因子的不足;因此,本发明的提出有一定的科学和工程意义,并且该方法的应用前景较广,实验装置简单,实际操作易于实现。

    一种基于珀尔帖效应的微焊点热迁移装置及其测试方法

    公开(公告)号:CN112540100A

    公开(公告)日:2021-03-23

    申请号:CN202011369727.9

    申请日:2020-11-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于珀尔帖效应的微焊点热迁移装置及其测试方法,通过使用所述致热结构和致冷结构抵持所述试样,装置通电后进行热迁移测试,记录相应温度后使用有限元电热耦合分析,可获取试样焊点的温度梯度,从而获得可靠稳定的微焊点热迁移数据;根据珀尔帖效应改变加载电流控制焊点冷热端的温度差,得到较大的温度梯度;还可以通过控制焊点的高度得到不同的温度梯度;同时外部使用所述加固板组件夹持固定,结构简洁,解决了现有技术中的热迁移装置结构复杂、温度梯度不易控制的技术问题。

    一种阻碍甲酸气氛下锡飘散的方法

    公开(公告)号:CN119372455A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411496706.1

    申请日:2024-10-25

    Abstract: 本发明涉及电子封装与半导体制造技术领域,尤其涉及一种在甲酸气氛下阻止锡飘散的方法。现有技术中,甲酸还原锡的过程中容易生成甲酸锡,并且甲酸锡升华为气相后难以被完全消耗,导致锡元素的飘散和质量损失,进而影响产品质量和生产稳定性。现有的气吹等方法无法有效解决这一问题。本发明通过在反应体系中加入贵金属催化剂,改变化学反应路径,有效阻止甲酸锡的生成,从而减少锡的飘散,提高工艺的稳定性和产品质量,降低生产成本和环境污染。本发明具有简单有效、工艺稳定、环保友好和经济效益显著等优点。

    一种通电下薄膜材料热膨胀系数的测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN113984829B

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202111239076.6

    申请日:2021-10-25

    Abstract: 本发明公开一种通电下薄膜材料热膨胀系数的测试装置及测试方法,包括控温加热炉、底座、固定石英管、活动石英管、活动推杆、自平衡机构、位移传感器、计算机以及用于夹持薄膜材料试样两端的下活动夹具和上活动夹具,电源、第一铜丝、薄膜材料试样和第二铜丝形成电回路,用计算机和控温加热炉在一定的温度范围进行测试,计算机用于显示薄膜材料试样的应变‑温度曲线,通过计算曲线线型段的斜率即可获得其热膨胀系数。本发明可实现对薄膜材料在电流作用下的热膨胀系数进行测量,弥补了现有技术只能在非电场环境下测量薄膜材料热膨胀系数的不足,因此具有一定的工程和科学意义,应用前景广泛,测试装置简单,测试方法易实现。

    一种电流作用下阻尼材料的高温激活能测试方法及蠕变机制预测方法

    公开(公告)号:CN115791427A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211089345.X

    申请日:2022-09-07

    Abstract: 本发明公开了一种电流作用下阻尼材料的高温激活能测试方法及蠕变机制预测方法,高温激活能测试方法包括:将目标阻尼材料制成预设尺寸规格的待测样品;将待测样品安装固定于阻尼材料测试平台上;利用阻尼材料测试平台对待测样品进行电流作用下的阻尼测试,以得到待测样品在一定电流密度和激振频率下随温度变化的阻尼值;基于测试得到的阻尼值利用预先构建的阻尼材料的高温激活能计算模型计算得到一定电流密度下阻尼材料的高温激活能。本发明能够对阻尼材料在一定电流密度、温度、激振频率下的高温激活能进行定量描述,以及对阻尼材料在一定电流密度的电流作用下的蠕变机制进行快速预测。因此,本发明的提出有一定的科学和工程意义。

    一种原位观察微焊点微观组织演化的方法

    公开(公告)号:CN114441585A

    公开(公告)日:2022-05-06

    申请号:CN202111408769.3

    申请日:2021-11-24

    Abstract: 本发明提供一种原位观察微焊点微观组织演化的方法。该方法包括:(1)微焊点制备:制备出不同钎料成分的单个微焊点;(2)使用环氧树脂将其镶嵌固封起来;(3)样品制备:沿微焊点纵截面方向先后进行粗磨、细磨、抛光、腐蚀和清洗;(4)使用光学显微镜或扫描电子显微镜对微焊点进行微观组织观察;(5)在油浴环境下对微焊点进行热时效或者电迁移,使微焊点微观组织发生演化;(6)重复步骤(3)至步骤(5),记录微焊点微观组织的变化过程。本发明实验测试中均使用同一个焊点样品,兼具减少实验步骤、减少实验误差、提高实验可信度的优点,还可以更加直观连续地观察在通电(电迁移)或热时效(老化)等条件下焊点微观结构的演化。

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