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公开(公告)号：CN109657849B
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN201811496041.9
申请日：2018-12-07
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06Q10/04 , G06Q10/0631 , F21V19/00 , F21Y115/10
Abstract: 本发明公开了一种基于网络分析法的LED灯阵列布线方法，能够根据用户的使用要求及使用场所，确定灯具结构和节能等级以及LED灯的型号和LED灯的数量，然后运用网络分析法对灯具的总花费成本进行分析；根据所选灯具结构将灯具结构进行网格化划分，并在网格中通过组合排列产生数组LED阵列坐标；然后通过网络分析模型对每组LED阵列坐标对应的LED阵列的照明均匀性、散热效果、光照强度和最低总花费成本进行权重比例分析，并根据所述权重比例选择出最佳的LED阵列坐标，得到最佳LED灯阵列布线。本发明基于网络分析法，能够针对用户使用需求和使用场所要求，提出一种最佳的LED阵列分布方式，能够为用户自动筛选出一种最佳的LED阵列布线方式。
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公开(公告)号：CN110245386A
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201910415255.7
申请日：2019-05-17
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种功率器件可靠性的评估方法、装置以及存储介质，涉及半导体器件可靠性评估领域，该方法包括以下步骤：获取待评估的功率器件的属性；基于所述功率器件的属性确定研究因子，并根据所述研究因子建立可靠性评估模型；基于所述可靠性评估模型评估所述功率器件的可靠性。同时还提出一种功率器件可靠性的评估装置，以及提出一种计算机可读存储介质用于实现一种功率器件可靠性的评估方法的步骤。本发明使得所述可靠性评估模型能够专注所述研究因子对功率器件的影响进行可靠性评估，能够准确对功率器件的可靠性进行评估。
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公开(公告)号：CN107607581A
公开(公告)日：2018-01-19
申请号：CN201710915217.9
申请日：2017-09-30
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明公开了一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法，其特征在于包括如下步骤：1）取样；2）拆解分组；3）预处理；4）标准样品比热曲线测试；5）试样测试；6）DSC曲线参数计算；7）自由能计算；8）比较判定。这种方法能够快速准确的对LED元器件各部分的稳定性作出判断并对LED元器件的可靠性进行评估，为LED元器件的构件选材提供参考，从而提高产品质量。
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公开(公告)号：CN106097209A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610655666.X
申请日：2016-08-11
Applicant: 桂林电子科技大学
CPC classification number: G06Q50/205 , G09B9/00
Abstract: 本发明公开了一种基于虚拟制造技术的模具成型工艺及模具设计实训教学平台，其特征是，包括教师模块、服务器模块和学生模块，教师模块、服务器模块和学生模块通过网络连接组成一个闭环网络，教师教学通过教师客户端发出指令，学生在学生客户端接收到教学指令，根据自己的时间安排在服务器模块上完成学习内容。这种实训教学平台教学实验过程中无污染、时间成本和经济成本低、不受时间和空间上的限制、可操作性强、适合不同学习成绩的学生自己选择学习内容、并且学生可以进行自我考核，学生由“灌鸭式”被动学习变成自主学习，能为学生提供一种轻松的学习环境条件，提高学生获取知识的效果。
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公开(公告)号：CN107607581B
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201710915217.9
申请日：2017-09-30
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明公开了一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法，其特征在于包括如下步骤：1）取样；2）拆解分组；3）预处理；4）标准样品比热曲线测试；5）试样测试；6）DSC曲线参数计算；7）自由能计算；8）比较判定。这种方法能够快速准确的对LED元器件各部分的稳定性作出判断并对LED元器件的可靠性进行评估，为LED元器件的构件选材提供参考，从而提高产品质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106051486A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610516183.1
申请日：2016-08-19
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: F21K9/20 , F21V29/85 , F21V29/70 , F21Y115/10 , F21Y105/18
Abstract: 本发明公开了基于石墨烯热整流材料的大功率LED灯具散热装置及灯具，所述散热装置包括散热腔，与现有技术不同的是，所述散热腔的内壁设有细管，所述细管的外壁附有石墨烯热整流材料层。所述石墨烯热整流材料层表面设有保护膜层。所述灯具包括LED芯片、驱动电源、灯口、散热腔、PCB板和灯罩，与现有技术不同的是，所述散热腔的内壁设有细管，所述细管的外壁附有石墨烯热整流材料层；所述散热腔的一端与灯口套接，PCB板设置在散热腔的另一端，灯罩罩在PCB板上；LED芯片设置在PCB板上。这种灯具散热装置散热能力强、成本低；这种灯具质量轻、使用寿命长，可实现标准化的批量生产，同时具有节能、环保的优点。
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公开(公告)号：CN103292982A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310219602.1
申请日：2013-06-05
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明的基于步进应力的LED灯具的加速退化试验方法，是在LED灯具分解为LED光源子系统、驱动子系统和接口夹具子系统3个功能独立的子系统的基础上，分别对目标子系统进行分离式的加速试验，包含如下步骤：1）对LED灯具光源子系统进行步进应力的加速退化试验，得到正常应力水平下的失效概率密度函数；2）确定另外两个子系统的标称失效概率密度函数；测量LED整体灯具稳定工作时另外两个子系统的实际工作温度，得到另外两个子系统在各自实际工作环境下的失效概率密度函数；3）采用可靠性统计分析方法推导出整个LED灯具的可靠度分布函数，进而实现LED灯具系统的加速退化试验评估。该方法能有效地缩短加速评估周期，减小试验成本。
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公开(公告)号：CN119740358A
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202411722688.4
申请日：2024-11-28
Applicant: 南宁桂电电子科技研究院有限公司 , 桂林电子科技大学
IPC: G06F30/20 , G01R31/26 , G06F119/04
Abstract: 本发明提供一种IGBT寿命预测方法、装置、系统以及存储介质，属于器件预测技术领域，方法包括：对原始IGBT器件老化历史数据点的预处理得到预处理后IGBT器件老化历史数据点；通过预处理后IGBT器件老化历史数据点构建IGBT退化模型；通过IGBT退化模型、预警阈值以及预处理后IGBT器件老化历史数据点对待预测IGBT器件数据点的预测分析得到IGBT寿命预测结果。本发明有效地弥补了粒子滤波中的粒子退化的缺陷，进而提高了IGBT寿命预测的精度，极大地提高了IGBT寿命预测的准确性。
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公开(公告)号：CN106615032A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611232479.7
申请日：2016-12-28
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: A23B4/07
CPC classification number: A23B4/07
Abstract: 本发明公开了一种肉类解冻装置，其特征是，包括开口带活动盖子的加热仓和转动电机，所述的加热仓内设有带密封盖子的解冻转筒，解冻转筒和加热仓形成的夹层间注入水，解冻转筒的底部设有加热装置，解冻转筒和加热仓的开口均朝上，解冻转筒与转动电机连接。这种装置针对家庭需求，体积小、成本低、实用性强，易清洗、能双重快速智能解冻。
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