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公开(公告)号：CN119740358A
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202411722688.4
申请日：2024-11-28
Applicant: 南宁桂电电子科技研究院有限公司 , 桂林电子科技大学
IPC: G06F30/20 , G01R31/26 , G06F119/04
Abstract: 本发明提供一种IGBT寿命预测方法、装置、系统以及存储介质，属于器件预测技术领域，方法包括：对原始IGBT器件老化历史数据点的预处理得到预处理后IGBT器件老化历史数据点；通过预处理后IGBT器件老化历史数据点构建IGBT退化模型；通过IGBT退化模型、预警阈值以及预处理后IGBT器件老化历史数据点对待预测IGBT器件数据点的预测分析得到IGBT寿命预测结果。本发明有效地弥补了粒子滤波中的粒子退化的缺陷，进而提高了IGBT寿命预测的精度，极大地提高了IGBT寿命预测的准确性。
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